薄片系统鉴定.doc

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1、透明矿物薄片的系统鉴定一、透明矿物薄片的系统鉴定的内容1、单偏光镜下的观察单偏光镜的装置是指只用一个下偏光镜。利用这种装置可以研究矿物的主要光学性质有：（1）矿物的外表特征，如形态、解理；取决于r晶体结构;A、矿物的形,一一►化学成分；，自形（矿物边界全为晶面）半自形（矿物边界部分为晶血）他形（无完整晶面）S生成环境；由于矿物形成空间、<结晶顺序的不同B、矿物的解理厂解理是指矿物Q体在外力作用下，智着一•定方向裂茨光滑平而的性质<丿解理角的测定）（两组解理的夹疔・称解理角）r极完全解理：解理缝细密长，贯穿整个晶体；完全解理：解理缝清楚稀疏，但不完全连贯；伽理的等级丿不完全解理：解理缝

2、断断续续、不平立，解理缝之间间距较宽。选择两纽解理缝最细最沽晰、升降镜筒解理缝都不左右移动的切面；旋转物台使一组解理缝平行或車合于H镜十字丝的纵丝，并记下物台上读数a；旋转物台使另一组解理缝平行于目镜纵丝，记下物台读数b；两个读数的差值即为所测解理角。（2）矿物对光波吸收强弱的性质，如颜色、多色性；偏光显微镜下的颜色是指氓偏光显微镜下薄片的颜色，是矿物对白光中各色选择性吸收的结果。均质体矿物都不具有多色性。非均质体矿物对光波的选择吸收和吸收强度总是随方向而异的。因此，在单偏光镜下旋转物台时，矿物颜色发牛变化的现彖，称为多色性,它系由不同方向对不同波长光的选择吸收所决定。而颜色深浅发牛

3、改变的现象,称为吸收性。它是指不同方向对光的吸收强度上的差异。（3）与矿物折射率相对大小有关的光学性质，如突起、糙而、边缘、贝克线及贝克线色散效应突起等级折射率代表性矿物负高突起<1.48萤石蛋口石负低突起1.48-1.54止长石微斜长石正低突起1.54〜1.60石英中长石绿柱冇正屮突起1.60-1.66透闪石磷灰石电气石正高突起1.66-1.78橄榄石辉石尖晶石止极高突起>1.78错石楣石金刚石二、正交偏光镜下的观察干涉色同一点光源发出的光，分成两朿光，再使这两朿光经过不同路程后，在空间某一点相交，如果能满足三个条件：1频率相同；2振动方向相同3位相相同或位相差固定，便在交点上产生

4、干涉，形成相长增强，或相消减弱的明暗相间干涉条纹。产生干涉作用的光波称为相干波。若矿片不出现在消光位时，则发生干涉现象，若在白光透射作用下，则产生干涉色。光波在正交偏光镜间发牛干涉，需满足三个条件：1要有相同的频率2要有固定的光程差3需在同一平血内振动测定双折率光程差（R）等于矿片厚度（d）乘以双折率（AN）。消光类型斜消光平行消光对称消光测定消光角消光角是指矿片消光吋，其光率体椭圆半径与解理缝、双晶缝、晶体延长方向之间的夹角。选择定向切片——＞解理缝或双晶缝平行纵十字丝——＞矿片达到消光位——＞确定光率体半径名称一一＞消光角表示方法测定延性符号长条状矿物切血，其沿长方向•光率体椭圆

5、半径Z间的关系，称为晶体的延性。晶体切面沿长方向与光率体椭恻长半径平行或其夹角小于45°,称正延性；晶体切面沿长方向与光率体椭圆短半径平行或其夹角小于45°,称负延性。双晶矿物的双晶是指两个或两个以上的单体，按一定的对称关系相互有规律的连生在一起的现象。止交偏光镜下，衣现为相邻两个单位消光位不同，呈现一明一暗的现象。双晶分为：简单双晶和复式双晶。三、锥光镜下的观察锥光镜下可以测定矿物的光学常数为：轴性、光性符号、光轴角和切而方向。一轴晶干涉图及光性正负的测定一轴晶矿物的干涉图，因切面方向不同而异，有三种主要类型，即垂直光轴切面、斜交光轴切血和平行光轴切血的干涉图。（1）垂直光轴切血的

6、干涉图由一个黒十字或黒十字和同心恻干涉色色圈组成。（光程差必须超过550nm才能产生干涉色圈。当双折率较小时，仅有黑十字，而无色圈。当双折率较大时，不仅有黑十字,而且有同心圆状的干涉色色圈，从黑十字中心向边缘，干涉色继续逐渐升高，色圈变密。）黑十字的成因：根据正交偏光间的消光与干涉原理：矿片上光率体椭圆半径与上、下偏光镜振动方向（AA、PP）平行的部位，消光而构成黑臂；矿片上光率体椭圆半径与上、下偏光镜振动方向（AA、PP）斜交的部位，发牛干涉作用，产牛干涉色。（2）垂直光轴切面干涉图的应用一轴晶光性符号正负的确定应依据两个原则：①Ne〉No,为一轴正晶（Ne二Ng）；Ne

7、一轴负晶（Ne=Np）o②放射线方向代表Ne'方向，同心圆切线方向代表No方向。（3）斜交光轴切片的干涉图图像特点是光轴出露点不在视域中心，凶此出现的是黑十字的一部分与不完整的干涉色色圈。平行光轴切血的干涉图图像特点：1.当光轴与上、下偏光镜振动方向之一平行时，为一个粗大模糊的黑十字，几乎占据整个视域。2.旋转载物台12°-15°,粗大黑十字从中心分裂，并沿光轴方向迅速退出视域，因为变化迅速，故称为闪图或瞬变干涉图。3.旋转物台使光轴方向与上、下偏光镜振动