光谱测试系统(透射、反射、吸收、荧光、PL、拉曼、紫外可见红外)

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1、光谱仪器：光谱测试系统SpectralMeasurementSystems光谱仪器光谱测试系统SpectralMeasurementSystemTotalSolution我们致力于为您提供完备的光谱测量解决方案一、LE-SP-ES发射光谱／光源测量系统EmissionSpectraandLightSourceMeasurementSystem光源和激光器应用范围□测试各种发光体，如激光器、等离子体、白炽灯、荧光灯、LED、原子发射、红外光源等的发射光谱分布。主要规格及特色□测试光谱范围：0.2~21um(范围根据配置

2、选择)□系统由分光部分、探测部分、数据采集处理部分和软件构成□可升级测试辐射通量、光通量、色坐标等□全自动扫描测量光机产品分光辐射度计Spectroradiometer应用范围□LED、灯、光纤输出等辐射源和呈色特性量测；主要规格及特色□波长准确度：±0.5nm;光学平台□特色：追溯NIST标准，符合各式光源量测应用；□检测内容：光通量、色度、CIE色度坐标；□光谱范围：380-780nm；□光通量范围：1–4000lm；□准确度：±0.002x,y(@2.856k);□重复性：±0.005x,y;光学元件□CCT重

3、复性：±20k(@2.856k)二、LE-SP-ART吸收、反射/透射光谱测量系统Absorption,Reflection&TransmissionSystem应用范围□测试平面光学元件（如棱镜、滤光片、光栅、平行平板、镀膜等）、球面光学元件（凹面镜、凸面镜等）和各种材料（溶液、光玻璃、硅、布料、汽车贴膜、眼镜等）的吸收、透射/反射光谱。电探测主要规格及特色□光谱范围：380~1000nm/600~1200nm（最低200nm，最高3000nm，可选）弱信号处理&□波长分辩率：0.03nm~10nm（由所选波长范围

4、确定）□测试系统高集成度，全自动化的测量□两种专用系统可选，分别针对平面光学元件和球面光学元件光谱分析测试□可升级测量平面光学元件不同入射角的反射和透射光谱，样品角度位移范围：2.5~357.5°，最小角位移：0.01°□测量最大相对误差：<1.0%（平面测试系统）；<1.2%(球面测试系统)；球面光学元件光谱分析太阳能□校正线性度：99.8%平面光学元件光谱分析仪电池测试仪器1光谱仪器：光谱测试系统SpectralMeasurementSystems光谱仪器三、LE-SP-FL荧光光谱测量系统Fluorescenc

5、ePhotometer应用范围□测试材料的荧光发射谱和激发谱。荧光检测技术广泛用于材料科学领域(各种发光材料、荧光粉、半导体材料、稀土材料、激光晶体、激光玻璃等)、生物学领域（量子点荧光标记、有机荧光染料分子、叶绿素和类胡萝卜素）、生物医学领域（恶性病的荧光诊断）、食品科学领域和环境科学领域。光源和激光器主要规格及特色□光谱范围：200-2500nm(可选)□光谱分辨率：0.03-0.1nm(可选)□采用垂直90°光路和特别的光学设计，有效的避免激发光的散射光进入到光谱仪中，减少了杂散光的影响□选用高灵敏度探测器光电

6、倍增管和TE致冷型铟镓砷探测器□可配合锁相放大器和光学斩波器，极大提高了系统的信噪比光机产品□激发源：氙灯（另外有氘灯、汞灯、激光器、X射线等光源可选）□可同时做激发谱及发射谱,对于未知材料提供了更有效的分析□模块化设计，结构灵活，方便升级四、LE-SP-PLPL光致发光测试系统（常温和低温）PhotoluminescenceMeasurementSystem光学平台应用范围□测试半导体材料或其它发光特性材料在激光激发下产生的荧光光谱。常见系统采用紫外或近紫外激光激发半导体材料（III-V族如GaN等，II-VI族如

7、ZnO、CdTe等）产生荧光，或用可见和红外激光器激发稀土掺杂的玻璃或晶体材料产生荧光，通过对其荧光光谱的测量，分析该材料的能带结构等特征。主要规格及特色□测试光谱范围：200—5000nm（可根据要求选择）□激光器波长：224nm、248nm、266nm、325nm/442nm、488/514nm、532nm、946nm、1064nm等可选光学元件□低温PL测试：采用液氦循环制冷系统或液氮制冷系统对样品制冷，测试样品在低温下的发光光谱特性，最低可达2K□宽光谱范围全自动光谱扫描□系统由激发光源部分、样品室部分、分光

8、部分、探测部分、信号采集处理部分、软件部分组成□采用了高通光效率、低杂散光水平的单色仪和优化的光路光□采用锁相放大器进行信号的处理，大大的提高了系统的信噪比电□系统经过多年技术积累和客户的成功使用经验，具有很高的可靠性探测□采用模块化设计，使用灵活，便于功能扩展和升级弱信号处理&□可实现样品原位测量□可升级做显微的PL光谱测试□可升级做EL电致