各向异性磁电阻的测量

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1、各向异性磁电阻的测量摘要:本文记述了各向异性磁电阻测量实验的基本原理、操作内容。计算了材料的值,简单探讨了温度对于磁电阻的影响,并对实验改进提出一些看法。关键词:磁电阻热效应一,磁电阻测量基本介绍1.1实验原理材料的磁电阻和其在磁场中的磁化方向有关,即磁阻值是其磁化方向与电流方向之间夹角的函数。外加磁场方向与电流方向的夹角不同,饱和磁化时电阻率不一样,通常取外磁场方向与电流方向平行和垂直两种情况测量AMR。即有:若退磁状态下磁畴是各向同性分布的,畴壁散射变化对磁电阻的贡献较小,将之忽略,通常取:然而对于大多数材料,故:AMR定义为:

2、如果,则说明该样品在退磁状态下有磁畴结构,即磁畴分布非完全各项同性。图(1)是曾用作磁盘读出磁头和磁场传感器材料的Ni81Fe19的磁电阻曲线,很明显ρ∥>ρ(0),ρ⊥<ρ(0),各向异性明显。图中的双峰是材料的磁滞引起的。图2是一些铁磁金属与合金薄膜的各向异性磁电阻曲线。1.2实验仪器亥姆霍兹线圈、大功率恒流电源、大功率扫描电源、精密恒流源、数字万用表二,实验数据记录与处理:2.1,分别算出垂直与平行条件下各电流对应的磁电阻,并分别作出图像如图1、2所示:图1图22.2,图像分析与AMR计算a,如图中显示,利用得到的数据,考虑到

3、科学计数的有效位数,对应较小电流值都为2位有效数字,所以分别得到垂直与平行下的均值:=0.89Ω,=0.90Ωb,如图看到,磁电阻曲线并非闭合,在6.00--6.00-6.00电流变化后,垂直和平行状态下磁电阻在6.00是电阻分别是:0.873,0.8770.925,0.930(单位:Ω,保留三位有效数字)这里我们明显的看到温度对于磁电阻的影响;也可以也测:磁电阻随温度的升高而升高。c,如图中分别得到垂直与平行条件下6.00与-6.00的电阻数据,得到:利用下面公式得到:=1/3(+2)=0.89(4)Ω=1/3(+2)=0.89(

4、3)Ω这里我们看到,如严格按照有效数字要求:得到:=0.063=6.3%三,实验讨论与注意事项:1,对于磁性薄膜材料“随衬底温度的升高,晶粒明显长大,膜内的缺陷和应力显著减小,而且增强了薄膜晶粒的[111]择优取向。结果表明,薄膜电阻率显著减小,而磁电阻显著增大。”基片温度对坡莫合金薄膜结构和磁电阻的影响,王风平等,发光学报,2003,8,所以不宜对薄膜材料加过高的电压、电阻,并且应该尽量控制测量时间;2,设想能否将薄膜材料至于某一特定温度之下,如某种恒温绝缘液体,这样可以有效减小温度对实验结果的影响;3,亥姆霍兹线圈中通的电流比较

5、大,因而不能长时间让线圈工作在强电流下,以免烧毁线圈。同时关于线圈我们面临的问题是:a,实验中,我们无法验证线圈产生的磁场是均匀的,是随着电流的变化均匀改变的;b,实验中我们发现一个问题,各仪器线圈处于室内相同高度并且取向相同,不可避免各个线圈存在磁场外溢所造成的现象,显然实验的条件、仪器的分布仍有待改进;4,在记录过程中,在样品电压变化缓慢的区域,线圈电流可以变化的快一些,在样品电压变化快的区域,线圈电流要缓慢变化。总之应首先在前人的经验基础上对峰值的出现有一个大致的预测,在接近峰值的电压处做到小心、谨慎。以免造成重做乃至提升温度

6、对薄膜磁电阻造成影响。四,实验思考:(1)测量AMR后计算出的是否相同,如不同说明什么问题?答:从本实验结果来看,=1/3(+2)=0.89(4)Ω=1/3(+2)=0.89(3)Ω若按照实验有效数字要求即保留两位有效数字,,都为0.89Ω,如果考虑保留至3位有效数字,则会出现较小的偏差。这表明该样品在退磁状态下磁畴的分布是各向同性的,反之如果不相同则说明退磁状态下磁畴的分布是各向异性的。(2)测量中如何减小热效应对测量的影响?答:1,减小测量的周期,测量周期越长,温差越大,对测量的影响就越大,所以在实验中注意提升效率,在关键点出格

7、外小心,减少失误;同时我们可以改用自动测量的方法,这样可以省去读数记数的时间;2,采用降温的方法,有一种可行的方法就是用气冷,或者绝缘液冷,这样使样品保持一定温度。(3)样品夹具采用的材料有何要求?答:1,绝缘材料,表面光滑不对材料造成损伤;2,不能是铁磁或亚铁磁性的材料,最好选用抗磁材料;3,如果考虑散热的话,应有较大表面积和较好的散热性。五,参考文献:[1]近代物理实验(第二版).黄润生,沙振舜,唐涛.南京大学出版社.2008.4[2]基片温度对坡莫合金薄膜结构和磁电阻的影响,王风平等,发光学报,2003,8[3]探针技术测量薄

8、层电阻的原理及应用,刘新福,孙以材,刘东升,半导体技术第29卷第7期附录:(实验数据以及R值得计算)垂直平行I/AU/mVR/ΩI/AU/mVR/Ω6.005.2400.8735.995.5520.9255.495.2420.8735

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