GB4730超声波探伤 标准

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1、GB/T4730-2005承压设备用钢锻件超声检测和质量分级4.2承压设备用钢锻件超声检测和质量分级4.2.1范围本条适用于承压设备用碳钢和低合金钢锻件的超声检测和质量分级。本条不适用于奥氏体钢等粗晶材料锻件的超声检测，也不适用于内外半径之比小于80%的环形和筒形锻件的周向横波检测。4.2.2探头双晶直探头的公称频率应选用5MHz。探头晶片面积不小于150mm2；单晶直探头的公称频率应选用2MHz～5MHz，探头晶片一般为φ14mm～φ25mm。4.2.3试块应符合3.5的规定。4.2.3.1单直探头标准试块采用CSI试块

2、，其形状和尺寸应符合图4和表4的规定。如确有需要也可采用其他对比试块。图4CSI标准试块表4CSI标准试块尺寸mm试块序号CSI-1CSI-2CSI-3CSI-4L50100150200D506080804.2.3.2双晶直探头试块a)工件检测距离小于45mm时，应采用CSⅡ标准试块。b)CSⅡ试块的形状和尺寸应符合图5和表5的规定。图5CSⅡ标准试块表5CSⅡ标准试块尺寸mm试块序号孔径检测距离L123456789CSII-1φ251015202530354045CSII-2φ3CSII-3φ4CSII-4φ64.2.3

3、.3检测面是曲面时，应采用CSⅢ标准试块来测定由于曲率不同而引起的声能损失，其形状和尺寸按图6所示。图6CSIII标准试块4.2.4检测时机检测原则上应安排在热处理后，孔、台等结构机加工前进行，检测面的表面粗糙度Rα≤6.3μm。4.2.5检测方法4.2.5.1一般原则锻件应进行纵波检测，对筒形和环形锻件还应增加横波检测。4.2.5.2纵波检测a)原则上应从两个相互垂直的方向进行检测，尽可能地检测到锻件的全体积。主要检测方向如图7所示。其他形状的锻件也可参照执行。b)锻件厚度超过400mm时，应从相对两端面进行100%的扫

4、查。注:为应检测方向；※为参考检测方向。图7检测方向(垂直检测法)4.2.5.3横波检测钢锻件横波检测应按附录C(规范性附录)的要求进行。4.2.6灵敏度的确定4.2.6.1单直探头基准灵敏度的确定当被检部位的厚度大于或等于探头的3倍近场区长度，且探测面与底面平行时，原则上可采用底波计算法确定基准灵敏度。对由于几何形状所限，不能获得底波或壁厚小于探头的3倍近场区时，可直接采用CSI标准试块确定基准灵敏度。4.2.6.2双晶直探头基准灵敏度的确定使用CSII试块，依次测试一组不同检测距离的驴3mm平底孔(至少三个)。调节衰减

5、器，作出双晶直探头的距离一波幅曲线，并以此作为基准灵敏度。4.2.6.3扫查灵敏度一般不得低于最大检测距离处的矿2mm平底孔当量直径。4.2.7工件材质衰减系数的测定4.2.7.1在工件无缺陷完好区域，选取三处检测面与底面平行且有代表性的部位，调节仪器使第一次底面回波幅度(B1或Bn)为满刻度的50%，记录此时衰减器的读数，再调节衰减器，使第二次底面回波幅度(B或Bm)为满刻度的50%，两次衰减器读数之差即为(B1、B2)或(Bn、Bm)的dB差值(不考虑底面反射损失)。4.2.7.2衰减系数(T<3N，且满足，n>3N/

6、T，m=2n)按式(1)计算:……………………(1)式中:——衰减系数，dB/m(单程)；——两次衰减器的读数之差，dB；T——工件检测厚度，mm；N——单直探头近场区长度，mm；m、n——底波反射次数。4.2.7.3衰减系数(T≥3N)按式(2)计算……………………(2)式中:——两次衰减器的读数之差，dB；其余符号意义同式(1)。4.2.7.4工件上三处衰减系数的平均值即作为该工件的衰减系数。4.2.8缺陷当量的确定4.2.8.1被检缺陷的深度大于或等于探头的3倍近场区时，采用AVG曲线及计算法确定缺陷当量。对于3倍近

7、场区内的缺陷，可采用单直探头或双晶直探头的距离一波幅曲线来确定缺陷当量。也可采用其他等效方法来确定。4.2.8.2计算缺陷当量时，若材质衰减系数超过4dB/m，应考虑修正。4.2.9缺陷记录4.2.9.1记录当量直径超过φ4mm的单个缺陷的波幅和位置。4.2.9.2密集区缺陷:记录密集区缺陷中最大当量缺陷的位置和缺陷分布。饼形锻件应记录大于或等于φ4mm当量直径的缺陷密集区，其他锻件应记录大于或等于φ3mm当量直径的缺陷密集区。缺陷密集区面积以50mm×50mm的方块作为最小量度单位，其边界可由6dB法决定。4.2.9.3

8、底波降低量应按表6的要求记录。表6由缺陷引起底波降低量的质量分级dB等级IIIⅡIⅣV底波降低量BG/BF≤8>8～14>14～20>20～26>26注:本表仅适用于声程大于近场区长度的缺陷。4.2.9.4衰减系数。4.2.10质量分级等级评定4.2.10.1单个缺陷的质量分级见表7。4.2.10.2缺