统计过程控制SPC2.ppt

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1、统计过程控制SPCStatisticalProcessControl培训讲义TrainingMaterialSPC-正态分布图的制作与分析1.制作直方图1.1.抽样编号1.2.样品计量1.3.计算极差R=Xmax-Xmin1.4.数据分组K1.5.确定组距d1.6.确定各组区间的端点ak1.7.计算每组中值YiSPC-正态分布图的制作与分析1.8.统计样本落在每个区间的频数1.9.建立直方图1.9.1.建立直角坐标1.9.2.标出每一组的端点1.9.3.画出长方形SPC-正态分布图的制作与分析2.制作正态分布图2.1.找出每个长方形的中点2.2.用光滑曲线使中点相

2、连示例——灯片重量SPC-正态分布图的制作与分析3.控制图——过程控制的有力工具3.1.控制图的构成3.2.均值和极差图（X-R）的建立3.2.1.收集数据选择子组大小原则“应使得一个子组内在该单元中的各样本之间出现变差的机会小”SPC-正态分布图的制作与分析选择子组频率选择子组组数3.2.2.建立控制图，记录原始数据3.2.3.计算均值X和极差RX=(1/n)∑XiR=Xmax-Xmin3.2.4.确定控制图纵坐标的刻度X图（最大刻度值-最小刻度值）＞2(Xmax-Xmin)R图最大刻度值＞RmaxSPC-正态分布图的制作与分析3.2.5.描点画线3.2.6.计

3、算控制限计算过程平均值X和平均极差RX=(1/n)∑XjR=(1/n)Rk计算控制限UCLx=X+A2RLCLx=X-A2RUCLR=D4RLCLR=D3R3.2.7.在控制图中画控制限SPC-正态分布图的制作与分析3.3.过程能力解释3.3.1.极差图分析点线（链）区——图形的趋势非随机图形的表现子组内数据点总体分布准则特殊原因的标注、对策和改善纠正改善后重新计算极差图控制限SPC-正态分布图的制作与分析3.3.2.均值图分析点线（链）区SPC-正态分布图的制作与分析3.4.如何更快地检测到大的过程变化？3.4.1.方法3.4.2.重新计算R，UCL/LCL计算

4、估计标准偏差σR/d2=R/d2计算其它值R新=σR/d2·d2新UCLR新=D4·R新LCLR新=D3·R新UCLX新=X+A2·R新LCLX新=X-A2·R新SPC-正态分布图的制作与分析3.5.控制图的益处3.5.1.判断过程稳定3.5.2.预测3.5.3.改进、降本3.5.4.便于交流3.5.5.明确职责SPC-正态分布图的制作与分析3.6.使用控制图的准备3.6.1.建立适用于实施的环境3.6.2.定义过程3.6.3.确定控制的特性3.6.4.确定测量系统3.6.5.使不必要的变差最小SPC-正态分布图的制作与分析3.7.其它控制图的介绍3.7.1.用于

5、计量型数据的其它型控制图X-S（均值-标准差图）Xi-MR（单值-移动极差图）3.7.2.用于计数型数据的控制图不合格品率的P图不合格品的np图不合格品的c图单位产品的不合格数的n图