制程能力分析规定.doc

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1、TTE）厦门吉致电子有限公司制程能力分析规定文件编号：WI-20-00-004发行日期:2001.08.01版次：1.0制订部门：品保部核准审核作成制程能力分析规疋文件编号：WI-20-00-004页次：修订页中请号版次修订日期修订内容修订者1.02001.07.28初订张瑞林1.目的：1・1调查制程工程是否安全。1・2分析制程能力。1・3保持制程在安定状态。1・4作为工程改善之比较。1.5藉由制程之变化加以改善进而提高品质并降低成本。2•范围：凡使用制程能力分析均适用。3.定义：无。4.内容:4.1使用时机：4.1.1先期品质规划

2、阶段使用。4.1.2制程管制中使用。4・2制程能力分析：4.2.1制程准确度（Ca）:各工程之规格中心值设定的目的就是希望各工程制造出来的各个产品之实际值，能以规格中心为中心，呈左右对称的常态分配，而制造时，也应以规燈中心值为目标，而从生产过程中所获得的资料，其实际平均值（文）与规格中心值（U）之间偏差的程度，称为制程准确度。_实际中心值-规格中心值（X—U）Ca=%=%规格容许差T/2_T为规格上限一规格下限=（公差范围）由上式可得知U与文之差愈小吋，5值也愈小，也就是晶质愈接近现定要求的水准。4.2.2制程精密度（CP）：各工程

3、规格上下限之设定目的，是希望制造出来的各个产品之品质水准都能在规格上下限的容许差范围内，而比较规格容许差与实际群体的“估计标准差”，即为制程精密度。规格容许差规格公差T6二==3o6o6o由上式可知Cp愈大，则表示此制程愈精密，愈适合此产品之生产。4.2.3制程能力指数CPk：用以衡量制程能力，以作为改进制程的参考，其计算公式如下：(PpK计算公式同Cpk计算公式)4.2.3.1Cpk=CH(1-

4、Ca

5、)Zmin4.2.3.2CPk=3A(JR/d2A0：估计标准差CL：单边规格上限或下限UCL：双边规格上限LCL：双边规格下限X

6、：制程平均值Cpk：制程能力指数d2：系数Ppk：初期制程能力指数ZCL-X单讪抑格z-/yL1uJA0UCL-X双边规格Zmax=A0LCL-XZmin=A0CpkZminn23453d21.131.692.062.334.2.4制程能力指标：4.2.4.1初期量试品:PpK^1.67能力足够，PpK<1.67能力不足需改善。制程能力分析规定文件编号：WI-20-00-004页次：3/34.2.4.2量产制品:CPk^l.33能力足够，CPk<1.33能力不足需改善.4.2.5制程能力不足之改善：4.2.5.1采取包括全检在内之临

7、时对策，以防止不良品流出厂外。4.2.5.2找出能力不足之原因，并以有效的对策加以改善。4.2.5.3定期分析制程能力，以便判断品质水准，并提出改善对策。5•相关附件：无。6•参考文件：无。