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时间:2020-03-27
《MEMS加速度计在膛压测试中的应用.pdf》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、150传感器与微系统(TransducerandMicrosystemTechnologies)2012年第3l卷第9期MEMS加速度计在膛压测试中的应用丁永红一,马铁华,尤文斌'(1.中北大学信息与通信工程学院,山西太原030051;2.中北大学电子测试技术重点实验室。山西太原030051)摘要:针对火炮膛压测试的特点,采用MEMS加速度计MMA8453Q和MSP430单片机研制了一种新的膛压测试系统。实现了单个芯片的存储测试,具有倒置上电,红外收发等功能。利用ANSYS对电路模块的缓冲特性进行了仿真分析,并利用马谢特锤对测试系统进行了抗过载测试。结果表明:在受
2、到4.5×10g冲击后仍能正常工作,满足火炮等高冲击场合的测试要求。关键词:MEMS加速度计;MSP430单片机;放入式电子测压器;膛压中图分类号:TH823文献标识码:A文章编号:1000-9787(2012)08-0150-03ApplicationofMEMSaccelerometerinchamberpressuretestDINGYong.hong,MATie.hua,YOUWen.bin'。(1.SchoolofInformationandCommunicationEngineering,NorthUniversityofChina,Taiyuan03
3、0051,China;2.KeyLaboratoryofScienceandTechnologyonElectronicTest&Measurement,NoahUniversityofChina,Taiyuan030051,China)Abstract:Aimingatthecharacteristicsofgunchamberpressuretest,anewchamberpressuretestingsystemisdesignedusingMEMSaecelerometerMMA8453QandMSP430.Thesinglechipstoragewith
4、thefunctionofinversionelectricityandtheinfraredtransceiver,etc,isrealized.ThebufferingcharacteristicsofcircuitmoduleusingANSYSiSsimulatedandanalyzed.andtheanti—overloadtestiScarriedoutusingtheMachetehammer.Thetestresultsshowthatitcanworknormallyafterbeingimpactedby4.5×10g.Whichcanmeet
5、thetestrequirementsofhighimpactoccasion,suchasthegun.Keywords:MEMSaccelerometer;MSP430MCU;intypeelectronicpressuregauge;chamberpressure0引言于工作状态,则在保温时电源消耗太大,所以,必须使测试膛压测试对常规兵器的研究设计和生产验收极其重装置在保温过程中处于低功耗状态,本文利用MEMS加速要,准确可靠的膛压数据是分析装药结构的合理性、炮弹各度计MMA8453Q和MSP430单片机研制了一种低功部件(如弹体、引信、炮管等)的强度设计、
6、后座装置阻力曲耗,小体积、抗高过载、高可靠的膛压测试系统。线以及炮架强度和刚度设计的基本依据J。常用的膛压1放入式电子测压器测试仪器有:1)铜柱测压器J,对压力波所发生的规律无微型放入式电子测压器的系统框图如图l所示,主要论在定性上或定量上都不是很清楚;2)引线电测法,将由压电传感器、适配电路、单片机、红外收发器、电源管理、压电传感器安装在膛底和药室前端的药筒口部附近,该方电池及倒置开关组成。法不能反映弹底的真实压力,同时在炮管上打孔也十分不1.1倒置开关便;3)存储式电测法,该方法不对被测体产生影响,能安倒置开关是电源管理控制的核心部件。装置都是在保装在炮膛底部
7、记录压力时间曲线,该测试仪器使用方便,测温前放到被测物体中,放入式电子测压器内部空间仅有量精度高,可重复使用,但还存在不足之处,如体积较大,不15cm。,电池容量仅有50mAh(3.7V),这要求测试装置不能满足小口径火炮的膛压测试,误上电。仅要体积小,且在保温状态下功耗低。倒置开关的作用就由于测试装置在测试火炮膛压前,要随弹一起保温,保是在保温过程中使测试系统处于低功耗休眠态,在测试前温时间可能达到48h以上,若放人药筒前就使测试装置处通过倒置开关使系统上电工作。倒置开关还要启动快速和收稿日期:2012-03-02基金项目:电子测试技术重点实验室青年基金资助项目
8、(9l4O
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