DAS-1000A直流断路器安秒特性测试仪使用操作方法

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1、第四章：试验接线方法图1接线示意图第五章:面板结构图图2面板结构图第六章：使用操作方法1、开机使用开机处于“欢迎界面”，如图3：直流空开测试仪安秒动作试验通流不动作试验欢迎您使用仪器2010年07月12日13时17分11秒图3欢迎界面根据键盘的示图4,按上f、下（、左一,右一可以切换“安秒动作试验”或“通流不动作试验”图4键盘界面选中试验方式后，按确定可以进入主界面，如图5:电流A倍数10.04.0010.01.00时间mS试验时刻163R°0100710-5l:0fi16392010-07-1212:06:31►结果显示区共008条6条/页谢002页第008条

2、怒定电浅010.0A电G4.«CrUttBfRi9：9S►设看数据区H信息显示区I►试验操作区试鲨图5主界面结果显示区：以表格方式显示试验结果，标题栏为额定电流、电流倍数、试验时间、开始试验时刻。屮间为试验记录，可以存200条。底下为记录显示汇总，有试验记录条数、6条每页，光标所在哪一页，光标选择第几条。按上t、下（键可以移动选择，选中记录加粗显示。设置数据区：设置试验中需要的参数数据额定电流为宜流断路器的额定电流电流倍数为相对额定电流的倍数试验时间为电流输出的最长时间。试验操作区：按左一,右一键选择清除、设置、试验。2、设置参数在主界而上，选屮“设置”，然后按

3、确定后进入设置界而，如图6:电流A倍数时间mS试验时刻10.04.0016382010-07-1210:54:0610.04.0016392010-07-1212:06:31共008条6条/页第002页第008条额定电流：01O.OA电流倍数：04.00试验时间：9.9S清除设置试验图6设置界面按左一,右-＞时切换光标移动位置，按上f、下！吋更改光标位置数据的值。光标位置和设置的数值全部可以自动循环，前且在使用吋有默认的标准值。如果所有的参数都设置完成，按取消退出设置冋到主界面开始状态。3、清除与打印按上f、下（键可以移动选择试验记录，按左一、右一键切换光标移动

4、位置到“清除”，按“确定”将删除光标选择的试验记录。按上f、下！键可以移动选择试验记录，按“打印”可以打印输出选择的试验记录。4、安秒动作试验试验前检查：接地检查一一请检验仪器是否可靠接地。断路器检查一一直流断路器是否断开其它的电气连接，是否已经合闸。连接检查——本装置输出的是0-500A的直流电流，务必把每一接触点接牢扭紧。试验过程：首先设置额定电流、电流倍数、试验时间。输出电流二额定电流X电流倍数不能超过500,试验时间不超过9.9S。接着选中“试验”后按确定,选择“开始”后按确定将输出电流，如图7:电流A倍数时间mS试验时刻10.04.0016382010

5、-07-1210:54:0610.04.0016392010-07-1212:06:31共008条6条/页第002页第008条额定电流：010.0A电流倍数:04.00试验时间:9.9S请合上空开!开始返回清除设置试验图7安秒动作试验系统在屯流输出时开始计时，过程中自动捕捉直流断路器的跳闸状态为结朿吋间，结朿吋间与开始吋间差为通流试验吋间。电流输出过程中按取消键，可以退出试验；根据设置的试验时间，计时到了也退出试验，通流试验时间〉结束时间与开始时间差。试验结束后，系统□动断开输出电流，并存储试验数据，在试验结杲区口J以看到一条新的试验记录。5、通流不动作试验试验

6、前检查：接地检查一一请检验仪器是否可靠接地。断路器检查——直流断路器是否断开其它的电气连接，是否已经合闸。连接检查——本装置输出的是0-500A的直流电流，务必把每一接触点接牢扭紧。试验过程：首先设置额定电流、电流倍数、试验时间。输出电流二额定电流X电流倍数不能超过500,试验吋间不超过9999S。接着选屮“试验”后按确定，选择“开始”后按确定将输出电流，如图7:电流A倍数时间S试验时刻共000条6条/页第001页第001条额定电流：010.0A电流倍数：04.00试验时间：0009S淸除设置试验图8通流不动作试验系统在电流输出时开始计时，过程中自动捕捉直流断路

7、器的跳闸状态为结束时间，结束时间与开始时间差为通流试验R寸间。电流输出过程中按取消键，可以退出试验；根据设置的试验时间，计时到了也退出试验，通流试验时间〉结束时间与开始时间差。试验结朿后，系统自动断开输出电流，并存储试验数据，在试验结果区可以看到一条新的试验记录。6、功能选择按键盘上的“设置”就进入功能界面，如图9:功能管理界面—二系统日历时钟调整清除全部历史数据试验操作注意事项图9功能界面进入功能界而后，可以选择“系统H丿力时钟调整”、“清除全部丿力史数”、“试验操作注意事项”等界面。系统日丿刃时钟调整：设置时钟的时间，为试验数据捉供时间依据。清除全部历史数：

8、清除仪器存储器中所有的试