CPK原理及在Minitab中的应用

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1、CPK原理及在Minitab中的应用什么是Cpk?Cpk的定义：制程能力指數；Cpk的意义：制程水准的量化反映;用一个数值来表达制程的水准;(1)只有制程能力强的制程才可能生产出质量好、可靠性水平高的产品﹔(2)制程能力指数是一种表示制程水平高低的方便方法，其实质作用是反映制程合格率的高低。和Cpk相关的几个重要概念1单边规格：只有规格上限和规格中心或只有下限或规格中心的规格;如考试成绩不得低于80分，或浮高不得超过0.5mm等；此時數據越接近上限或下限越好﹔双边规格：有上下限與中心值,而上下限與中心值對稱的规格；此时数据越接近中心值越好；如D854前加工脚长规格2.8±0.2mm;U

2、SL(Upperspecificationlimit):即規格上限LSL(Lowspecificationlimit):即規格下限C：规格中心X=(X1+X2+……+Xn)/n平均值(n為樣本數)T=USL-LSL規格公差n-1(X1-X)2+(X2-X)2+……+(Xn-X)2δ=和Cpk相关的几个重要概念2Ca:制程准确度;(CapabilityofAccuracy)Ca在衡量“實際平均值“與“規格中心值”之一致性;对于单边规格，不存在规格中心，因此也就不存在Ca;对于双边规格，2/TCXCa=什么是Ca?Ca等级评定及处理原则Cp:制程精密度(CapabilityofPrecis

3、ion)Cp衡量的是“規格公差寬度”與“製程變異寬度”之比例;对于只有规格上限和规格中心的规格：对于只有规格下限和规格中心的规格：对于双边规格：6sUSL-LSLCp=3sUSL-XCpu=3sXCpl=LSL什么是Cp?Cp等级评定及处理原则Cpk=Cp*(1-Ca);Cpk≦Cp;Cpk是Cp和Ck的綜合表現﹔Cpk的計算公式製程能力靶心圖.............Ca好﹐Cp差Cp好﹐Ca差Cpk好﹔...........Cpk等級評定及處理原則Cpk和制程良率換算Cpk的計算實例1某工序的規格要求為10±0.1mm,實際測出50個樣本值如下﹐計算出該工序的Cpk;X=10.03

4、6;s=0.027;Ca=(x-C)/(T/2)=(10.036-10)/0.1=0.36;Cp=(10+0.1-(10-0.1))/(6*0.027)=1.239;Cpk=Cpx(1-Ca)=1.239x(1-0.36)=0.793;Cpk的計算實例2總結CPK在MINITAB中的应用在应用MINITAB进行过程能力分析之前，先要判定所分析的数据是否服从正态分布，然后再判断其是否稳定。否则所做的CPK没有任何意义。（但这不是绝对的标准）。如何判断是否服从正态分布就产线组装段测得Gap值来举例，以下是产线测得的ALGtop与baseGap的30个数据0.10.10.20.050.10.

5、050.050.150.050.050.10.30.10.10.050.050.050.050.050.250.050.050.20.050.050.10.050.10.050.05启动MINITAB打开一个工作表1.选择File→openworksheet2.在查找范围一栏选表格保存的地址，在文件类型一栏选Excel（*xls）3.选择ALGCPKform，点击打开。4.Excel表格在MINITAB中打开后，重新再打开一个worksheet表格选择File→New，在New对话框中选择minitabworksheet，然后点击OK。5.点击Gapmeasure表格，选中所要选的30

6、个gap值并将其复制到新建的worksheet中。6.Stat→BasicStatistics→GraphicalSummary7.在variables中键入C1，点击OKP-Value小于0.05，则说明不是正态分布就机构方面测量上下盖的Gap值不符合正态分布，我们分析一下其原因，可能是因为上盖和下盖本身尺寸就不符合正态分布，所以组成整机后就不符合正态分布了。所以对于机构Team的人，以后试产机种在pilotrun前先要要求产线帮我们量一些重点尺寸（一定数量），我们要指定一个人去量，并亲自确认他们的量测手法是否正确，量测时并一一标号，然后分别对所量的上盖和下盖尺寸检验其是否符合正态分

7、布？（如果还是不符合正态分布，可能就要考虑是否是量测手法或是材料尺寸本身出了问题。）组装时也要指定哪个人要做什么动作，这都要固定。然后再去按所标的号去量手机的GAP值（同样是一个固定的人），如果前面的准备工作都做好，那所量出来的数据应该是满足正态分布的，然后再去算CPK值。若计算出来的CPK值不理想，比如小于1，那我们就要进行具体的分析（看组装手法是否正确或是其他一些问题了。若不是正态分布，做CPK就没有意义了。此时需要我们去分析为什么不是正态