开关电源的检测之常规功能测试

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时间:2019-03-04

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1、开关电源的检测之常规功能测试一、输出电压调整:当制造开关电源时,第一个测试步骤为将输出电压调整至规格范围内。此步骤完成后才能确保后续的规格能够符合。通常,当调整输出电压时,将输入交流电压设定为正常值(115Vac或230Vac),并且将输出电流设定为正常值或满载电流,然後以数字电压表测量电源供应器的输出电压值并调整其电位器(VR)直到电压读值位於要求之范围内。二、电源调整率:电源调整率的定义为电源供应器於输入电压变化时提供其稳定输出电压的能力。此项测试系用来验证电源供应器在最恶劣之电源电压环境下,如夏天之中午(因气温高,用电需求量最大)其电源电压最低;又如冬天之晚上(因气温低,用电需求量最

2、小)其电源电压最高。在前述之两个极端下验证电源供应器之输出电源之稳定度是否合乎需求之规格。为精确测量电源调整率,需要下列之设备:·能提供可变电压能力的电源,至少能提供待测电源供应器的最低到最高之输入电压范围,(KIKUSUIPCR系列电源能提供0--300VAC5-1000Hz的稳定交流电源,0---400VDC的直流电源)。·一个均方根值交流电压表来测量输入电源电压,众多的数字功率计能精确计量VAWPF。·一个精密直流电压表,具备至少高於待测物调整率十倍以上,一般应用5位以上高精度数字表。·连接至待测物输出的可变电子负载。*测试步骤如下:於待测电源供应器以正常输入电压及负载状况下热机稳定

3、後,分别於低输入电压(Min),正常输入电压(Normal),及高输入电压(Max)下测量并记录其输出电压值。电源调整率通常以一正常之固定负载(NominalLoad)下,由输入电压变化所造成其输出电压偏差率(deviation)的百分比,如下列公式所示:V0(max)-V0(min)/V0(normal)电源调整率亦可用下列方式表示之:於输入电压变化下,其输出电压之偏差量须於规定之上下限范围内,即输出电压之上下限绝对值以内。 三、负载调整率:负载调整率的定义为开关电源於输出负载电流变化时,提供其稳定输出电压的能力。此项测试系用来验证电源在最恶劣之负载环境下,如个人电脑内装置最少之外设卡且

4、硬盘均不动作(因负载最少,用电需求量最小)其负载电流最低和个人电脑内装置最多之外设卡且硬盘在动作(因负载最多,用电需求量最大)其负载电流最高的两个极端下验证电源供应器之输出电源之稳定度是否合乎需求之规格。*所需的设备和连接与电源调整率相似,唯一不同的是需要精密的电流表与待测电源供应器的输出串联。示:测试步骤如下:於待测电源供应器以正常输入电压及负载状况下热机稳定後,测量正常负载下之输出电压值,再分别於轻载(Min)、重载(Max)负载下,测量并记录其输出电压值(分别为Vmax与Vmin),负载调整率通常以正常之固定输入电压下,由负载电流变化所造成其输出电压偏差率的百分比,如下列公式所示:V

5、0(max)-V0(min)/V0(normal)负载调整率亦可用下列方式表示:於输出负载电流变化下,其输出电压之偏差量须於规定之上下限电压范围内,即输出电压之上下限绝对值以内。 四、综合调整率:综合调整率的定义为电源供应器於输入电压与输出负载电流变化时,提供其稳定输出电压的能力。这是电源调整率与负载调整率的综合,此项测试系为上述电源调整率与负载调整率的综合,可提供对电源供应器於改变输入电压与负载状况下更正确的性能验证。综合调整率用下列方式表示:於输入电压与输出负载电流变化下,其输出电压之偏差量须於规定之上下限电压范围内(即输出电压之上下限绝对值以内)或某一百分比界限内。五、输出杂讯(PA

6、RD):输出杂讯(PARD)系指於输入电压与输出负载电流均不变的情况下,其平均直流输出电压上的周期性与随机性偏差量的电压值。输出杂讯是表示在经过稳压及滤波後的直流输出电压上所有不需要的交流和噪声部份(包含低频之50/60Hz电源倍频信号、高於20KHz之高频切换信号及其谐波,再与其他之随机性信号所组成)),通常以mVp-p峰对峰值电压为单位来表示。一般的开关电源的规格均以输出直流输出电压的1%以内为输出杂讯之规格,其频宽为20Hz到20MHz(或其他更高之频宽如100MHz等)。开关电源实际工作时最恶劣的状况(如输出负载电流最大、输入电源电压最低等),若电源供应器在恶劣环境状况下,其输出直

7、流电压加上杂讯後之输出瞬时电压,仍能够维持稳定的输出电压不超过输出高低电压界限情形,否则将可能会导致电源电压超过或低於逻辑电路(如TTL电路)之承受电源电压而误动作,进一步造成死机现象。例如:5V输出,其输出杂讯要求为50mV以内(此时包含电源调整率、负载调整率、动态负载等其他所有变动,其输出瞬时电压应介於4.75V至5.25V之间,才不致引起TTL逻辑电路之误动作)。在测量输出杂讯时,电子负载的PARD必须比待测之电源

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