浅谈电子产品的可靠性试验.pdf

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1、试验与检测浅谈电子产品的可靠性试验戴宜乐福建省产品质量检验研究院福建福州350002摘要：21世纪带给我们的是一个信息技术高速发展进步的时代，随之而来的不断革新的电子产品研发和制造技术。随着时代的发展和科技的进步，人们在关注电子产品的先进性和实用性的同时，也越来越注重其可靠性。因此，对电子产品可靠性的研究也逐渐被广大生产商列为重要试验项目。本文就电子产品检测的可靠性试验等问题进行了初步探讨和研究。关键词：电子产品可靠性试验试验分类试验方案的选择随着电子产品在研发、制造、种类、功2_2统计试验方案：用于估计产品的平均l辫斡糕If$懿_涮#R籍．§l能等各个方面

2、的集成度越来越高，对其品质失效间隔时间(MTBF)的真值，并确定其能蠓娃*litl“M髓l要求、元件数量以及结构性要求也越来越高。否满足规定的可靠性要求。，，那么，为了检测电子产品是否与其运行环境定时定数截尾试验：在试验过程中，连{I}*ll5{flI．SH．j●t}H10{Slntl1,1相适应或是否满足其可靠性指标，就需要利续或按规定时间对受试产品进行监测并计算I}l#iil蕾I．Il用对其进行可靠性试验的方法来进行测量。累积试验时间，或累积失效数，直至达到或l}I*搪jt；II，．}{S奢*{，5¨}苴7#与此同时还可通过可靠性测验来发现产品设超过试验

3、方案规定的累积试验时间或累积失●{l麓#Ii，l∞I毒n，iItr精曩l1．{“jn，{计上或制作工艺中存在的不足，进而优化产效数为止●Il蔷∞lInnjl1，薯{}≈j-．1品设计工艺，提高产品综合性能。截尾序贯试验：在试验过程中，连续或lI*嚣尊1．辞I．1I，71、电子产品的可靠性试验目的按规定时间对受试产品进行性能监测，并将往j霉麟静肆J’l^蓐瞒·，轴豫li％l嬲羹J可靠性试验的目的是验证产品的可靠性累积试验时间和累积失效数不断地与规定的垂瞳I躺t萎l髓l撼鞭l薅{●卜*l泰鞔㈨女tlliI棼接收、拒收或继续试验的判定标准进行比较，舛辫≈搬簧羲鞠§

4、lt盼黼牲雌是否达到规定的要求，用来鉴定产品的设计、生产结果和设计工艺变更之后是否符合可靠直至与截尾接收线或截尾拒收线相交，作出3、试验方案的选择性要求，根据产品试验目的不同可靠性试验判定结论为止。3．1产品的可靠性鉴定试验和验收试验的的类型可分为鉴定试验、验收试验和现场试统计试验方案选择的一般原则是：假如试验方案可从表1和表2中选取，选取的原验，试验的结果是否达到了规定的最低可接事先规定试验时间、用度或失效数，宜选用则是：对于可靠性鉴定试验推荐选用定时截定时定数截尾试验方案。一般情况下选用的尾试验方案；当要求通过试验对产品的平均收的可靠性要求。最大限度的暴

5、露出产品存在的缺陷不足，从而对其进行优化设计改进。方案见表1方案5：1至5：7。新研制产品的失效间隔时间的真值作出估计和试验时，推尽可能的对产品的可靠性进行保障。研究预可靠性试验宜选用定时截尾试验方案，见表l荐选用定时截尾试验案。而对于可靠性验收方案5：8、5：9、5：l0。试验推荐选用序贯试验方案，当仅需要以预防故障发生措施及产品科技创新的效率分假如需要根据预定的判定风险(q、B)定的判别风险率(a、B)和鉴别比(Dm)对布。对选用电子元件进行评价。2、试验的分类对预定的可靠性特征量(m0、m1)作出接收产品的平均失效间隔时间作接收或拒绝的判还是拒收判定，

6、并且，事先不能确定总试验决，并且不需要试验前确定总试验时间和经可靠性试验的分类很多。根据试验的用时间，则选用截尾序贯试验方案，见表2方费时，推荐选用序贯试验方案。途可以分为：可靠性鉴定试验、可靠性验收案4：1至4：7。3．2具体试验方案为：可靠性试验的样品试验，和可靠性验收试验等。按统计方法可假如生产方和使用方都愿意接受较高风应从检验合格的产品中随机抽取，其性能和以分为：定时截尾试验、定数截尾试验、序功能应符合产品规范的规定。从检验合格的险时，可以选用高风险定时定数截尾试验方贯试验等。案或短时间高风险的截尾序贯试验方案，见产品中随机抽取的样本的数量大小，样本

7、量2．1可靠性鉴定试验：可靠性鉴定试验的表1方案5：8至5：10或表2方案4：8至4：10。的大小由产品规范规定。试验时间。目的是验证生产厂是否有能力生产出满足可a)预计的试验时间在采用定时截尾试验定时截尾试验方案(见表1)靠性要求的产品。鉴定试验的结果用来判定表1定时(定数)截尾试验方案方案时，为选定方案的截尾时间除以样本量；在下列情况下产品的可靠性是否符合要求。采用序贯试验方案时，为选定方案的最大累可靠性验收试验：可靠性验收试验的目鬻女l《，Xlt瓣蝴积相关试验时间除以样本量。的是验证批量生产的产品是否能在规定的条鞯羲，U■《《畴骢tjb1采用定时截尾试

8、验方案时，当试验进件下满足可靠性的要求。验证的结果作