闪蒸槽液位计问题分析与改进.pdf

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时间:2020-03-27

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1、30CHEMICALENGINEERINGDESIGN闪蒸槽液位计问题分析与改进张林茂+河南能源化工集团中原大化公司濮阳457000摘要某公司三聚氰胺装置出现多次产品质量事故,闪蒸槽液位计指示失真造成气相带液是事故的主要原因之一,为避免事故的发生,对液位计进行多次改进,解决了液位计指示失真的问题,保证装置的稳定运行。关键词三聚氰胺闪蒸槽液位计1工艺流程欧技三聚氰胺工艺采用无催化剂高压法,99.8%以上的尿液在8.OMPa、380℃的条件下缩合生成三聚氰胺,经过急冷冷却溶解进人液相,并闪蒸出氨和绝大部分二氧化碳,再经过汽提脱除CO:,在水解塔中与加入的13%~14%的氨反应,使缩聚物水解为三

2、聚氰胺,通过净化系统的杂质过滤、吸附脱色,结晶器中冷却,使三聚氰胺45cC下结晶,离心分离、干燥得到成品三聚氰胺。含有氨及副产物OAT(三聚氰酸一酰胺和三聚氰酸二酰胺)的母液经过氨回收系统回收氨,循环利用。氨精馏塔釜液进入闪蒸槽闪蒸出低压蒸汽返回CO,汽提塔作为汽提汽,以回收部分热量。一旦闪蒸槽液位计发生故障,将会造成副产物OAT进入CO,汽提塔,最终造成前系统OAT含量超标,结晶进入产品中,造成产品浊度超标。2存在问题在原设计中,为增加仪表指示的准确性,在使用过程中能够相互参考,闪蒸槽同时采用了雷达式和差压式两种液位计,但是在使用过程中都出现了不同情况的液位指示失真现象。分析出现的问题,

3、并进行相应的改造,较好解决了影响产品质量的问题。2.1雷达液位计装置采用的液位计型号为E+HMicropilotMFMR230,系统用石英晶体来控制载波脉冲的发射频率,保证频率的稳定性,提高测量精度。石英晶体的振荡频率受温度影响很小,所以在一个较大的温度变化范围内,脉冲雷达对温度的稳定性要求不高,测量精度基本不受温度的影响。测量方式采用非接触式测量,安全系数高,且不受液体粘度等的限制,更有安装简单、维护方便的特点,设备参数见表1。表l设备参数名称参数设备的工作频率。GHz最大辐射脉冲能量,MW过程压力PNmax,Psi过程温度TAmax,℃供电电压.VDC供电电流,mA接触介质材质雷达天线

4、周期地发射微波脉冲,在被测物料表面产生反射,并被雷达系统所接收。天线接收反射的微波脉冲并将其传给电子线路,微处理器对此信号进行处理,识别出微波脉冲在物料表面所产生的回波,并据此计算液位,见图1。雷达液位计与物料表面的距离H(以雷达液位计的过程连接处作为测量参考点)与天线发射的微波脉冲的时间行程t成正比,则H=ct/2式中,c为光速。根据测量原理,分析影响测量精度的因素:(1)仪表内部及天线连接处的阻抗跃变。(2)安装短管内的阻抗跃变。(3)罐内障碍物的干扰反射。(4)由罐壁、罐顶及罐底引起的多次反射。s张林茂:工程师。2008年毕业于河南工业大学化工工艺专业。现从事三聚氰胺技术管理工作。联

5、系方式:(0393)8953245E—mail:zlm322@163.tom。拍。扔姗㈣~憾张林茂闪蒸槽液位计问题分析与改进3Il介质图1脉冲雷达液位计的工作原理(5)高频头沾染粘附物。(6)罐内油气或蒸汽过大,结露或产生过强的反射。2.1.1故障现象及原因分析在使用过程中,发现雷达液位计LT一86005仪表输出总是在最大值,完全失去了参考价值。利用停车机会,对该液位计进行了检查,发现进液口对面器壁有明显的冲刷痕迹,液位计雷达天线上有部分白色结晶物。根据测量原理及天线有结晶的情况,对问题进行了分析:(1)为了减少气相带液,将闪蒸槽液位控制在进料1:3以下,而且进料口无挡板,氨汽提塔底部来物

6、料直接冲击在闪蒸槽器壁上,造成液滴飞溅,而且液面扰动较大,液面湍动有可能引起多径反射,湿泡沫表面会反射微波信号;当介质表面为稠而厚的泡沫时,测量误差较大或无法测量。(2)物料中为易结晶的OAT介质粘度较大,飞溅的物料粘结在天线上,形成虚假回波,导致液位指示偏高。2.1。2问题处理利用大修机会,拆下罩子法兰和石英窗法兰,用绸布蘸酒精、汽油等溶剂擦揩石英表面,注意不可用碱性溶剂擦洗,最后将石英玻璃擦干净,仪表指示恢复正常,但投入运行不久又再次出现指示满量程的问题。所以,在易结晶或粘度较大的介质环境下,建议定期清洗天线,采用机械方法或水冲洗的方法时注意不要损坏天线,使用清洗剂时,要注意材料的相容

7、性。为减少天线清洗次数,彻底解决问题,对设备及操作要求进行了改进:闪蒸槽液位控制由30%提高至50%,并在物料入口处增加挡板,减少液位扰动对液位指示的影响,避免了物料在雷达天线上结晶形成虚假回波,解决了液位指示异常的问题。2.2差压式液位计差压式液位计是利用容器内的液位改变时,由液柱产生的静压也相应变化的原理工作的,对密闭贮槽,设底部压力为P,液面上的压力为P。,液位高度为H,则有:P=Ps+pgH式中,p为介质密度;g

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