lte_随机接入技术研究

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1、LTE随机接入研究第6页共104页目录图表4表格71引言81.1编写目的81.2预期读者和阅读建议81.3缩写术语82技术特征102.1LTE概述介绍102.2LTE系统中随机接入过程概要介绍103有关随机接入相关提案及发展过程介绍和讨论113.1随机接入的目的113.2非同步随机接入的时频结构113.2.1随机接入资源与数据资源的复用方式113.2.2多个随机接入资源之间的复用方式133.2.3随机接入资源的传输带宽163.2.4PRACH携带控制信息的方式18PRACH包长度的选取19超大小区PRACH的考虑21CP长度的确定223.2.8PRACH发送

2、之前UE需要获取的信息243.2.9TDD模式随机接入资源设计的考虑24非同步随机接入的前导（Preamble）设计343.3.1前导（Preamble）序列设计343.3.2序列的长度353.3.3Preamble序列的循环移位操作及相关参数的确定363.3.4Preamble序列顺序和分组的考虑393.4高速特殊场景的考虑423.5非同步随机接入流程493.6非同步随机接入的功率控制513.7同步随机接入过程543.7.1同步随机接入设计的考虑与目标543.7.2同步随机接入的设计543.8上行同步保持技术56436.211协议中关于随机接入的Final

3、ization614.1非同步随机接入时频资源的最终设计614.1.1FS1（FDD）模式的结构设计614.1.2FS2（TDD）模式的结构设计：62非同步随机接入前导（Preamble）格式644.1.4时频结构格式644.2前导序列Preamble的最终设计694.3基带信号生成方式725随机接入相关算法研究745.1随机接入的相关算法设计74第6页共104页5.1.1随机接入检测之前准备工作74随机接入前导（Preamble）序列检测78对于检测性能影响的因素825.1.4模块1855.1.5模块2855.2上行同步保持算法855.2.1上行同步保持资

4、源设计介绍855.2.2上行同步保持检测算法87对于检测性能影响的因素91结论以及建议947参考文献958附录988.1Zadoff-Chu序列特性和性能分析988.1.1Zadoff-Chu序列自相关属性988.1.2Zadoff-Chu序列互相关属性998.1.3Zadoff-Chu序列频域属性1018.1.4Zadoff-Chu序列对整数倍频偏和采样偏差的影响1018.1.5Zadoff-Chu序列插值后的属性1028.2GCL序列特性和性能分析104第6页共104页图表图表31FDM、TDM、TDM/FDM随机接入结构（PRACH与数据的分集）[8

5、]12图表32CDM随机接入资源结构（PRACH与数据的复用）[2]13图表33TDM/FDM模式随机接入资源结构（多个PRACH之间的分集）[2]13图表34随机接入模式与RA复杂度、延迟的关系[32]14图表35TexasInstruments随机接入模式时隙配置[32]15图表36PRACH频域资源放置位置的设计[34]16图表371.25、5.0、20MHz系统能量包络与相应检测门限[50]17图表38PRACH前导序列带宽与检测性能示意图（AWGN）[50]17图表39PRACH前导序列带宽与检测性能示意图（TU03）[50]18图

6、表310PRACH携带控制信息方案1[5]18图表311PRACH携带控制信息方案2[5]19图表312PRACH携带控制信息方案3[5]19图表313随机接入0.5ms子帧及对应前导（Preamble）设计[8]19图表314NodeB-UE距离与随机接入Preamble长度关系图[11]20图表315随机接入Preamble在多种模式下性能曲线[11]20图表316Panasonic、DoCoMo针对随机接入Preamble结构的提案[11]21图表317RAN-#46Bis随机接入Preamble结构[12]21图表318对于超大小区

7、Preamble结构设计[13]22图表319在低IDFT采样率时CP的插值[64]23图表320在系统采样率时CP的插值[64]23图表321TDD模式帧结构设计[53]24图表322Ericsson针对FrameStructure2（TDD）MiddleBurst结构设计[22]26图表323FrameStructure2（TDD）关于PRACH结构设计[2]26图表324CATT针对FrameStructure2（TDD）短RACH结构设计[21]27图表325Ericsson针对FrameStructure2（TDD）短RACH结构设计

8、[22]27图表326Ericsson关于TDD多