GBT 775.2-2003 绝缘子试验方法 第2部分 电气试验方法

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1、免费标准网(www.freebz.net)标准最全面ICS29.080.10K48中华人民共和国国家标准Gs/T775.2--2003代替GB/T775.2-1987绝缘子试验方法第2部分：电气试验方法Testmethodforinsulators-Part2：Electricaltestmethods2003-06-24发布2004-02-01实施中华人民共和国发布国家质量监督检验检疫总局免费标准网(www.freebz.net)无需注册即可下载免费标准网(www.freebz.net)标准最全面GB/T775.2-20

2、03.Sir前司GB/T775《绝缘子试验方法》分为三个部分：—第1部分：一般试验方法；—第2部分：电气试验方法；—第3部分：机械试验方法。本部分为GB/T775的第2部分。本部分代替GB/T775.2-1987《绝缘子试验方法第2部分：电气试验方法》。本部分与GB/T775.2-1987相比主要变化如下：—结构和编写规则按GB/T1.1-2000{标准化工作导则第1部分：标准的结构和编写规则）：—修改了空气校正因数和湿度校正因数（1987年版的2.2.3，本版的4.2.3);—增加了悬式绝缘子标准短串电气试验的安装布置（

3、见5.3.3.1)0本部分的附录A、附录B均为资料性附录。本部分由中国电器工业协会提出。本部分由全国绝缘子标准化技术委员会归口。本部分起草单位：西安电瓷研究所。本部分主要起草人：李大楠、危鹏、胡文岐。本部分所代替标准的历次版本发布情况为：—GB775-1965,GB/T775-1979,GB/T775.2-1987,免费标准网(www.freebz.net)无需注册即可下载免费标准网(www.freebz.net)标准最全面GB/T775.2-2003绝缘子试验方法第2部分：电气试验方法范围GB/T775的本部分规定了绝缘

4、子一般通用的电气试验方法。本部分适用于交流系统用瓷和玻璃绝缘子（包括瓷套管、支柱绝缘子、电器产品用瓷套、线路绝缘子）2规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T775的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T1386.1-1997低压电力线路绝缘子第1部分：低压架空电力线路绝缘子（(neqIEC60383：1983)GB/T

5、2900.8-1995电工术语绝缘子（eqvIEC60050-471:1989)GB2900.19-1994电工术语高电压试验技术和绝缘配合（neq60061.1)GB/T4585.1交流系统用高压绝缘子人工污秽试验方法盐雾法（GB/T4585.1-1984,idt60507-1975)GB/T4585.2交流系统用高压绝缘子人工污秽试验方法固体层法（GB/T4585.2-1991,idt60507-1975)GB/T16927.1-1997高电压试验技术第一部分：一般试验要求（eqvIEC60060-1;1989)GB/

6、T16927.2-1997高电压试验技术第二部分：测量系统（eqvIEC60060-2:1994)JB/T3567高压绝缘子无线电干扰试验方法（eqvIEC60437)JB/T7616高压线路绝缘子陡波冲击耐受试验(eqvIEC/TR261211)3术语和定义GB/T2900.8和GB/T2900.19确立的术语和定义适用于GB/T775的本部分。4试验的一般条件4.1试验电压波形与频率试验用电压波形与频率应符合GB/T16927.1的规定4.1.1雷电冲击电压应采用1.2/50JAS标准雷电冲击波。除在产品标准中另有规定

7、外，试验电压值以峰值表示。实测冲击波与标准值之间的允许偏差为：峰值：士3%；波前时间：士30；半峰值时间：土20％.4.1.2操作冲击电压应采用250/2500j.s标准操作冲击波。除在产品标准中另有规定外，试验电压值一般是指预期峰值，实测值与标准值之间的允许偏差为：免费标准网(www.freebz.net)无需注册即可下载免费标准网(www.freebz.net)标准最全面GB/T775.2-2003峰值：士300；波前时间：士20％；半峰值时间：士60写。4.1.3工频试验电压一般应为频率（(45.65)H：的交流电压

8、。试验电压的波形为两个半波相同的近似正弦波，且峰值和方均根（有效）值之比应在（在士0.07）内，以保证试验结果不受波形畸变的影响。试验电压值通常指有效值。4.2试验电压的测It试验电压的测量应采用GB/T16927.2规定的认可测量装置进行测量。尤其在测量纹波、时间参数、暂态过程或稳定性等时，测量装置的