lattice1032实验连线

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1、Lattice1032实验连线(适用5208K)软件基本实验连线实验一3×8译码器33→K1;34→K2;35→K3;36→K8;10~3→L1~L8（发光二极管）实验二编码器的设计30→AN0；（接下降沿脉冲，使能端，高电平有效）34~41→K1~K8；（接拔动开关，表示输入信号）10~8→L1~L3；（接发光二极管，表示输出信号的变化）实验三数码转换（二~十进制）及显示20（CP1）→31.25KHZ;34→K1；35→K2；36→>K3；37→K4；（K1~K4为逻辑拔动开关，表示四位二进制输入）PI01(11~18)→JLED（a~g）;PI02(45

2、~52)→JS(7~0);（数码管的公共端）SW3、SW4开关→OFF位置；拔动逻辑开关K1~K4，输入不同的二进制数，观察数码管的对应输出是否为相应的十进制BCD码。实验四算术运算（4位全加器的设计）34~41→K1~K8；（K1~K4表示加数A，K5~K8表示被加数B，由高位到低位）31→AN1；（AN1单脉冲输入，表示进位位）10~7→L1~L4；（L1~L4为发光二极管，表示相加之和BCDout）5→L6；（L6为发光二极管，表示相加之后产生的进位）改变输入端的值，观察输出端的变化。实验五　四位并行乘法器34~41→K1~K8；（K1~K4表示4乘数，

3、K5~K8表示4位被乘数）10~3→L1~L8；（L1~L8为发光极管，表示相乘之积）实验六存储器设计（SRAM）34~41→K1~K8；（K1~K4表示4位地址信号，K5~K8表示4位数据输入信号）27→AN1；“”（CS片选信号，低电平有效）28→AN2；“”（WR数据锁存写入控制信号，低电平有效）29→AN3；“”（RD读信号，低电平有效）10~7→L1~L4；（发光二极管，表示4位数据输出）注：实验时，按动K1~K8输入确定地址和输入数据，然后按动一次AN2表示写入信号，再按动一下AN3读出数据，通过发光二极管表示出来。但然也可以先把十六个地址中都写入

4、数据，然后只要输入数据地址，按动一次AN3，即可读出相应存储单元的内容。实验七设计基本触发器（D，JK）（1）D触发器20（CP1）→4KHZ；（CLK时钟信号）34→K1；（D触发器输入端）10→L1；（D触发器输出端）（2）JK触发器18→4HZ；（CLK时钟信号）34~35→K1~K2；（K1，K2分别表示J，K输入端）37~38→K7~K8；（K7，K8分别表示CLR，PSET复位）10~9→L1~L2；（发光管L1，L2分别表示JK触发器输出端Q，QB）实验八74LS160计数器功能模块20（CP1）→1HZ；（表示计数器工作时钟信号）34~41→K

5、1~K8；（K1~K4表示4位可预置数据输入端D3~D0;K5~K8分别表示CLR，P，T，LD四个控制端口）10~7→L1~L4；（发光二极管L1~L4表示4个计数输出端Q3~Q0）6→L6；（发光二极管L6表示一个进位输出端）注：实验时，可根据74LS160的工作模式功能表，通过改变控制端和预置端的信号来观察计数器输出端的变化。实验九状态机电路设计20（CP1）→1HZ；（表示状态机工作时钟信号）34→K1；（K1表示状态机输入信号）10→L1；（发光二极管L1表示状态机的输出信号）8~5→L5~L8；（发光二极管L5~L8分别表示状态当前工作的状态（S3

6、~S0））注：对照状态图改变状态机的输入信号，观察状态机的输出及状态变化。实验十可控脉冲发生器20（CP1）→8HZ；（可根据需要接不同的系统工作频率，脉冲输出频率为系统工作频率的一半）34~41→K1~K8；（K1～K4为输入预制脉冲个数的十位（BCD玛）K5～K8为输入预制脉冲个数的个位（BCD玛）但此实验输入预制值最大不能超99。）30→AN1；“”（启动发送按钮）JX32→JX38；（显示预置数初值，并随着启动按钮按下后，开始递减）JX31→JX40；（显示接收的脉冲数，并随着启动按钮按下后，开始递增）10→L1；（发光二极管L1接脉冲输出，低频时可观

7、察到频率的变化）实验十一占空比可调信号发生器20（CP1）→4MHZ；（用于信号分频和系统工作时钟）34→K1;(K1表示信号kadd,按下K1不放，占空比循环递增)35→K2;(K2表示信号ksub,按下K2不放，占空比循环递减)37~39→k6~k8；(k6~k8用于选择不同的输出频率信号)10→示波器；（10脚为可调占空比输出，低频时也可接发光二极管观察）注：实验时可选择不同的频率信号，改变信号占比，用示波器观察可调占空比信号的变化。实验十二高精度频率计设计27→被测频率输入端；34→4HZ；（基准时钟CLK）35→1KHZ；（数码管动态显示扫描频率CL

8、KSAO）JX31→JS；（数码管公共