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1、CPK：ComplexProcessCapabilityindex的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。 制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。 制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度，以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上，作为制程持续改善的依据。 当我们的产品通过了GageR&R的测试之后，我们即可开始Cpk值的测试。 CPK值越大表示品质越佳。 CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s）） Cpk——过程能力指数 CPK=Min[(USL-Mu)/3s,(Mu-LSL)/3s] Cpk应用讲议 1.Cpk的中文
2、定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。 2.同Cpk息息相关的两个参数：Ca,Cp. Ca:制程准确度。Cp:制程精密度。 3.Cpk,Ca,Cp三者的关系：Cpk=Cp*(1-｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势) 4.当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。 5.计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。 6.计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利
3、计算其值。 7.首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u).规格公差＝规格上限－规格下限；规格中心值＝（规格上限+规格下限）/2； 8.依据公式：Ca=(X-U)/(T/2)，计算出制程准确度：Ca值 9.依据公式：Cp=T/6，计算出制程精密度：Cp值 10.依据公式：Cpk=Cp(1-
4、Ca
5、)，计算出制程能力指数：Cpk值 11.Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策） A++级Cpk≥2.0特优可考虑成本的降低 A+级2.0＞Cpk≥1.67优应当保持之 A级1.67＞
6、Cpk≥1.33良能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级 B级1.33＞Cpk≥1.0一般状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为A级 C级1.0＞Cpk≥0.67差制程不良较多，必须提升其能力 D级0.67＞Cpk不可接受其能力太差，应考虑重新整改设计制程。“西格玛”是希腊字母，也有念作“西玛”“希玛”等各种读法，符号是∑,英文译音是Sigma,表示数学中的求和号，是数学中常用的符号，主要用于求多项数的和，用∑表示。 ∑下面的小字,如i=1表示从i=1开始求和 上面的小字，如n表示求和到n为止 比如下面写i=1，上面写n，后面写xi(i
7、是下角标) 表示从x1+x2+…+xn 比如下面写i=5，上面写n，后面写xi(i是下角标) 表示从x5+x6+…+xn Sigma（大写Σ，小写σ），是第十八个希腊字母。在希腊语中，若果一个单字的最末一个字母是小写sigma，要把该字母写成Sigma的小写另一种。在现代的希腊数字代表6。 大写Σ用于： 数学上的总和符号 小写σ用于： 化学上的一种共价键，σ键。 统计学上的标准差 西里尔字母的С及拉丁字母的S都是由Sigma演变而成。STDEV 基于样本估算标准偏差。标准偏差反映数值相对于平均值(mean)的离散程度。编辑本段语法 常使用与SPC控制手法中作为一个整
8、体参考值 STDEV(number1,number2,...) Number1,number2,...是对应于总体中的样本的1到30个数字参数。编辑本段说明 忽略逻辑值（TRUE和FALSE）和文本。如果不能忽略逻辑值和文本，请使用STDEVA函数。 STDEV假设其参数是总体中的样本。如果数据代表整个样本总体，则应使用函数STDEVP来计算标准偏差。 此处标准偏差的计算使用“无偏差”或“n-1”方法。 · STDEV的计算公式如下： 编辑本段示例 假设有10件工具在制造过程中是由同一台机器制造出来的，并取样为随机样本进行断裂强度测量。 St1St2St3St
9、4St5St6St7St8St9St10公式说明（结果）1345130113681322131013701318135013031299=STDEV([St1],[St2],[St3],[St4],[St5],[St6],[St7],[St8],[St9],[St10])断裂强度的标准偏差(27.46391572)CPK计算公式！大家都知道CPK的计算公式！CPK＝(１－
10、Ca
11、)*CpCa很好求，但是Cp里面的一个参数不是很了解，
