SPC及CPK培训

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1、SPC&CPK知识培训朗能电子科技有限公司验证科2010.6.10SPC简介起源SPC(StatisticalProcessControl)统计过程控制：利用数理统计技术对过程中的各个阶段进行监控，从而得到保证产品质量的目的.二十世纪二十年代美国休哈特(W.A.Shewhart)首创过程控制(ProcessControl)理论及其监控过程的工具—控制图(ControlChart)形成SPC的基础，后扩展到任何可以应用的数理统计方法.控制图(ControlChart)：对过程质量特性记录评估，以监测过程是否处于受控状态的一种统计方法图.1931年休哈特出版了其代表

2、作<产品质量的经济控制>标志统计过程控制时代的开始.SPC统计过程控制SPC统计过程控制:应用统计技术对过程中的各个阶段进行评估和监控,建立并保持过程处于可接受的并且稳定的水平,利用控制图分析过程的稳定性,对过程存在的异常因素进行预测.计算过程能力指数(CPK)分析稳定的过程能力满足技术要求的程度,对过程质量进行评估.SPC统计数据分布和类型数值分布(distribution)：用来描述随机现象的统计规律，可用概率密度函数来描述.两个参量：变异的幅度有多大；出现这么大幅度的概率.计量特性值：指可以连续取值的数据,通常是用测量仪器和测量工具取得，等连续性数据，最常

3、见的是正态分布(normaldistribution,,—连续性随机变量的机率分布).计数特性值：指不能连续取值，只能以自然数表示的数据。最常见的是二项分布(binomialdistribution,n,p—为对立事件状态的机率分布).计点特性值：如每块PCB板上少锡点(空焊)数等离散性数据，最常见的是泊松分布(Poissondistribution,n大,p小—小概率事件机率分布).SPC统计数据产品质量特性定性定量连续离散计量值计数值计点值SPCSPC常规休哈特控制图数据特征分布控制图简记备注计量值正态分布均值—极差控制图X-R常用均值—标准差控制图X-

4、S中位值—极差控制图X-R单值—移动极差控制图X-Rs计数值二项分布不合格品率控制图p常用不合格品数控制图np计点值泊松分布单位不合格数控制图u不合格数控制图c常用过程中的变异因素产品质量控制过程从产品质量影响程度来分,可将影响因素分为偶然因素与异常因素.偶因是过程固有的,始终存在,对质量的影响较小,但较难以根除.异因则非过程固有,有时存在,有时不存在,对质量影响大,但不难消除.偶因引起质量的偶然波动.异因引起质量的异常波动.受控稳态：是指过程中只有偶因而无异因受控的稳定状态.过程中的变异统计规律性产品质量具有变异性影响质量的因素6MMan:人Machine:机

5、Material:料Method:法Mother-nature:环Measurement:测产品质量的变异具有统计规律性确定性现象,确定性规律：在一定条件下,必然发生或不可能发生的事情.随机现象,统计规律：在一定条件下事件可能发生也可能不发生的现象。如我们无法确定个体性能出现机率是如何,但大量统计数据可以证明总体的可能性为多少.过程中的变异误差与精度误差=X-X0偶然性误差：误差大小和方向的变化是随机的.系统性误差：误差大小和方向的变化保持不变或按一定规律变化.过程控制中常用精度这个概念来反映质量的波动(变异)程度.精度精度可分为：准确度(Accuracy)：

6、反映系统误差的影响程度精密度(Precision)：反映偶然误差的影响程度精确度(Uncertainty)：反映系统误差和偶然误差综合的影响程度精度的概念准确度好精密度好系统误差小偶然误差小准确度差精密度高系统误差大偶然误差小准确度高精密度差系统误差小偶然误差大准确度差精密度差系统误差大偶然误差大SPC中的正态分布正态分布是一条计量值分布概率密度函数曲线，其中有两个参数描述其特征：平均值(average):标准差(standarddeviation):-3σ-2σ-1σµ1σ2σ3σ99.73%99.00%95.45%95.00%68.26%50.00%机率

7、分布µ±0.67σµ±1σµ±1.96σµ±2σµ±2.58σµ±3σ正态分布平均值与标准差正态分布平均值与标准差的关系平均值与标准差是相互独立的。无论平均值如何变化都不会改变正态分布的形状，即标准差；无论标准差如何变化，也不会影响数据的对称中心，即平均值.平均值对正态的曲线的影响平均值的大小会直接关系到曲线数据分布中心位置.标准差对正态曲线的影响若标准差越大，则数据分布越分散，波动范围大.若标准差越小，则数据分布越集中，波动范围小.可以定义:平均值为位参量,标准差为形参量.正态分布的变异时间特性值不变倾向性变化时间特性值不变无

8、规律变化时间特性值规律