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1、文档名称文档密级华为耳机外观检验标准1检验环境、要求：1.1温度、湿度：温度，15℃-35℃；湿度，20%-75%。1.2距离人眼与被测物表面的距离为300mm-350mm1.3位置初始时，产品与桌面成45度，检视角度垂直于产品检视面，随后产品上下左右各转动45度.1.4照明。冷白荧光灯（光源在检测者正上方），光照度为700-1000Lux1.5检视时间外观表面标准检视时间为10±5S。允许最长检视时间15S。在这15S内缺陷仍不可见，则此检视件视为合格.建议一级面检视时间为7s，二级面检视时间为5s，三级面检视时间为3s。1.6检视人员要求检视人员视力需在1
2、.0以上（含矫正视力）1.7检验工具：直尺/卷尺，测试工装，菲林片，塞规。2缺陷代码表代码名称（单位）代码名称（单位）N数目（个）D直径(mm)专业文档供参考，如有帮助请下载。文档名称文档密级深(或高)度L长度(mm)H(mm)W宽度(mm)DS距离(mm)2S面积(mm)3缺陷总数要求单一零部件每个面允许有1个允收缺陷种类，但色差等缺陷不计入种类统计。A类标准外观总缺陷不超过2个，B类标准外观总缺陷不超过3个。4终端耳机产品外观检验标准备注外观不良A级标准B级标准项D≤0.25,N≤2,DS≥15（1）两个及两个同色点D≤0.30,N≤2,DS≥15以上的点
3、缺陷之间距离不能小于异色点D≤0.20,N≤2,DS≥15D≤0.25,N≤2,DS≥1515mm；2（2）单位面积（100mm2）表示内N=3时允许有1单位面积（100mm）表示内N=3时允许有0.1≤D<0.15缺处，大于3时不允许。在10mm×10mm的单1处，大于3时不允许。在10mm×10mm麻点陷点的数量N≥3位面积内，D≤0.1的缺陷点的数量N<3则的单位面积内，D≤0.1的缺陷点的数量时定义为麻点。不计。N<3则不计。L≤3.0,W≤0.05,N≤1（1）当w<0.02mm耳塞壳体、咪壳、耳塞壳体、咪壳、L≤3.0,W≤0.10,时，细划伤忽略
4、领夹、接听键领夹、接听键N≤1不计；细划伤L≤1.0,W≤0.10,（2）划伤之间距插头、插头端子L≤1.0,W≤0.05,N≤1插头、插头端子N≤1离不能小于15mm；当碰伤以L≤10.0,W≤0.15,线缆L≤5.0,W≤0.15,N≤3线缆点状形式存在N≤3时，以点缺陷规耳塞壳体、咪壳、耳塞壳体、咪壳、格要求。不允许不允许领夹、接听键领夹、接听键硬划伤插头、插头端子不允许插头、插头端子不允许专业文档供参考，如有帮助请下载。文档名称文档密级L≤5.0,W≤0.10,线缆L≤5.0,W≤0.10,N≤1线缆N≤1点状点状不管控/D≤0.6,DS≥25,N≤3
5、线状线状不管控L≤3,W≤1.0,DS≥压痕（线缆）25,N≤2扎带痕扎带痕允许但需依据签样。允许但需依据签样。修饰不良（合1.耳塞上下壳、咪壳和耳机线体：H≤0.11.耳塞上下壳、咪壳和耳机线体:H≤0.1/模线、毛边且不刮手且不刮手等）2.插头外模壳/SR（老鼠尾）：H≤0.152.插头外模壳/SR（老鼠尾）：H≤0.15不可擦除脏污：不允许不可擦除脏污：不允许/脏污可擦除脏污：脏污比例≤5%(抽检比例)可擦除脏污：脏污比例≤15%(抽检比例)不允许不允许如插头、PIN针等断裂、变形、生锈、氧化参照ID签样或限度样参照ID签样或限度样/色差/粗细不均（印
6、
7、W1-W2
8、≤0.1W1，即对标准W1允许的文字的不均匀度为±10%（W1为设计尺寸，W2刷或镭雕）为实际尺寸）图文倾斜倾斜不超过1.5度/其他缺陷若有争议，可参照签样。/4.1终端耳机整机外观检验要求4.1.1间隙要求：A类标准B类标准备注耳塞胶套与耳塞骨架≤0.15mm≤0.20mm不能看到喇叭缺口（不含美工间隙）耳塞胶套与耳塞骨架台≤0.15mm≤0.20mm测量时耳塞与眼睛在同一高阶度，耳塞背部(L或R一面)正对眼睛。专业文档供参考，如有帮助请下载。文档名称文档密级耳塞上下壳≤0.15mm≤0.20mm/咪壳上下壳≤0.15mm≤0.20mm/咪壳与S
9、R（老鼠尾）≤0.20mm≤0.25mm测量时耳麦正常放置在水平桌面上插头注塑外模与连接器≤0.15mm≤0.15mm适用于20pin插头耳机4.1.2段差要求：A类标准B类标准备注装配≤0.10mm≤0.20mm软胶塞比耳机胶塞座直径大超声波(高度差)≤0.20mm≤0.20mm/溢胶（高度差）≤0.10mm≤0.10mm/备注（示例）3.接听按键、音量键、开机键等能正常按下（滑动）和弹起，不允许出现按不动（死键）4.各标签内容正确、标签位置正确，不允有折皱、翘起。专业文档供参考，如有帮助请下载。
