BL-TP来料检验标准.pdf

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1、深圳市柏朗光电有限公司文件编号BL-III-QC-002版本号A0质量体系文件生效日期2012-12-12发放序号（盖受控印章处）TP来料检验标准序号修改单号版本号修改内容修改日期修改人备注编制审核帅洪批准文件编码BL-III-QC-002质量体系文件版本号A0生效日期2012-12-12文件名称TP成品检验标准本页码第1页共6页1.目的确保公司进厂原材料质量符合相关工艺标准要求。2.适用范围本标准适用于我司进厂原材料的例行检验。3.职责IQC:负责所有来料的检验。4.程序4.1若无特殊指定，进厂物料抽检均依据《MIL-STD-105E》正常检查一次抽样方案执行。

2、4.2对个别我公司暂不能检验的项目，通过以下方式进行验证：A.将供应商的出厂质量报告单与本《来料检验标准》进行对照，与本标准相符合的，视同合格可以使用，反之不能使用。B.经过对供应商质量保证体系进行考察，认为质量体系完善的、可提供产品检验单的、曾长期与我公司合作良好的、未对我公司产品质量形成影响的产品，可视为合格，予以免检。4.3电子组件、包装由品管部抽检，化工原材料由工艺部协助品管部抽检。对新供应商提供的物料由工程部确认，并建立来料检验标准。4.4本标准未将生产原料以外的材料和物品列入，生产原料以外的材料和物品由需要部门确定和验收。5检验抽样标准5.1ITOFI

3、LM检验项目品质要求测试仪检验方法备注保护膜粘合无明显气泡，在导电面，易撕开，卷料拉开0.5m左右目测.保护膜目测保护膜应无灰尘，颗粒在40W日光灯下检查折伤整卷ITO膜不允许有效印刷部位有折伤，凹坑，卷料拉开0.5m左右目测.目测压痕，边缘折伤不能向内超过10mm在40W日光灯下检查d≤0.03mm不计包括黑点、点状缺陷0.03mm＜d≤0.2mm最多4个/平方英尺目测在台灯下检查白点、凹d=(W+L)/2d＞0.2mm不允许坑、颗粒外W≤0.01mm不计观0.01＜W≤0.05mm长≤5mm/平方英尺2处在台灯下检查（适用于数划伤W＞0.05m不允许目测字屏I

4、TO膜）模拟屏导电面不允许有任何刮伤，若有划伤，按1~2mm/平方英尺2处判定d≤0.03mm不计ITO膜0.03mm＜d≤0.2mm最多4个/平方英尺目测在台灯下检查d=(W+L)/2d＞0.2mm不允许污迹不允许用一般清洗剂除不去的污迹存在目测在台灯下检查1文件编码BL-III-QC-002质量体系文件版本号A0生效日期2012-12-12文件名称TP成品检验标准本页码第2页共6页检验项目品质要求测试仪检验方法备注长、宽尺寸与规格所示,正公尺可接受,负公直尺尺寸正常测量差允许-2mm,厚度与规格所示<±5%卡尺用百格刮刀以45°角不允许ITO膜脱落（与周边未做

5、检验的ITO在ITO膜上划#字格，ITO附着力膜对比）再用3M600测试胶带来回拉扯3次。用3H的铅笔以45度用铅笔头削成耐刮伤性3H铅笔划过,应无刮痕3H铅笔力斜推过ITOFilm非0.5mm左右。导电面四探针高温烘烤:135℃热稳定性高温烘烤后导电层方阻值电阻变化率≦10%万用表30MIN亮面.450ΩITOFILM>87%亮面.250ΩITOFILM>87%防牛顿环材料透光率分光光度计雾面.450ΩITOFILM>82%可低于78%雾面.250ΩITOFILM>80%沿ITO材料MD方向及450ΩMD<3%TD<6%四探针方测MD表示顺卷方方阻均匀性TD之直

6、线方向各测试4250ΩMD<10%TD<10%试仪向个点有供应商资料，(1)250Ω:200-280Ω四探针每卷裁切一段测试十方阻值以双方签订为(2)450Ω:400-550Ω测验仪六点.准热收缩Film材料缩水率：MD<3‰、TD<2‰高温烘烤:135℃可依据生产缩软尺耐高温性材料弯曲变形高度<10mm30MIN水条件环测后相应点导电层方阻值电阻变化率≦四探针恒温恒湿实验环测60℃、95%RH、72H10%测验仪长、宽尺寸与规格所示,正公尺可接受,负公直尺尺寸正常测量差允许-2mm,厚度与规格所示<±5%卡尺用百格刮刀以45°角不允许ITO膜脱落（与周边未做检验

7、的ITO在ITO膜上划#字格，ITO附着力膜对比）再用3M600测试胶带来回拉扯3次。用3H的铅笔以45度用铅笔头削成耐刮伤性3H铅笔划过,应无刮痕3H铅笔力斜推过ITOFilm非0.5mm左右。导电面2文件编码BL-III-QC-002质量体系文件版本号A0生效日期2012-12-12文件名称TP成品检验标准本页码第3页共6页5.2ITOGLASS检验项目品质要求测试仪检验方法备注边形貌未磨边不允许，需有辨认角目测在日光灯下目测崩边长≤3mm,宽≤1.0mm,深度≤1/2基片厚目测在日光灯下目测破裂度；破裂不允许d≤0.03mm不计点状缺陷0.03mm＜d≤0.

8、2mm最多