Ni离子注入SiO2的表面形貌和光学吸收性能研究-论文.pdf

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1、第43卷第1期人工晶体学报Vo1.43No.12014年1月JOURNAL0FSYNTHETICCRYSTAI5January,2014Ni离子注入SiO2的表面形貌和光学吸收性能研究金腾,宁来元,申艳艳,高洁,于盛旺,贺志勇(太原理工大学表面工程研究所,太原030024)摘要:室温下,将能量为60keV,剂量范围在1×10~1×10”/cm的Ni离子注入到SiO:中。随后将样品在Ar气中退火(400—1000℃o采用原子力显微镜(AFM),掠入射x射线衍射(GXRD),紫外.可见分光光度计(uV—Vis)对退火前后样品的表面形貌,Ni纳米颗粒的形成和

2、热演变过程以及样品光吸收性能进行分析表征。结果表明:剂量为1×10/cm的样品退火前后均未能形成纳米颗粒;剂量为5×10/cm和l×10”/cm的样品中形成了纳米颗粒,退火后颗粒长大,样品表面凸起(Nj纳米颗粒)高度增加,数量减少。SiO:中Ni纳米颗粒的光吸收带在310—520nm,800oC后光吸收带变得明显且伴随峰位蓝移。经1000oC退火后,Ni纳米颗粒被热分解的O氧化为NiO纳米颗粒,NiO纳米颗粒的光吸收带位于300nm附近。关键词:离子注入;Ni纳米颗粒;表面形貌;等离子体共振吸收中图分类号:059文献标识码:A文章编号:1000-985

3、X(2014)01-0074-05StudyonSurfaceMorphologyandOpticalAbsorptionPropertiesofNiIonsImplantingSiO2JlNTeng,NINGLai—yuan,SHENYan—yan,GAOJie,YUSheng—wang,HEZhi—yong(ResearchInstituteofSurfaceEngineering,TaiyuanUniversityofTechnology,Taiyuan030024,China)(Received9August2013,accepted13Sep

4、tember2013)Abstract:Silica(SiO2)sampleswereimplantedatroomtemperatureby60keVNiionswiththeflueneesof1×1016_l×10"/cm,thentheywereannealedatdifferenttemperatures(4O0—1000oC)for1hinflowingargon(Ar).Thesllrfacemorphology,theformationandthestructureaswellastheopticalpropertiesofNinano

5、particleswereinvestigatedbyatomicforcemicroscope(AFM),grazingincidenceX—raydiffraction(GXRD)andUV—Visspectroscopy.Theresultsshowthatnonanoparticlesformedinthesamplesimplantedbythefluenceof1×10/cm.whileNinanopartieleswereobservedinthesamplesimplantedbvthefluences5×10/cm。and1×10”/

6、cmrespectively.AfterannealedinAr.Ninanoparticlesgrewandtheheightofhillocks(Ninanopartieles)increasedwithadecreaseinnumbers.TheweakopticalabsorptionbandsofNinanoparticleswerelocatedat310nmto520nmofthespectra,andabuleshiftappearedafter800oCannealing.After1000℃.Ninanopartieleswereo

7、xidizedintoNiOwhoseabsorptionbandlocatedatabout300nm.Keywords:ionimplantation;Ninanoparticle;surfaceplasmaresonance;surfacemorphology收稿日期:2013-08-09;修订日期:2013-09—13基金项目:山西省回国留学人员科研资助项目(2013-048);国家自然科学基金(51071106);山西省自然科学基金(2013011012-4);山西省自然科学基金(2012011021-4)作者简介:金腾(1989.),男,山

8、东省人,硕士研究生。E-mail:jint—china@163.corn通讯作者:贺志勇,教授

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