MT99XX测试机的维修报告_毕业设计.doc

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1、毕业设计报告课题：MT99XX测试机的维修报告系部：电气工程系专业：机电一体化技术班级：机电121姓名：仝帅学号：23指导老师：王志伟2015．3目录摘要3第一章序言41.1测试机的发展41.2测试系统的组成5第二章测试设备的简介62.1测试设备的一般结构62.2测试原理—功能测试简介82.2.1功能性测试82.2.2测试向量82.2.3创建输入信号92.2.4输出信号测试9第三章MT99XX测试机简介103.1设备总的信息概括103.1.2主界面的介绍113.1.3设备基本的结构和功能123.1.4温

2、度范围123.1.5导向原理123.1.6空气加速原理简介143.1.7设备各模块间的连接143.2BUH的总体框架153.2.1Loader部分153.2.2Handler部分163.2.3Unloader部分173.3传感器的分布183.3.1Soakarea中温度传感器的分布183.3.2Contactarea中温度传感器的分布193.3.3在CUH处的温度传感器分布203.3.4温度传感器号码，分布，控制板一览表203.3.5通信接口213.3.6下图所示的是BUH中的次级模块的代码及分布22第

3、四章测试机故障分析244.1分选机常见异常的分析244.2分选机常见故障的排除264.3分选机常见部位的调节344.3.1VacuumCC的Bodystopper高度的调节344.3.2Singulator的调节35第五章设备维修保养分析36总结37MT99测试机的维修报告摘要：随着我国集成电路产业的飞速发展，集成电路测试和服务在产业链中的作用将越来越大.专业化的集成电路测试业是集成电路产业中一个重要组成部分，从产品设计开始至完成加工全过程，提供给客户的产品是否合格就是通过测试完成的.在当今集成电路产业

4、中，由于专用测试仪的局限性、非标准性以及专用测试仪开发的周期过长的问题，使得专用测试仪的使用受到了较大的限制.而通用测试仪以它的通用性、标准性、便捷性以及开放性迅速成为了集成电路测试行业的主流。关键词：MT99XX、维修、保养第一章序言1.1测试机的发展1958年德州仪器公司（TI）研制发明了世界第一块集成电路7400（与非门逻辑电路）以来，便诞生了世界上第一台集成电路测试机，专用于测试自己产品的INHOUSETESTER。同样，世界上第一颗模拟（Analog）集成电路是Fairchild公司的运算放大

5、器741，同时，便诞生了世界上第一台模拟集成电路测试机。1970年，Fairchild公司推出了世界上第一代成功的商业化的数字集成电路测试机Sentry7，它采用24位BUS，ECL电路，2MHz的minicomputer，体积庞大，主要性能为：DATARATE为10MHz，最大测试通道为60PIN；直到1990年为止，先后推出S-10，S-20，S-21等型号，在1970年到1990年这二十年期间，Sentry机器凭借其优良的性能，在测试业界独岭风骚，无任何竞争手。随着386CPU的出现，集成电路的集

6、成度和工作频率大幅度提高，诞生了第二代集成电路测试机，主要特点为：测试机硬件系统开始采用ASIC，软件系统则引入工作站，用UNIX操作系统。其代表性的机器有法国的SCHLUMBERGER以及TRILLIUM。Sentry公司卖给SCHLUMBERGER后，便推出第二代产品S15及S50，而Sentry公司的部分员工成立TRILLIUM公司，推出50MHz、256PIN的数字测试机，赢得较大的市场，SCHLUMBERGER推出S15、S50失败后，推出先进的ITS9000系统，此系统在软件和硬件上均代表当

7、时的最高水平，软件采用高级的图形界面，测试程序采用模块化结构，硬件系统采用SEQUENCEPERPIN结构（每一PIN均有独立的PMU，TG，VIH，VIL，VOH，VOL及SEQUENCE），此时ITS9000机器独霸市场，TRILLIUM不得已卖给CREDENCE，CREDENCE推出SC212系统，它在软件方面引进ITS9000的优点，在硬件方面采用CMOS电路，向小型化发展，此系统推出后，打败了众多大系统机台。随着个人计算机及WINDOWS操作系统的广泛普及，如今，出现了第三代数字集成电路测试机

8、，并具备如下特点：采用广泛普及的PC机及WINDOWS操作系统，易学易用，并向智能化发展，硬件系统向小型化、模块化、标准化发展。其代表机器有TERADYNE的J750，用于工程验证的HILEVEL、IMS。第三代测试机的出现，使得测试机的购买成本及维护成本大大降低，厂家只需购买自己需要的模块部分，而不必花过多的钱去买自己用不到的部分，并且，测试机也能随时扩充新的功能。综上，集成电路测试机基本上沿着小型化、模块化、智能化方向发展。测试系统称为