高精度微弱电容检测系统的设计_张印强

高精度微弱电容检测系统的设计_张印强

ID:41404545

大小:833.59 KB

页数:4页

时间:2019-08-24

高精度微弱电容检测系统的设计_张印强_第1页
高精度微弱电容检测系统的设计_张印强_第2页
高精度微弱电容检测系统的设计_张印强_第3页
高精度微弱电容检测系统的设计_张印强_第4页
资源描述:

《高精度微弱电容检测系统的设计_张印强》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库

1、计算机测量与控制.2012.20(12)自动化测试技术ComputerMeasurement&Control·3207·文章编号:1671-4598(2012)12-3207-03中图分类号:TP273文献标识码:A高精度微弱电容检测系统的设计张印强,杨道业(南京工业大学自动化与电气工程学院,南京210009)摘要:针对微弱电容信号的检测问题,提出了一种基于FPGA和数字解调的高精度微弱电容检测系

2、统;通过硬件设计和软件设计,实现了由电源电路、C/V转换电路、FPGA电路、A/D转换电路等组成的高精度电容检测系统;阐述了利用载波调制进行微弱电容检测的原理和系统硬件电路的实现方案,并给出了基于cordic算法的载波生成、数字解调和AD采样控制在FPGA中的具体实现;实际运行表明,该检测系统的电容检测分辨率可达到5fF,具有精度高及抗干扰能力强等优点。关键词:微弱电容检测;数字解调;AD7767;FPGA;CORDIC算法DesignofHighPrecisionMeasuringSystemfor

3、WeakCapacitanceZhangYinqiang,YangDaoye(CollegeofAutomationandElectronicEngineering,NanjingUniversityoftechnology,Nanjing210009,China)Abstract:Forthemeasurementofweaksignalincapacitancemeasuringsystem,amicrocapacitancemeasuringsystembasedonFPGAanddigital

4、demodulationwasproposed.Throughhardwareandsoftwaredesign,akindofhighprecisioncapacitancemeasuringsystemcom-posedofpowercircuit,capacitance/voltageconvertingcircuit,FPGAandA/Dconvertingcircuitwaspresented.Thetheoryofweakcapaci-tancemeasurementbasedoncarr

5、iermodulationandthehardwaredesignwereanalyzed.TheimplementationofasinusoidalcarriersignalbasedontheCORDICalgorithm,digitaldemodulationandthecontrolmentoftheADwerealsodiscussed.Thepracticeshowsthatthecapac-itancemeasurementresolutionis5fFandthesystemhast

6、hehighprecisionandreliability.Keywords:capacitancemeasurement;FPGA;ADS1278;dataacquisition;CORDICalgorithm0引言电容传感器广泛用于多种检测系统,可测量浓度、压力、[1]。在角速度、加速度等物理量,其测量精度高,响应速度快硅微惯性器件中,常采用电容传感器来检测加速度和角速度。通常情况下其检测电容在10-12F,检测电容的变化范围为-1510F级,有用输出信号非常微弱,如何提高测量灵敏度和[2]。目前

7、常用的微弱信号检测信噪比成为微弱电容检测的关键方法主要有直流充/放电法、交流法、有源差分法、高压交流图1变间距式梳齿电容结构图[3]。本系统利用载波调制和相敏解双边激励法及相干检测法等为h,重叠部分长度为l0,重叠面积A为h×l0,初始距离为调实现微弱电容的检测。d0,介质常数ε,则电容计算表达式为:本文讨论了一种采用FPGA实现的数字解调型高精度微zAzhl0弱电容检测系统,它具有载波稳定度高、抗干扰性强及精度高C0==(1)d0d0的特点。该系统利用CORDIC算法实现载波信号的生成,数当质量块沿

8、垂直方向移动位移Δd时,C1的电容随Δd的字解调的误差小,比传统的模拟检测系统有更高的稳定性和减小而增大,C2的电容随Δd的增大而减小。当Δd/d0远小精度。于1时,电容的变化量为:1硅微惯性器件的电容结构11硅微惯性器件的电容结构形式一般分为平板式与梳齿电容烄-烌Δd(2)ΔC=C0ΔdΔd≈2C01-1+d0式,由于梳齿电容的静态电容比平板电容要大几倍至十几倍,烆d0d0烎其应用较多。2电容检测系统的整体结构图1为变间距式差动梳齿示意图,可动质量块的

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。