微机电系统基础与应用Lecture3_4

微机电系统基础与应用Lecture3_4

ID:37506327

大小:2.31 MB

页数:96页

时间:2019-05-24

微机电系统基础与应用Lecture3_4_第1页
微机电系统基础与应用Lecture3_4_第2页
微机电系统基础与应用Lecture3_4_第3页
微机电系统基础与应用Lecture3_4_第4页
微机电系统基础与应用Lecture3_4_第5页
资源描述:

《微机电系统基础与应用Lecture3_4》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库

1、《微机电系统基础与应用》讲稿Lecture3讲授:甘志银编制:甘志银ganzhiyin@gmail.com1、集成电路与微系统:(1)整个项目流程比较;(2)工艺的比较;(3)MEMS典型器件2、微系统中的材料;3、光刻工艺;4、体加工工艺;5、LIGA工艺;6、平面加工工艺;(1)薄膜沉积与薄膜刻蚀;(2)典型3D结构的工艺事例MUMPS工厂与设计规则;(3)关于牺牲层工艺其他问题的讨论;体加工回顾体加工与各种可能的结构表面牺牲层工艺1)悬臂梁的如何制作?2)表面牺牲层工艺给MEMS提供了更丰富的内容悬臂梁制作牺牲层

2、结构层牺牲层刻蚀平面牺牲层工艺发展简介1965年,HarveyNathanson与WilliamNewell制作的振动栅极三极1984Howe和Miller在气体传感器中制作悬臂梁振荡器1988年:制作出薄膜弹簧、齿轮、静电马达等1989年:制作出横向梳状驱动器1991年:制作出多晶硅铰链1992年:MCNC开始提供Fundry服务1、集成电路与微系统:(1)整个项目流程比较;(2)工艺的比较;(3)MEMS典型器件2、微系统中的材料;3、光刻工艺;4、体加工工艺;5、LIGA工艺;6、平面加工工艺;(1)

3、薄膜沉积与薄膜刻蚀;(2)典型3D结构的工艺事例MUMPS工厂与设计规则;(3)关于牺牲层工艺其他问题的讨论;结构层-多晶硅在表面工艺中关键的是结构层的制备、结构层的材料的选择,目前大多数采用的是多晶硅(Poly)作为结构层,多晶硅的特性:断裂强度为:2-3GPa,而不锈钢只有0.2-1GPa;杨式模量(Y’dYoung’smoudllus)140-190GPa;有延展性:最大应变-0.5%;不容易疲劳;与IC加工工艺兼容;常用的牺牲层材料有SiO2与Si3N4;横向振荡器薄膜沉积技术化学气相沉积:多晶硅(P

4、oly)SiO2/PSG/BPSGSi3N4/SixNx高温氧化:SiO2物理气相沉积:蒸发各种金属溅射金属或介质材料。化学气相沉积的基本原理气体流过热的固体表面形成薄膜;气体的平均分子自由程影响气体的扩散与粒子的迁移率;化学反应的能量可以通过热量或等离子方式提供;气体分子的平均自由程定义:气体分子在相继两次碰撞之间依惯性运动所经过的路程,称为自由程;自由程的统计平均值称为平均分子自由程;11kTkmiij21i[[(1())nj]2222nddP1mj276060oTorr40

5、nm0.76Torr40um767.6mTorr4mm7.6uTorr4m几种典型的CVD设备APCVD100-760Torr350-400℃LPCVD100-500mTorr500—800℃PECVD2-5TorrPlasma+300-400℃实际LPCVD设备工作菜单CVD的膜层均匀性与台阶覆盖沉积的粒子的能量与迁移率影响薄膜的台阶覆盖性;a)粒子的迁移率与能量大,台阶覆盖比较好;b)c)粒子的能量比较小,台阶覆盖比较差,薄膜的沉积与气体沉积的方向与角度有关;LPCVD-多晶硅用途:多晶硅在IC里作短程的电性

6、连接;LPCVD配置:1)硅烷(SiH4或SiH2Cl2)在高温下分解;2)温度:500-700℃;3)压力:100mTorr;4)在630℃,沉积速率10nm/min70010nm/min,700℃时70nm/min;多晶硅沉积在深宽比10以下时,能保证膜层比较均匀;大的应力(500MPa)与应力梯度;掺杂多晶硅掺杂多晶硅有三种方法:Instu方法:1)在沉积多晶硅的同时,加入1%体积的PH3或B2H6;2)掺杂气体会影响沉积速率,对于N型掺杂,沉积速率下降;对于P型掺杂,沉积速率上升;3)掺杂浓度为1020/c

7、m3,同时电阻能达到1-10mΩ/cm;4)掺杂的多晶硅也存在较大应力(500MPa)。扩散的方法:1)使用PSG-Poly-PSG层;2)900-1000℃,数小时;3)能重掺杂,电阻能达到0.1mΩ/cm;离子注入方法:采用粒子注入的方法,能准确地引入说需要的掺杂浓度,同时,对材料会造成一定的损伤。膜层存在很大的应力(500MPa)残余应力残余应力的产生1)膜层生长过程(不均衡等);2)热应力:热膨胀系数不匹配;压应力与拉应力应力梯度在沉积薄膜时,不仅存在应力,而且在Z方向上存在应力梯度,薄膜会产生向上或向下

8、的弯曲。多晶硅应力当沉积温度<600℃时,沉积是不定型硅产生拉应力,使得基底向上弯曲;沉积温度>600℃时,在界面处的晶粒向垂直方向生长产生压应力,使得基底向下弯曲;残余应力对器件的功能的影响314EtWy24rtWf0325MLML控制残余应力的方法在900-1150℃下高温退火;晶粒的

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。