组件HF试验失败原因分析

《组件HF试验失败原因分析》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在工程资料-天天文库。

1、HF失败原因分析现象描述：UV序列试验中4块样品组件PSTP00338880212,PSTP00328880212,PSTM00298880312,PSTM00318880312在做完HF实验后，发现4块组件的最大功率衰减较大。试验前后功率如下表所示：组件条码出货功率/W实验后复测功率/w衰降率PSTP00338880212305.49258.1415.5%PSTP00328880212305.49259.0115.2%PSTM00298880312311.60286.368.1%PSTM0031888031230

2、9.76288.996.7%二.IEC61215标准描述：10.12.5RequirementsTherequirementsareasfollows:一noevideneeofmajorvisualdefects,asdefinedinClause7;一thedegradationofmaximumoutputpowershallnotexceed5%ofthevaluemeasuredbeforethetest;一insulationresistaneeshallmeetthesamerequirementsa

3、sfortheinitialmeasurements.85%±5%RHNoRHcontrolContinuefortotalof10cyclesQoalsaladujse_npow85StartofcycleRoomtemperature100°C/hmax.Endofcycle20hmin.200°C/hmax.0,5hmin.4hmax.TimehIEC595/05Humidity-FreezeCycle由于试验后组件功率衰减值大于5%,因此试验失败。三・原因分析：HF试验所在为UV试验序列，首先进行UV老化试

4、验和TC50试验，然后再进行HF10试验。在试验过程中，连续的温度转变使组件各组成都承受较大的热冲击，电池片、焊带和EVA的热膨胀系数各不相同，彼此之间存在一定的应力。在这种情况下，组件生产过程中的焊接不良直接导致焊带脱落和移位。对于多晶电池组件PSTP00338880212,PSTP00328880212我们从试验前后的EL图像对比可以发现：试验后两块组件均2・3片的黑片及个别电池片发暗的情况，如图所示。中间的黑片则是由于焊接工序的虚焊在经过HF试验后发生脱落an移位使电池片短路导致黑片。组件EL图像中电池片发暗

5、则是焊接工序虚焊使电池互联条脱落，电池电流的收集性能变差导致电池片发暗。试验后电池黑片出现在头部最边缘，可能是层?员工焊接汇流带是接触时间过长，温度传递到互联条上导致互联条与电池电极的焊接出现松脱，在经过HF试验后发生脱落移位使电池片短路导致黑片。组件试验前EL试验后ELPSTP00338880212PSTP00328880212对于单晶组件PSTM00298880312,PSTM00318880312组件试验前EL试验后ELPSTP00298880212PSTP00318880212■1亠八rf—~I18对于浸泡

6、互联条做出了详细的作业指导书（附件1）,重点管控项目；五・结论：我司对于工艺及材料的管控是极其严谨负责，绝不让不良的原材料进入生产线，绝不让不良的在制品存在生产线上，绝不让不良品流出成品库.对于此次试验中岀现的背板鼓包现象，我司追溯了相同批次的产品，无此现象发生，经一系列的追踪检查分析，我司发现是由于个别员工误操作导致此产品岀现助焊剂残留过多。我司认为是非常偶然的现象。对于员工的误操作行为，发现一次，脱岗培训，合格后再上岗。绝不让偶然的现象第二次发生。