波长色散型x射线荧光光谱仪wdxrf

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1、波长色散型X射线荧光光谱仪（WDXRF）注：本文以下描述中，“*”表示为关键项目。一、供货要求：1.功能要求仪器采用当前最先进的技术，能够精确地对土壤及水系沉积物常见固体及粉末样品等进行元素定性定量分析，测试元素范围从O-U元素。2.仪器包括。X射线发生器及固态高频发生器，一套；长寿命陶瓷X光管；高精密测角仪，一套：数字或光学定位，无齿轮；高灵敏度探测器，一套；真空系统，一套；准直器，至少4个；滤光片，至少6个；分光晶体至少5块晶体；进样系统，一套；粉尘收集系统，一套；100位以上位自动进样器，包含至少20个样品盒或者样品杯及配件；计算机控制系统，一套；数据处理软件、相

2、关应用软件，一套；无标样定量分析软件（必须提供至少10块工厂漂移校正样）一套；配套辅助设备（稳压电源带延时，水冷机，压片机，减压阀），一套。*3.仪器型号必须为进口的生产厂家的最新款仪器型号波长色散X射线荧光光谱仪。二、主要技术参数部分1.X射线光源1.1X射线发生器部分1.1.1最大输出功率：≥4.0kW1.1.2额定电压：不小于60kV1.1.3额定电流：不小于140mA1.2X射线光管部分*1.2.1X射线光管：Rh靶，陶瓷端窗X光管，不低于4.2kW，（需提供生产厂家盖章的部件功能证明材料）。1.2.2带有X光管防护罩，方便拆卸（需提供生产厂家盖章的部件功能证明

3、材料）。1.2.3铍窗厚度：≤50μm。1.2.4样品激发距离：≤16mm。1.2.5光管为美欧知名厂商生产，提供品牌，稳定性好，无衰减；光管头冷却回路，灯丝特殊表面处理，无挥发。*1.2.6照射方式：下照射方式，即样品在X射线光管上方。1.3固态高频发生器：外电压波动1%，输出电压的稳定性为±0.00005%,保证测试高精度。2.测角仪部分：2.1驱动方式：θ-2θ分别驱动；2.2定位方式：数字或光学定位，测角仪需无齿轮，无机械磨损；2.3最大定位转速：≥2400°/min；2.4角度重现性：优于±0.0001°；2.5扫描方式：连续扫描，扫描速度可调；3.探测器部分

4、：配置两个探测器；3.1探测器类型：流气正比计数器、闪烁计数器；3.2最大线性计数：流气正比计数器≥2000kCPS；闪烁计数器≥1500kCPS；3.3非线性度：从0到最大计数率范围内偏差不大于1%；3.4死时间修正：电脑自动处理，具有自动灵敏度控制功能；3.5探测器并联：两个计数器平行放置，全部在光谱室内。4.光路部分4.1配备滤光片数量≥6片。4.2初级准直器：程序控制，自动切换，配置至少4个准直器。4.3晶体选择：要求有比较先进的技术，以充分保证轻元素的检出能力。4.4最多可安装至少8块晶体。至少配置5块晶体，高强度覆盖从O-U元素分析。4.5每块晶体可单独加热

5、控温，且晶体面积大于17cm2。（需提供生产厂家盖章的部件功能证明材料）。4.6温度稳定性：整个光谱室温度稳定在±0.01℃；单独每块晶体温度稳定性在±0.01℃。（需提供生产厂家盖章的部件功能证明材料）。5.样品台：5.1样品种类：固体、粉末压片等。5.2配备双位置进样系统：第一个样品在分析状态时，第二个样品即进入预抽真空室进行预抽真空；待第一个样品分析完成退出时，第二个样品随即进入分析位置（需提供生产厂家盖章的部件功能证明材料）。*5.3配备粉尘收集系统：在预抽真空室下方，收集粉尘，可完全避免粉尘或液体对X射线管Be窗及光谱室的污染，可清洁和更换设计（需提供生产厂家

6、盖章的部件功能证明材料）。5.5配置一个带传感器（非软件设置）的优先进样位。5.6配置100位以上全自动进样器,并包含一个紧急样品位，配套至少包含20套样品盒或者样品杯的进样附件。6.仪器控制和数据采集系统6.1计算机：四核主频3.2GHz以上，8G内存，1TB硬盘，DVD-RW，液晶显示器，网卡。6.2仪器控制和数据采集软件。7.应用软件：要求提供以下应用分析软件7.1分析帮助专家软件系统：能够根据仪器的配置提供被选择元素的最佳分析参数；用最佳的谱线和分析参数进行被选择元素的快速扫描；用最佳谱线和分析参数进行被选择元素的能量描迹；它可以根据灵敏度、所选择的元素和可能的

7、谱线重叠，用最佳元素线和分析参数建立分析程序等。7.2无标样定量分析软件：必须配备能实现各种基体样品分析的无标样软件，该软件要求在无标样的情况下可顺利完成各类样品中的元素定量分析；必须匹配工厂校准。可分析所有类型的大块样品、液体样品及不规则形状的小样品等。可实现背景、光谱线交迭、光谱线干扰、基体效应、物理效应、矿物效应的多重校正。必须提供至少10块工厂漂移校正样，用以维护曲线的长期稳定性。8.配套辅助设备8.1稳压电源：15KVA，带延时。8.2循环水冷系统：满足相应系统连续满功率运行，制冷量不少于8KW。8.3压片机：带PVC模具一套。