资源描述：
《机构名称：西安西谷微电子有限责任公司元器件检测中心》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在工程资料-天天文库。
1、机构名称：西安西谷微电子有限责任公司元器件检测中注册号：L4413地址：A：陕西省西安市高新区锦业路69号创业研发园A区12号现代企业中心东区2号楼10402室获准认可能力索引序号地址能力范围评审类型更新时间1A授权签7人（中文）复评2013年10刀22口2授权签字人（英文）复评2013年10月22H3A检测能力（屮文）复评2013年10月22日4检测能力（英文）复评2013年10刀22口Name：XivanXiguMicroelectronicsCo.,Ltd.ComponentTestingC
2、enterRegistrationNo.：L4413usinessCenter,ADDRESS：A:Room10402,Building2,ModernNo.12,SectionA,ChuangyeYanfaPark,No.69,JinyeRoad,High-TechZone,Xi'an,Shaanxi,ChinaINDEXOFACCREDITEDSIGNATORIESNo.AddressRangeTypeUpdatedate1AApprovedsignatories(Chinese)Reasse
3、ssment2013-10-222Approvedsignatories(English)Reassessment2013-10-223ATestingability(Chinese)Reassessment2013-10-224Testingabilitv(English)Reassessment2013-10-22C/VAS中国合格评定国家认可委员会认可证书附件（注册号：CNASL4413）名称：西安西谷微电子有限责任公司元器件检测中心地址：陕西省西安市高新区锦业路69号创业研发园A区12号现
4、代企业中心东区2号楼10402室签发日期：2013年10月22EI有效期至：2016年10月21EI更新日期：2013年10月22日附件1认可的授权签字人及领域序号姓名授权签字领域备注1黄宏斌全部检测项冃2杨军全部检测项n3汪维平全部检测项目CHINANATIONALACCREDITATIONSERVICEFORCONFORMITYASSESSMENTAPPENDIXOFACCREDITATIONCERTIFICATE(RegistrationNo.CNASL4413)NAME:Xi1anXigu
5、MicroelectronicsCo.fLtd.ComponentTestingCenterADDRESS:Room10402,BuiIding2tModernBusinessCenter,No.12,SectionA,ChuangyeYanfaPark,No.69,JinyeRoad,High-TechZone,Xi1an,ShaanxifChinaDateoflssue:2013-10-22DateofExpiry:2016-10-21DateofUpdate：2013-10-22APPEND
6、IX1ACCREDITEDSIGNATORIESANDSCOPEJNsNameAuthorizedScopeofSignatureNote1HongbinHuangAlltestfield2JunYangAlltestfield3WeipingWangAlltestfield中国合格评定国家认可委员会认可证书附件（注册号：CNASL4413）名称：西安西谷微电子有限责任公司元器件检测中心地址：陕西省西安市高新区锦业路69号创业研发园A区12号现代企业中心东区2号楼10402室认可依据：ISO/IE
7、C17025:2005以及CNAS特定认可要求签发日期：2013年10月22日有效期至：2016年10月21E1更新日期：2013年10月22日附件2认可的检测能力范围序号检测对象项目/参数领域代码检测标准（方法）名称及编号（含年号）限制范围说明序号名称一、元器件测试1半导体集成电路CMOS电路1输出高电平电压VOH041807半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000只测0V~+15V2输出低电平电压VOL3输入高电平电流IIH只测-250mA"+250mA序号检测
8、对彖项目/参数领域代码检测标准（方法）名称及编号（含年号）限制范围说明序号名称1半导体集成电路CMOS电路4输入低电平电流TTL041807半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000只测-250mA"+250mA5输出高电平电流I0H6输出低电平电流I0L7输出高阻态时高电平电流IOZH8输出高阻态时低电平电流IOZL9电源电流IDD2半导体集成电路TTL电路1输入钳位电压VTK041807半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-
