lte芯片外场测试研究

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1、工程硕士学位论文LTE芯片外场测试研究作者姓名陈晟工程领域软件工程校内指导教师陆璐教授校外指导教师卢智星高级工程师所在学院软件学院论文提交日期2016年10月13日ResearchonfieldtestforLTEchipADissertationSubmittedfortheDegreeofMasterCandidate：ChenShengSupervisor：Prof.LuLuSeniorEngineer.LuZhiXingSouthChinaUniversityofTechnologyGuangzhou,China分类号：TP3学校代号：10561学号：2

2、01320701718华南理工大学硕士学位论文LTE芯片外场测试研究作者姓名：陈晟指导教师姓名、职称：陆璐教授卢智星高级工程师申请学位级别：工程硕士工程领域名称：软件工程论文形式：□产品研发□工程设计√应用研究□工程/项目管理□调研报告研究方向：IT项目管理论文ᨀ交日期：2016年10月13日论文答辩日期：2016年12月3日学位授予单位：华南理工大学学位授予日期：年月日答辩委员会成员：主席：王振宇委员：张平健汤德佑朱映波黄敏摘要LTE已在中国正式商用，随着网络覆盖的普及，LTE终端将迎来一个爆发期。由于市场需求，LTE芯片不断推陈出新，研发周期和测试周期不断缩

3、短。在这种形势下，要保证芯片投入市场后的性能和稳定，必须经过大量的、严格的、严谨的测试。而外场测试（即现网测试）作为芯片投入市场的最后一道检验程序则显得尤为重要。本文以中国移动通信网络为场景，以高通芯片及测试软件为平台，设计一套面向LTE芯片的外场测试用例，ᨀ供给外场测试人员进行针对LTE通信芯片的外场测试，用以检验芯片的各项功能及性能和稳定性，以保证在芯片正常投入市场。本文首先对国内运营商目前的网络状况进行分析研究，根据网络实际ᨀ出测试需求。再对传统的测试方法进行分析，根据网络实际优化、补充测试方法，形成完整的测试用例。测试用例包含四个部分：⑴功能性测试检验芯

4、片的各项基本通信功能的运作及解码；⑵性能及稳定性测试检验芯片各项性能指标以及在大量或长时间的测试环境下的稳定性；⑶针对2G/3G/4G网络间的异系统互操作测试；⑷不同PLMN间的漫游测试。最后结合实际工作运用该测试用例，验证用例的可执行性和有效性。关键词：芯片测试，外场测试，测试用例，LTEIABSTRACTLTEhasbeencommerciallylaunchedinChina.Alongwiththepopularityofnetworkcoverage,LTEterminalwillusherinanoutbreakperiod.Duetomarketd

5、emand,LTEchiphasgonethroughcontinuousinnovationprocess,anditsR&Dcycleandtestcyclecontinuetoshorten.Inthissituation,inordertoensurethatthechiphasastableperformanceinthemarketplace,wemustgothroughalotofstrictandrigoroustesting.Therefore,FieldTest(i.e.NetworkTest)isespeciallyimportant,a

6、sitisthelastinspectionprocedurebeforethechipsareputonthemarket.Inthispaper,theauthorwilldesignafieldtestforLTEchip,whichusesQualcommchipandtestsoftwareasplatforminaChinaMobilecommunicationsnetworkscenario.Thisfieldtestwillhelptestertotestthefunction,capacityandstabilityofthechip,soas

7、toensurethatthechipcansuccessfullyenterthemarket.Firstly,thispaperwillanalyzethecurrentnetworkstatusofthedomesticcarriers,andproposetestingrequirementsaccordingtotheperformanceofthenetwork.Secondly,theauthorwilldevelopacompletetestusingnetworkoptimizationmethodandtraditionaltestmetho

8、d.Thetestcon