CCD图像传感器.ppt

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1、第十三章CCD图像传感器第十三章CCD图像传感器光固态图像传感器是高度集成的半导体光敏传感器,以电荷转移为核心,可以完成光电信号转换、存储、传输、处理,具有体积小、重量轻、功耗小、成本低等优点,可探测可见光、紫外光、x射线、红外光、微光和电子轰击等,广泛用于图像识别和传送,例如摄像系统、扫描仪、复印机、机器人的眼睛等。固态图像传感器按其结构可分为三种:一种是电荷耦合器件(charge-CoupledDevices,简称CCD);第十三章CCD图像传感器第二种是MOS型图像传感器,又称自扫描光电二极管阵列(SelfScannedPhohodiodeArray,简称SSPA);

2、第三种是电荷注入器件(chargeInjectionDevice,简称CID)。目前前两者用得最多,CCD型图像传感器噪声低,在很暗的环境条件下性能仍旧良好;MOS型图像传感器质量很高,可用低压电源驱动,且外围电路简单,下面分别介绍。13.1电荷耦合器件(CCD)CCD是一种以电荷包的形式存贮和传递信息的半导体表面器件,是在MOS结构电荷存贮器的基础上发展起来的,所以有人将其称为“排列起来的MOS电容阵列”。一个MOS电容器是一个光敏元,可以感应一个像素点,则若一个图像有多少个像素点,就需要同样多个光敏元,即采集一幅图像需要含有许多MOS光敏元的大规模集成器件。13.1.1

3、MOS光敏元的结构与原理下图给出了P型半导体MOS光敏元的结构图,制备时先在P-Si片上氧化一层SiO2介质层,其上再沉积一层金属Al作为栅极,在P-Si半导体上制作下电极。半导体与SiO2界面的电荷分布其工作原理为:在栅极上突然加一个VG正脉冲(VG>VT阈值电压),金属电极板上就会充上一些正电荷,电场将P-Si中SiO2界面附近的空穴排斥走,在少数电子还未移动到此区时,在SiO2附近出现耗尽层,耗尽区中的电离物质为负离13.1.1MOS光敏元的结构与原理此时半导体表面处于非平衡状态,表面区有表面电势Φs,若衬底电位为0,则表面处电子的静电位能为-qΦs。在半导体空间电荷

4、区,电位的变化可由泊松方程确定。设半导体与SiO2界面为原点,耗尽层厚度为xd,泊松方程及边界条件为:式中V(x)为距离表面x处的电势;E为x处的电场;NA为P-Si中掺杂物质的浓度;ε0、εS分别为真空和SiO2的介电常数。可解得:13.1.1MOS光敏元的结构与原理于是如上图所示,半导体与绝缘体界面x=0处的电位为:因为Φs大于0,电子位能-qΦs小于0,则表面处有贮存电荷的能力,一旦有电子,这些电子就会向耗尽层的表面处运动,表面的这种状态称为电子势阱或表面势阱。若VG增加,栅极上充的正电荷数目也增加,在SiO2附近的P-Si中形成的负离子数目相应增加,耗尽区的宽度增加

5、,表面势阱加深。另外,若形成MOS电容的半导体材料是N-Si,则VG为负电压时,会在SiO2附近的N-Si中形成空穴势阱。13.1.1MOS光敏元的结构与原理当光照射到MOS电容器上时,半导体吸收光子能量,产生电子-空穴对,少数电子会被吸收到势阱中。光强越大,产生电子-空穴对越多,势阱中收集的电子数就越多;反之,光越弱,收集的电子数越少。因此势阱中电子数目的多少可以反映光的强弱,从而说明图像的明暗程度。于是,这种MOS电容器实现了光信号向电荷信号的转变。若给光敏元阵列同时加上VG,整个图像的光信号将同时变为电荷包阵列。当有部分电子填充到势阱中时,耗尽层深度和表面势将随着电荷

6、的增加而减小(由于电子的屏蔽作用,在一定光强下一定时间内势阱会被电子充满),所以收集电子的量要调整适当。13.1.1MOS光敏元的结构与原理当光照射到MOS电容器上时,半导体吸收光子能量,产生电子-空穴对,少数电子会被吸收到势阱中。光强越大,产生电子-空穴对越多,势阱中收集的电子数就越多;反之,光越弱,收集的电子数越少。因此势阱中电子数目的多少可以反映光的强弱,从而说明图像的明暗程度。于是,这种MOS电容器实现了光信号向电荷信号的转变。若给光敏元阵列同时加上VG,整个图像的光信号将同时变为电荷包阵列。当有部分电子填充到势阱中时,耗尽层深度和表面势将随着电荷的增加而减小(由于

7、电子的屏蔽作用,在一定光强下一定时间内势阱会被电子充满),所以收集电子的量要调整适当。13.1.2电荷转移原理设想在驱动脉冲的作用下,将电荷包阵列一个一个自扫描并从同一输出端输出,形成图像时,域脉冲串,即每一电荷包信号不断向邻近的光敏元转移,间距为15μm~20μm。若两个相邻MOS光敏元所加的栅压分别为VG1Φ1,电子的静电位能-qΦ2<-qΦ1<0,则VG2吸引电子能力强,形成的势阱深,即1中的电子有向2中下移的趋势。若串联很多光敏元,且使

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