《halt现场培训教材》ppt课件

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1、HALT/HASS技术什么是HALT?HALT是一种采用步进方式施加应力的工序,在产品设计阶段可以完成:确定产品的操作极限暴露产品的设计缺陷鉴别低品质的元器件HALT(HighlyAcceleratedLifeTest)HALT是一种发现缺陷的工序HALT不是一种合格/不合格的测试HALT是由一系列的试验组成的HALT有多种运行方式HALT可以扩大产品的操作极限和破坏极限HALT(HighlyAcceleratedLifeTest)HALT的目的快速发现产品的裕度快速找出产品的失效模式和产品的薄弱环节评估和改善产品的设计HALTBenefitsHALT的利益

2、是什么?利用HALT,制造商可以在最短的时间内以最低的成本生产出“国际质量水准”的产品。改善产品的操作极限、破坏极限和出厂后的产品的可靠性。以最快的速度和最低的成本将设计问题和元器件问题在样机阶段充分暴露并得以纠正。获得HASS的试验参数值供产品批量生产时使用。BenefitsofHALTHistogram操作极限越高则产品对生产工艺的离散性的要求就越低。-60-50-40-30-20-100102030405060708090100110120130OLLDLUDLTempC设计样机1样机2批试生产HALTVibrationHistogramO.L.D.L

3、.2520151050设计样机1样机2批试生产3035404550你知道产品的设计余量(Margin)吗?Stress低操作限高操作限高破坏限低破坏限产品规格你知道产品的设计余量(Margin)吗?StressMarginOperatingDestructMarginMarginOperatingDestructMargin低破坏限低操作限高操作限高破坏限产品规格HALT试验是否可能预测产品的MTBF?—不可以。我们没法知道加速因子,试验时间又很短等…但是该试验旨在提高MTBF值。为什么要把产品放在一种在使用中不可能遇到的应力条件下进行试验?—HALT试验为

4、的是发现将来使用中会出现的失效故障。—通过提升产品的操作极限从而提高产品的可靠性。HALT试验中的两个最常见的问题决定可用的样品数建议3-6个完整的备份组件决定附加应力开关机测试输入电压变化测试负载变化测试频率变化测试HALT试验的准备工作HALT试验的准备工作确定合适的热电偶放置点和电压监测点制作一副适合被试产品的试验夹具。将被试产品分解成子部件进行试验。决定HALT测试时,所要执行的功能测试.监测的参数测试方法及相关的仪器建立测试计划低温测试(ColdTest)高温试验(HotTest)温度冲击(ThermalShock)振动(Vibration)温度和

5、振动的组合(Combinedtemperatureandvibration)HALT中要进行的试验项目HALT试验中温度的应力步长低温应力步长10℃/步高温应力步长10℃/步增加电源开关、电压拉偏等手段,以发现更多的失效,电压拉偏的试验要超出技术指标以暴露设计问题。HALTTemperatureStepStressesFigure1Thermalstepstresstestaccompaniedbyproductpowercycling.低温应力:+20ºC开始,10ºC为步长.持续到发现操作极限与破坏极限.施加产品指定应力功能测试与量测(如果电路中有温度保

6、护装置,先确认其操作正常,然后直至使其失效,找出产品真正的操作与破坏极限.)低温应力低温应力故障模式:需执行故障排除。元器件故障,原因不明。电路设计因素。2个样品之间有非常大的极限差异,原因不明。元器件不良。高温应力高温应力:+30ºC开始,10ºC为步长,持续到发现操作极限与破坏极限.施加产品指定应力功能测试与量测(如果电路中有温度保护装置,先确认其操作正常,然后直至使其失效,找出产品真正的操作与破坏极限.)oC高温应力故障模式:需执行故障排除。元器件故障,原因不明。电路设计因素。机壳变形。元器件不良。HALT热冲击试验HALT热冲击试验实例:五个热冲击循

7、环,温度变化速率50℃/min(或更大)注重产品的澎胀系数试验HALTSampleThermalShockProfileFigure2ThermalShockTestOperatinglimits+85and-45快速温变温度变化尽可能以箱子所能达到的最大温变率执行.以温度阶应力所达到的操作界限减少5°C为温度变化的上下限.一般执行5个周期施加产品指定应力功能测试与量测oC快速温变应力故障模式:需执行故障排除。元器件故障,原因不明。间歇性零件。零件龟裂。连接器脱离电路板。电子元器件的潜在故障一般在20Hz~3KHz的振动频率范围内即可暴露。潜在故障是指产品中

8、的缺陷,目前存在但不会马上显现出来。如:虚焊点HAL

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