超声相控阵技术检测奥氏体不锈钢对接焊缝的检测方法标准草案

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1、ICSXX.XXJXX备案号：中华人民共和国船舶行业标准CB/TXXXX—XXXX无损检测奥氏体不锈钢对接焊缝超声相控阵检测方法Non-destructivetesting一ultrasonicphasedarraymethodforausteniticstainlesssteel（征求意见稿）XXXX-XX-XX实施XXXX-XX-XX发布中华人民共和国工业和信息化部发布本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准由中国船舶工业集团公司第十一研究所提出。本标准由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)归口。本标准起草单位：屮国船舶工业集团公

2、司第十一研究所本标准主要起草人：本标准为首次发布。奥氏体不锈钢对接焊缝相控阵超声检测方法1范围1.1本规程规定了相控阵检测人员的资格、所采用的仪器探头和试块、对接接头检测工艺和质量评定等。1.2本规程规定了采用相控阵超声波成像技术检测奥氏体不锈钢焊接接头。1.3本规程适用于板厚为10mm至40mm对接接头的检测。不适用于角接等其他接头形式焊缝的检测,也不适用于直径W159mm管子环缝及外径W500mm筒体纵缝的检测。1.4超声相控阵检测工艺卡是本规程的补充，必要时由超声II级及以上人员编制，其参数规定的更具体。详见附件1。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用

3、是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注tl期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。EN473无损探伤人员的资格和认定一总则prEN583-1无损探伤一超声波检验一第1部分：总则prEN583-2无损探伤一超声波检验一第2部分：敏感性和范围设定EN1712焊缝无损检测一焊接接头的超声波检测一验收等级EN1714焊缝无损检测一焊接接头的超声波检测GB11533标准对数视力表JB/T4730承压设备无损检测IIW奥氏体焊缝超声检测手册3术语和定义GB/T12604.1和GB/T20737界定的术语和定义适用于本文件

4、。3.1A扫描接收到的超声冋波信号幅度随时间或者声程变化的实时显示称为A扫描。3.2B扫描一种显示超声数据的二维视图，通常横坐标是扫查位置，纵坐标是时间或者声程。3.3S扫描也称扇形扫描、角度扫描或者方位角扫描，与波束的偏转及数据显示形式有关。当进行波束偏转时,激励固定的晶片组，通过实施一系列的聚焦法则使声束在限定的角度范I韦I内进行偏转扫描；作为数据显示，它是各个角度A扫的二维视图，并且通过对每个A扫的延时和折射角度进行修正，使视图上的指示与工件上的真实位置相对应。也称为变角度扫描，一般以软件方式实现，用一定的延时法则，激发相控阵探头屮的部分相邻或全部晶片，使

5、激发晶片组形成的声束在设定的角度范围内以一定的步进值进行连续角度变换，其数据显示为每一个角度的波束A扫描图像通过延迟和角度校正形成的2D图像。3.4E扫描也称电子扫描，或者“线性扫查”，将相同的聚焦法则按一定的顺序施加到数量相同但位置不同的晶片组上；E扫描的波朿使用一个固定的角度，并沿相控阵探头长度方向移动，其相当于常规超声探头在执行栅格扫査时的前后方向移动。也称电子扫描，指以电子方式实现对工件的扫查，即通过聚焦法则实现波束的移动或角度偏转，使之扫查工件中被检测区域。3.5晶片间距两个相邻晶片的同侧边或者中心之间的距离，P（见图1）。3.6晶片间隙两个相邻晶片间

6、的间隙。g（见图1）3.7激发孔径单次激发晶片组的总长度。激发孔径长度:A二n・e+g・（n-1）式中A：激发孔径长度；g：晶片间距；e：阵列单元（晶片）宽度，实际e

7、，使Z扫过工件屮被检测区域。3.10沿线扫查相控阵探头晶片阵列方向与焊缝轴线垂直或成一定角度，并固定该角度，前沿离开焊缝轴线一定距离S,并保持该距离S不变，沿焊缝轴线方向移动探头扫查，以获得并记录声束覆盖范圉内整条焊缝信息。若结合一定方式记录扫查过程屮探头位置，则可通过数据处理形成B、C、D等试图显示。所谓线扫查（也称为行扫查），是指探头以固定的焊缝-探头距离、平行于焊缝轴线的单道扫查。无论扫描模式是E扫或S扫，线扫查是焊缝用相控阵线阵探头进行焊缝体积检测最基本的扫查方式。见图23.11沿栅格扫查变换多个不同的S值对同一焊缝扫查时，称为沿线栅格扫查。见图2图2沿

8、线扫查（左）及沿栅格扫查