基本门电路的逻辑功能及参数测量.docx

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1、基本门电路的逻辑功能及参数测量实验设备及芯片1.74HC202.74HC273.74HC004.74HC86574HC046实验内容及步骤1.测试芯片的逻辑功能并推导出逻辑表达式74HC00（二输入与非门）l首先进行静态测试，将14号Vcc接入+5V电源，7号GND接地，将输入A,B接至发光二极管，拨动开关以调节输入端的电位高低，若二极管发光则说明与之相连的输入口是高电平，反之则是低电平，将3号也接入二极管，根据发光情况判别电位的高低记录真值表。ABY001011101110根据真值表逻辑表达式为Y=A’+B

2、’MUltisiim静态仿真动态测试先选择码发生器-常用码-二进制-回主菜单-运行设置-生成，此时将SQ0,SQ1接至输入端，再将A,B,Y接至CH0,CH1,CH2，观察并记录波形波形满足逻辑表达式Multisim动态仿真74HC04（反相器）仿照测试74HC00的步骤进行测试得到真值表AY0110逻辑表达式为Y=A’Multisim静态测试动态测试仿照之前操作，记录波形Multisim动态测试74HC86（二输入异或门）静态测试仿照之前步骤，记录真值表ABY000011101110逻辑表达式为Y=AB’+

3、A’BMultisim静态测试动态测试，仿照之前操作，记录波形Multiism动态测试74HC27仿照之前操作记录真值表ABCY00010010010001101000101011001110Y=A’+B’+C’Multisim静态仿真动态测试仿照之前步骤，记录波形MUltisim动态测试74HC20静态测试仿照之前操作记录真值表ABCDY0XXX1X0XX1XX0X1XXX0111110逻辑表达式为Y=A’+B’+C’+D’Multisim静态仿真动态仿真仿照之前步骤，记录波形MUltisim动态仿真