测试治工具期校验规范.doc

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1、測試治工具周期檢驗規范核准審核撰寫周紅裕適用范圍:工廠內測試線和OQC所使用之測試工治具文件編號本頁修改次數頁次PCQM-03-AR60-6-文件修訂履歷版次修訂內容與理由修訂頁次修訂日期V1.0初版發行測試治工具周期檢驗規范核准審核撰寫周紅裕適用范圍:工廠內測試線和OQC所使用之測試工治具文件編號本頁修改次數頁次PCQM-03-AR60-6-1/6.一.目的  避免廠內測試工治具使用時間過久,而造成不能正常測試,影響產品品質,特制訂工治具定期校驗規范加予管制,確保測試品質。二.適用範圍  工廠內測試線和OQC、CQC所使用之測試治工具皆屬之。三.定義3.1使用周期:這裡指測試工治具從

2、發放開始使用日到報廢日所經歷的最大有效天數,它由測試工治具材料本身及使用頻率決定。3.2檢驗周期:這裡指測試工治具在使用周期內,指定日期對其進行校驗,校驗OK,可繼續使用;校驗FAIL,則進行維修。3.3測試工具:由廠外購買回來,不需要加工,直接可以投入使用之測試物品。如CPU、HDD、K/B、DDR等。3.4測試治具:由MTE自行制作,或由MTE提供規格委託外包廠加工之測試物品,如聲卡治具、LOOPBACK治具、線材等。四.權責4.1MTE治具維護課:MTE治具維護課人員負責測試治具制作,發放,維修和定期校驗之執行。  4.2ME設備維修課:負責測試工具購買,發放,維修和定期校驗之職

3、責。4.3生產線和OQC、CQC:測試治工具之使用,並按照此檢驗規范定期對測試治工具進行相關校驗。4.4IPQC:稽核測試線及OQC是否按照此規范內容作業。五.內容5.1測試治具的檢驗   MTE治具維護課對所制作測試治具必須貼上制作日期和使用日期,填寫附件一<<測試治工具制作及檢驗標簽>>。   5.1.1 CPU腳座校驗CPU腳座校驗標准請依照<>(文件編號:PCQM-03-T00I)第3.6項CPU使用操作注意事項與保養及其風扇搭配。測試治工具周期檢驗規范核准審核撰寫周紅裕適用范圍:工廠內測試線和OQC所使用之測試工治具文件編號本頁修改次數頁次PC

4、QM-03-AR60-6-2/6   5.1.2 Memory、AGP、PCI、AMR(CNR)轉接腳座檢驗     5.1.2.1 Memory、AGP、PCI、AMR(CNR)轉接腳座由生產線人員每班次自行檢驗一次,如出現FAIL,則送治具維修課進行修理,無法修復的則立即更換,並填寫<<測試工具每日檢查表>>(附件二)。檢驗內容如下:A.Memory、AGP、PCI、AMR(CNR)轉接腳座金手指部分檢驗請按照5.3金手指檢驗標准檢驗。B.Memory、AGP、PCI、AMR(CNR)轉接腳座功能檢驗則在OK板上對相應的功能測試三次,如均OK,表示該腳座功能正常,如三次測試均FAI

5、L,則做不良治具送修,如測試不穩定則找MTE隨線技術員確認:Memory腳座檢驗核對Memory值,如正確則OK;AGP腳座檢驗插上AGP顯卡,在WINXP下測試如無花色擋機則OK;AMR(CNR)腳座則進行AMR(CNR)功能測試,如測試PASS則OK。 C.Memory、AGP、PCI、AMR(CNR)轉接腳座每個月上旬分批送MTE治具維修課進行檢驗,對以達到使用壽命周期的轉接腳座進行更換。檢驗標准請參照附件<<測試治具使用、校驗周期評估一覽表>>。      5.1.2.2 AGP腳座檢驗標準1.)測量使用經過校驗合格的電子游標卡尺測量(如圖一)。 2.)測量AGP腳座的部位:A

6、GP保護腳座的金手指(如圖二)。 3.)測量必須從不同部位測量﹐測量時注意動作的正確與讀數的方法。  3.1)測量第一部位時,游標卡尺與金手指平行,且游標卡尺壓在金手指銅皮上(如圖三). 3.2)測量第二部位時為AGP腳座的另一頭。 圖一          圖二          圖三 測試治工具周期檢驗規范核准審核撰寫周紅裕適用范圍:工廠內測試線和OQC所使用之測試工治具文件編號本頁修改次數頁次PCQM-03-AR60-6-3/63.3)測量中間部位時可斜著測量但需注意游標卡尺與腳座接觸良好,中間無縫隙.3.4)以上部位均需測試三次后﹐取最大值。4.)測量每個部位所得之最大值,必須在

7、規定范圍內,則為良品,任何一部位測量值超過標准范圍則為不良品。     5.)AGP腳座的可使用之標准范圍為1.62MM-1.68MM。 6.)AGP腳座生產線使用的由生產線人員按照以上標准自行檢驗;倉庫庫存AGP腳座由ME設備維修課檢驗OK,貼上OK標簽後,再發給生產線使用。     5.1.2.3 AGP腳座使用注意事項      1.)所有帶AGP槽的主板測試時要使用對應的AGP腳座測試:即AGP124PINSOCKET主板只能使用124

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