欢迎来到天天文库
浏览记录
ID:34440963
大小:671.38 KB
页数:23页
时间:2019-03-06
《s08_04_freescale hcs08单片机复位与中断【freescale 单片机原理及应用】new》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在教育资源-天天文库。
1、Freescale单片机原理及应用FreescaleHCS08单片机复位与中断Copyright©YangMing.2010.ElectronicsandInformationEngineeringDepartmentofHuazhongUniversityofScienceandTechnologyWuhan,Hubei430074,P.R.ChinaFreescaleHCS08单片机复位与中断••ContentsandObjectives:ContentsandObjectives了解S08系列MCU的1+6种复位源理解复位通用效果理解各种复位源产生条件、后果理解
2、COP原理了解S08系列MCU的中断源理解中断模型、中断过程、中断复位向量掌握IRQ模块原理,学会中断程序设计进一步认识“对MCU外部管脚/内部模块的控制正是通过Regs的控制来实现”Slide1Copyright©YangMing.2010.ElectronicsandInformationEngineeringDepartmentofHuazhongUniversityofScienceandTechnologyWuhan,Hubei430074,P.R.China4.1复位种类及复位效果•AW60具有1种外部复位IRQ管脚复位•AW60具有6种内部复位上电复
3、位POR(Power-onreset)看门狗复位(COP,Computeroperatingproperly)低电压检测复位(LVD,Lowvoltagedetection)非法操作码复位背景调试强制复位时钟发生器时钟失锁和时钟丢失复位Slide2Copyright©YangMing.2010.ElectronicsandInformationEngineeringDepartmentofHuazhongUniversityofScienceandTechnologyWuhan,Hubei430074,P.R.China4.1复位种类及复位效果•复位效果所有的复位源
4、都会自动产生下列效果:立即停止指令的继续执行;把众多控制和状态寄存器重新进行初始化;程序计数器PC从复位向量($FFFE:$FFFF)处载入地址值;禁止片内外围模块;初始化I/O管脚为不带上拉电阻的通用高阻抗输入管脚;设置CCR中的I位为1,禁止所有中断;初始化SP为$00FF;选定fSelf_reset频率约8MHz作为CPU频率,而总线频率约为4MHz(内部总线的频率是ICG频率的一半);RESET管脚变低34个总线周期后被释放并被内部上拉电阻拉为高电平。Slide3Copyright©YangMing.2010.ElectronicsandInform
5、ationEngineeringDepartmentofHuazhongUniversityofScienceandTechnologyWuhan,Hubei430074,P.R.China4.1复位种类及复位效果•复位状态寄存器除了背景调试强制复位,每一个复位源在系统复位状态寄存器SRS(SystemResetStatusRegister)中都有一个对应的状态位,当发生复位时,SRS中相应的状态位变为1。Slide4Copyright©YangMing.2010.ElectronicsandInformationEngineeringDepartmentofHuazhong
6、UniversityofScienceandTechnologyWuhan,Hubei430074,P.R.China4.2COP复位•COP原理HCS08系列MCU内部的看门狗(COP,Computeroperatingproperly)实质上是一个计数器,它从0开始对总线时钟BUSCLK脉冲进行加1计数,即每一个BUSCLK脉冲,COP计数器加1,当COP计数器计满213个或218个BUSCLK脉冲,就会产生COP复位,使得MCU重新开始执行程序。如果在COP计数器计满213个或218个BUSCLK脉冲之前,通过STASRS指令周期性地清零COP计数器,那么就不会产生
7、COP复位。也就是说,如果在用户程序中周期性地执行STASRS指令,并且执行周期小于213个或218个BUSCLK脉冲周期,那么只要用户程序正常运行,COP就不会复位,而一旦由于外界干扰使得用户程序“跑飞”,那么经过213个或218个BUSCLK周期,就会产生COP复位使得系统重新开始运行程序。Slide5Copyright©YangMing.2010.ElectronicsandInformationEngineeringDepartmentofHuazhongUniversityofScience
此文档下载收益归作者所有