光谱测量的多光源合光系统

《光谱测量的多光源合光系统》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。

1、Electronictechnology·电子技术光谱测量的多光源合光系统文／赵晶其一，采用二向色镜法进行合光。既采用透射和反射滤光的方法进行合光。其二，光源叠加方式进行合光。既采用两光源在同一光轴方向直接叠加的方式进行合光。二向色镜法由于需要特定的二向色滤光片和复杂的光学系统，成本较高，调整困难。光源叠加方式进行合光需要将不同光源准直到同一轴线上，通常只能叠加两种左右的光源，谱段范围有限。【关键词】光谱测量合光系统2技术方案图2为解决上述技术问题，设计提供一种积1引言分方式的可调光波段、可调光强度的多点合光以满足从紫外到可见光的连续谱测量。但这种光源系统。能够方便、快捷的进行不同光

2、源的在对物体光谱特性进行瞬态测量时，要光源切换的方式在瞬态采集测量时(如光纤光合光。求所提供的发光光源的特征必须是连续的全波谱仪)是不可用的。解决上述问题的技术方案为：波段，或者是某些特定波段的光谱，为了获得在瞬态光谱测量中，要求所提供的发光环绕积分球分别采用光纤光缆连接耦合、更好的稳定性和大的动态范围。且各波段光强体全谱段的光谱能量同时照射至样品表面，目成像透镜及孔径光阑匹配不同的光源，各光源度信号强度尽量接近，即全波段的均衡光源。前所能提供的单一光源无法满足其光谱能量的输出功率连续、可调。如图一所示。传统的光谱扫描式分光光度计在测量时，带宽要求如从(200nm～800nm)。实施

3、方式由于光源辐射范围的限制，在整个波段内，需此外在实际测量中由于光源本身功率的结合实例，三光源合光。合光系统是通要更换不同的光源．如测量200nm～40Onto限制，单一光源的输出能量不能满足测量要求。过以下方案实现的：时采用氘灯，测量400nm～780nm时采用钨灯。通常的合光方法有：包括光源发生装置A、B、c，一组成像<<上接132页选择效果较好的电磁反射材料，置于电磁场中，图3所示)将防辐射罩与电热锅紧密相连，使(3)效果显著。经过细致测量和计算，用以反射电磁波的能量，改变其方向，减少直得电热锅与防护罩形成一个整体，以屏蔽周围这两个产品能够阻挡绝大多数射向人体的辐接射向人的辐射

4、强度，从而达到防护目的的技空间的电磁场。接地部分(如图4所示)。通射，将辐射对人体的影响降到了最小值，很大术。过接入铜线将两线插座变为三线插座，使得防程度上减少了电磁炉对人体的危害。护罩与大地相连，把两者连为一个大导体，以(4)市场前景可观。在实际做成成品时3电磁炉的电磁辐射防护消除电磁炉周围空间的电场辐射。候，我们就完全可以将这些防护装置做成有电设计原理：导电性材料将电磁干扰源或表2是实验记录及不作处理时实验数据。磁辐射各种成品的外壳，这样既美观，又起到者敏感源封闭起来，起到隔离干扰源与敏感源使用该产品时后，所有的测量值均为OV／防辐射的功能。的作用，可以实现对电磁辐射的两种屏蔽。

5、采m。达到预期效果，如表2所示。用电导率高的材料做屏蔽体，并将屏蔽体接地。参考文献4小结它是利用屏蔽体在高频磁场的作用下产生反方【1]赵凯华，陈熙谋．电磁学(下册)．北京向的涡流磁场与原来磁场抵消而削弱高频磁场(1)贴近生活。微波炉和电磁炉作为一高等教育出版社，1985．的干扰，又因屏蔽体接地而实现电场屏蔽。种常用家电，早已走进干家万户。对这些家电[2]郭硕鸿．电动力学[M]．北京：高等教育防护罩主箱的面板选用高铬合金材料，的电磁辐射防护与生活息息相关。出版社，1997．电磁屏蔽性能强通过对多种防辐射材料的比较(2)经济环保。制作微波炉和电磁炉的试验，包括银离子布料、铜、铝、波莫合金

6、及材料均来自于生活中随处可见的材料，如废旧作者单位一些吸波材料等，最终选择高铬合金作为本实易拉罐、废旧纱窗、铁皮、包装纸，废弃插座黄冈师范学院物理与电子信息学院湖北省黄验材料。电磁炉功率较大，产热较多，通过下头等。在资源紧缺的中国应该注意环保问题，冈市438000板及侧面散热孔能够有效散热。通过吸铁石(如注意废物再利用，制作资源节约型的产品。本作品很好的贯彻了这一点。ElectronicTechnology＆SoftwareEngineering电子技术与软件工程·133电子技术·Electronictechnology被测样品光源S1成像透镜R1反光镜M1反光镜M2成像透镜R2光源

7、S2图1便的调整各光波段的光谱能量，使其相互匹配。如图四所示。采用更换不同光谱段特性的光源能够方便的获得测量所需的各光波段的光谱。由于采用任意光源的合光，当一组发光光源的输出功率受限时，则可0^l垃^3O^lj。以采用叠加的方式，成倍增加其输出功率。图3(a)图3(c)3结论合光系统能够方便、快捷的进行不同光源的合光。解决了任意光波段的组合和光强度连续可．调的问题，并且解决了光源功率不够造成的输出能量偏低的问题。适于广泛应用。参考文献【1]陈熙谋．光学·近