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1、纳米材料的表征及其催化效果评价方式纳米材料的表征主要目的是确定纳米材料的一些物理化学特性如形貌、尺寸、粒径、等电点、化学组成、晶型结构、禁带宽度和吸光特性等。纳米材料催化效果评价方式主要是在光照（紫外、可见光、红外光或者太阳光）条件下纳米材料对一些污染物质（甲基橙、罗丹明B、亚甲基蓝和C』+等）的降解或者对一些物质的转化（用于选择性的合成过程）。评价指标为污染物质的去除效率、物质的转化效率以及反应的一级动力学常数k的大小。1、结构表征XRD,ED,FT-IR,Raman,DLS2、成份分析AAS,ICP-AES,XPS,EDS3、形貌表征TEM,SEM,AFM4、性质表征-光、电、磁
2、、热、力等UV-Vis,PL,Photocurrent1.TEMTEM为透射电子显微镜，分辨率为0」〜0.2nm,放大倍数为几万〜百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2微米、光学显微镜下无法看清的结构。TEM是一种对纳米材料形貌、粒径和尺寸进行表征的常规仪器，一般纳米材料的文献中都会用到。ThemorphologiesofthesampleswerestudiedbyaShimadzuSSX-550field-emissionscanningelectronmicroscopy(SEM)system,andaJEOLJEM-2010transmissionelectronmicros
3、copy(TEM)[1J.Kigiire2.(a)SEMimageofri<)>nanofibers,(b)1EMimageofIiO:nanofibers(insetshowsthecorrespondingSAEPpattern),(c)UEMimageofAgTiO2nanotibers(insetshowsthecorrespondingSAEDpattern),.md(d)ahigh-resolutionI*EMimageotAg-TiO2nanofiber.一般情况下，TEM还会装配High-ResolutionTEM(高分辨率透射电子显微镜)、EDX(能量弥散X射线谱)
4、和SAED(选区电子衍射)。High-ResolutionTEM用于观察纳米材料的晶面参数，推断出纳米材料的晶型；EDX一般用于分析样品里而含有的元索，以及元素所占的比率；SAED用于实现晶体样品的形貌特征与晶体学性质的原位分析。S/10r20l1MVMagWOCMMrwPreswte1OpmAM.900kV40000x81mmEID.3.3t>MVi二1.SEMSEM表示扫描电子显微镜，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构和电子结构等等。SEM也是一种对纳米材料形貌、粒径和尺寸进行表征的常规仪器，一般纳米材料的文献中都会用到。Themorpholo
5、giesofthesampleswerestudiedbyaShimadzuSSX-550field-emissionscanningelectronmicroscopy(SEM)system,andaJEOLJEM-2010transmissionelectronmicroscopy(TEM)[1].(a)SEMimageofTi02nanofibersSEM一般会装配EDX,用于分析材料的元素成分及所占比率。1.AFMAFM是指原子力显微镜，原子力显微镜的优点是在大气条件下,以高倍率观察样品表面，可用于几乎所有样品（对表面光洁度有一定要求），而不需要进行其他制样处理，就可以得到样
6、品表而的三维形貌图象。Figure2.Three-dimensionalAFMimagesof(a)theanataseTiO2single-crystal(101)surfaceand(b—d)therutileTiO2single-cryrstal(001),(100)；and(110)surfaces；respectively.Theanatase(101)surfaceandtherutile(001),(100),and(110)surfaceshavebeencharacterizedbyX-raydifiraction(XRD)andbyatomicforcemicro
7、scopy(AFM)[2]・XRD是X射线衍射的缩写，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料的晶型结构、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。基本上对于纳米材料的文献都会用到。ThephasesofthesampleswerecharacterizedbyX-raydiffraction(XRD),employingascanningrateof0.05°persecondina20rangingfrom10°to80°,
