《LLCR测试原理》PPT课件.ppt

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1、LLCR測試原理UprightGaoContent1.LLCR定義2.測試原理3.失效模式LLCR定義CR:ContactResister測試條件一般使用DC5V1Aor0.1ALLCR:LowLevelContactResister測試條件DC20mV0.1A以下使用LLCR測試之原因1.任何金屬表面可能有a.灰塵b.氧化物c.油污等雜質,當兩金屬表面接觸後該介質會影響電流之流通,一般稱之為接觸電阻.2.為確保Connector在任何環境及使用條件皆可導通故以低電壓(20mV以下)低電流(0.1A以下)測試接

2、觸電阻,稱之LLCR(因以太大之電壓、電流測試時,火花會將該層介質打穿)測試原理利用V=IxRR=V/IIV定電流+-RI以4線式量測探針端子接觸點測試原理以4線式量測接線探針電阻LLCR探針電阻端子材料電阻Rp1Rp2Rp3Rp4RCR測試原理Rp1Rp2Rp3Rp4RCRI1IVmVCR=I1xRCRVCR=VRP2+VRM+VRP4I2內阻Rm=106歐姆Rm測試原理VCR=VRP2+VRM+VRP4VRM=VCR-VRP2-VRP4因為RM=106~107歐姆RP2,PR4<1歐姆RM>>RP2&PR4

3、I1II20所以VRMVCR量測值R=VRM/I測試原理失效模式AVCR=VRP2+VRM+VRP4VRM=VCR-VRP2-VRP4如果RP2,PR4>100k歐姆VRMVCR探針或接頭老舊失效模式B探針端子接觸點一根探針接兩條測試線接線失效模式B探針電阻LLCR探針電阻端子材料電阻Rp1Rp3RCR失效模式BRp1Rp3RCRVI內阻Rm=106歐姆RmI1I2I3失效模式B因為RM>>(RP1+RCR+RP3)所以I30I2=I1V=Ix(RP1+RCR+RP3)R=V/I=RP1+RCR+RP

4、3量測值RRCR