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时间:2020-09-05
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1、面电阻的测量原理薄膜电阻通常以面电阻(或方块电阻、薄层电阻)来表示。按照电阻定律:R=ρ×L/S(1)式中R代表样品电阻,ρ代表样品电阻率,L代表电流方向上的样品长度,S代表样品垂直于电流方向上的截面积。可以知道面电阻的测量原理如下:面电阻如图1所示:G表示玻璃原片;ITO表示被溅射在玻璃原片上的氧化铟锡膜层;D表示膜层的厚度;I表示平行于玻璃原片表面而流经膜层的电流;L1表示在电流方向上被测膜层的长度;L2表示垂直于电流方向上被测膜层的长度。根据式(1),则膜层电阻R为:R=ρ×L1/(L2×D)式中ρ为膜层材料的电阻率。当式中L1=L2时,即为膜层的面电阻R□:R□=ρ/D(
2、单位:Ω∕□)(2)它表示膜层的面电阻值仅与膜层材料本身和膜层的厚度有关,而与膜层的表面积大小无关。在实际的测量中,手提式仪器基本上采用“直排四探针”方法测量膜层的面电阻。原理如图2所示。图中1、2、3、4表示四根探针;S表示探针间距;I表示从探针1流入、从探针4流出的电流(单位:mA);V表示探针2、3间的电位差(单位:mV)。此时,膜层的面电阻R□(式(2))为:R□=4.53×△V/I(单位:Ω∕□)由上式可见,只要在测量时给样品输入适当的电流I,并测出相应的电位差△V,即可得出膜层的面电阻值。
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