细菌群趋药性算法在电气设备缺陷参数红外识别中的应用

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1、万方数据第28卷第30期2008年10月25卜]中国电机工程学报ProceedingsoftheCSEEV01．28No．30OCt．25．200801(J()8ChinSoc．forElec．Eng．13文章编号：0258—8013(2008)30—0113—06中图分类号：TN219文献标识码：A学科分类号：470．40细菌群趋药性算法在电气设备缺陷参数红外识别中的应用寇蔚，孙丰瑞，杨立(海军工程大学船舶与动力学院，+湖北省武汉市430033)ApplicationofBacterialColonyChemot

2、axisOptimizationAlgorithminInfraredIdentificationofParametersofDefectinElectricApparatusKOUWei，SUNFeng—rui，YANGLi(CollegeofNavalArchitectureandPower．NavalUniversityofEngineering，Wuhan430033，HubeiProvince，China)ABSTRACT：Thequantitativeinfraredidentificationofpa

3、rametersofdefectinelectricapparatususingthesurfacetemperatureprofilewasconsideredasastructuredesignoptimizationproblem．Abacterialcolonychemotaxis(BCC)optimizationalgorithmandaradialbasisfunctionneuralnetwork(RBFNN)wereintroducedintosolvingthisproblem，thenasimp

4、lebutcompletemultidisciplinarydesignoptimizationframeworkwasconstructedfofthesakeofgeneralityandflexibility．TheRBFNNwasapreciseandconvenientsurrogatemodelforthetimecostlyfiniteelementcomputation．andt11edifferencebetweentheobtainedthesurfacetemperaturewithdiffe

5、rentdefectparametersandthetargetsurfacetemperatureprofilewastheobjectivefunctionoftheBCCoptimizationalgorithm．ThismethodwasappliedtOasimpleverificationcaseandtheresultisquiteacceptable．TheBCCalgorithmwasalsocomparedwiththepanicleswal-moptimizationalgorithm，and

6、theresultsshowthattheformercanaccesstheoptimumwithfasterspeed．KEYWoRDS：bacterialcolonychemotaxisalgorithm；defect；identification；infrared；inverseheattransferproblem；multidisciplinarydesignoptimization摘要：将电气设备零件缺陷参数的红外定量识别视为某种形式的结构设计优化问题，引入细荫群趋药性优化算法和径向基函数神经网络，搭

7、建了一个简单而完整、通用灵活的多学科设计优化框架对该问题进行求解。其中径向基函数神经网络作为代理模型．精度较高、计算速度较快，可简化复杂、费时的有限元计算以得到不同缺陷参数条件下零件表面的温度场：将该温度场与目标温度场之间的差异作为目标函数，以细菌群趋药性优化算法进行缺陷参数的定量识别。该基金项目：总装“十一．五”装备维修改革基金项目(KY38010914)。方法在一个简单的三维夹杂犁缺陷参数的红外识别算例中取得了满意的结果，与粒子群优化算法相比，可以更快地接近优化解。关键词：细菌群趋药性算法；缺陷；识别：红外；传

8、热反问题；多学科设计优化O引言在电气设备所发生的各类故障中，除在长期运行中因化学、电、热或机械等原因逐步引起的设备老化或失效外，还有不少设备故障是由于所用材料或零件本身存在内部缺陷所致。缺陷故障通常是所有其它故障的原因，也通常是其他所有故障产生的最终表现形式。因此，检测与诊断m设备的缺陷故障，具有极为重要的意义和极高的应用价值¨。J。基于红外热像的缺陷枪测与