电流密度对熔融盐电沉积金属钨镀层性能的影响.pdf

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1、⋯Vo1.3tN0.5【电沉积技术】电流密度对熔融盐电沉积金属钨镀层性能的影响刘艳红木,张迎春,刘其宗,李旭亮,江凡,葛昌纯(北京科技大学,北京100086)摘要:采用二元熔盐氧化物Na2WO4和WO3,以脉冲电沉积的极高的沸点(5927oC),极低的蒸汽压(在熔点时)以及方法在占空比0.5、脉冲频率1000Hz、电沉积温度850。C的条高硬度。其化学性质也非常稳定,与许多单质和化合物件下,于热沉材料CuCrZr之上获得了金属钨镀层。讨论了电流都不反应,因而具有很好的耐蚀性B-21。金属钨正因为密度对钨镀层微观结构、显微硬度、结合强度等性能的影响。3-电

2、流密度为2O~30mA/cm2时,能够获得表面致密均匀的钨具有这些优异的性能,所以被广泛应用于光学、电子、镀层。随着电流密度的增大,电流效率呈现先增大后下降的趋航空、军事、能源等各个领域。钨还具有高的溅射阈值,势,当电流密度为30mA/cm时,电流效率达到最大值92.64%。高抗等离子体冲刷能力和低的氚滞留,因而被选作国关键词:铜一铬—锆合金;钨;熔盐;电沉积;电流密度;微观际热核聚变实验堆ITER(InternationalThermonuclear结构:电流效率ExperimentalReactor)中的面向等离子体材料PFMs中图分类号:TF1l1

3、.522;TQ151.9文献标志码:A文章编号:1004—227X(2012)05—0001—05(PlasmaFacingMaterials)和偏滤器的表面材料【]】。但是Effectofcurrentdensityonpropertiesoftungsten钨也有一些性能限制了它的应用,如高硬度、高脆性coatingelectr0depOsitedfrommoltensalt//LIU和高密度,使得它很难加工。因此,切实可行的方法Yan-hong,ZHANGYing—chun,LIUOi—zong,LIXu—liang,是采用涂层技术,将钨与其他材料

4、结合,作为PFMsJIANGFan,GEChang.chunAbstract:Metallictungstencoatingswereobtainedby和结构材料使用l4]。目前,真空等离子体喷涂VPSpulsedelectrodepositiononCu_C卜_Zralloy.aheatsink(VacuumPlasmaSpray)、物理气相沉积PVD(Physicalmaterial,frombinarymoltensaltNa2WO4_W0at850。CVaporDeposition)和化学气相沉积CVD(Chemicalwithdutycycl

5、e0.5andfrequencyl000Hz.TheeffectofVaporDeposition)技术被广泛应用于钨涂层的制备。应currentdensityonmicrostructure,microhardness,and用这些技术虽然已经在各种基体材料上获得了较好性bondingstrengthwerediscussed.Uniformandcompacttungstencoatingswereobtainedwhenthecurentdensity能的金属钨涂层【5】,但是人们也在不断地寻找成本更variedfrom20rnAfcm2to30m

6、A/cme.Thecurentefficiency加低廉、设备要求更加简单的技术来获得同样性能或wasincreasedinitiallyandthendecreasedwiththeincreasing更好性能的钨涂层。电沉积技术就是一种比较有效的ofcurentdensity,andreachedthemaximumvalue(92.64%)方法。但是从水溶液中获得纯金属钨很困难,因而必at30mh/cmz.须从熔融盐体系中进行电沉积圳。Keywords:copper-chromium-zirconiumalloy;tungsten;moltensa

7、lt;electrodeposition;curentdensity;microstructure;由于熔融盐电沉积必须在较高的温度下进行,电currenteficiency沉积的同时也是钨与基体金属互扩散的过程,互扩散First—author’Saddress:UniversityofScienceand层使得沉积层与基体间结合得更加牢固。目前国内外TechnologyBeijing,Beijing100083,China通过熔融盐电沉积金属钨镀层已经取得了一定的成果。Davies等人最早在1965年从熔融的硼酸盐一钨酸1前言盐中电沉积出],接下来人们

8、又在熔融的氟化物中钨属过渡金属元素,有极高的熔点[(3410士20)。C],得到

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