td-lte基站射频测试步骤详解

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1、TD-LTE基站射频测试操作说明第一部分TX测试一、TX测试连接图Note:衰减为输出功率2.5倍以上，此处选择30dB。10MH参考线时钟线reference接BBU针孔　，10毫秒trigger接B板最右边网口。二、仪表等附件内容频谱分析仪(AgilentMXASignalAnalyzerN9020A,10Hz~13.6GHz),30dB衰减，SystemDCPower7Supply(AgilentN5747A/60V/12.5A/750W)，VGA信号源。LTENEM，SecureCRT。三、NEM操作

2、系统配置四、频谱仪选键设置Step1.选择LTE模式，PressMode,LTETDD.Step2.频点设置FREQChannelStep3.频点补偿设置Input/Output,ExternalGain,BTSStep4.下行模式设置ModeSetup,Radio,DirectiontobeDownlink.Step5.链路配置设ModeSetup,Radio,ULDLAlloc,Config3；DW/GP/UpLen,More,Config8.Step6.时间门限设置Sweep/control,Gate,

3、GateDelay=5ms,GateLength=6.8msStep7.带宽设置Modesetup,PrestToStandard=10/20MHzStep8.触发方式设置Trigger,External1/2配置完后频谱分析仪显示如下：五、下行发射项测试操作步骤1.输出功率OutputPower测试项选择Meas---Channelpower测试模式E-TM1.1Note:查看ChannelPower值，(10W标准值40dBm)。测试结果：在正常测试环境下，测量出的基站最大输出功率应在制造商给出的基站额定

4、输出功率的+2.7dB和–2.7dB范围内。2.ACLR邻道泄漏功率比RBW=100KHz测试项选择Meas---ACP测试模式E-TM1.1/1.2Note:查看dBc测试结果：限值是44.2dBE-UTRA发射信号信道带宽BWChannel[MHz]基站相邻信道中心频率与第一个或最后一个发射载波中心频率的偏移量假定的相邻信道载波(资料性)在相邻信道频率上的滤波器及相应滤波器带宽ACLR限值10、15（可选）、20BWChannel相同带宽的E-UTRA信号方形滤波器(BWConfig)44.2dB2xBW

5、Channel相同带宽的E-UTRA信号方形滤波器(BWConfig)44.2dB3.占用带宽OccupiedBandwidth测试项选择Meas---OccupiedBW测试模式E-TM1.1频谱仪SPAN设置：ChannelbandwidthBWChannel[MHz]1.435101520>20Span[MHz]101010203040Minimumnumberofmeasurementpoints1429667400400400400Note:查看OccupiedBandwidth值测试结果：每个E-

6、UTRA载波占用带宽小于等于信道带宽。ChannelbandwidthBWChannel[MHz]1.435101520TransmissionbandwidthconfigurationNRB6152550751004.频谱发射模版SpuriousEmissionMask测试项选择Meas---SpuriousEmissionMask测试模式E-TM1.1Note:查看peak两侧对应lower和upperlim(dB)：黄色频谱超出蓝色模版曲线的dB值。测试结果：测量滤波器-3dB点频率偏移,Df测量滤波

7、器中心频点频率偏移,f_offset最大电平值测量带宽0MHz<=Df<5MHz0.05MHz<=f_offset<5.05MHz-5.5dBm-(f_offset/MHz-0.05).7/5dB100kHz5MHz<=Df

8、-More---ModulationAnalysisInput/Output--page2—FreqRefIn—ExternalModesetup—Sync/Formatsetup—CellID(auto)测试模式E-TM2.0/3.1/3.2/3.3Note:查看FreqErr值测试结果：FERR:-0.05ppm-12Hz～+0.05ppm+12HzEVM:Modulationschemefor