track光刻胶显影工艺

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1、TRACK工艺简介潘川2002/1/28摘要本文简要介绍关于涂胶、显影工艺的一些相关内容。引言超大规模IC对光刻有五个基本要求,即:高分辨率、高灵敏度、精密的套刻对准、低缺陷和大尺寸上的加工问题(如温度变化引起晶圆的胀缩等)。这五个基本要求中,高分辨率、高灵敏度和低缺陷与涂胶、显影工艺有很密切的关系。第一节涂胶工艺1光刻胶光刻胶主要由树脂(Resin)、感光剂(Sensitizer)及溶剂(Solvent)等不同材料混合而成的,其中树脂是粘合剂(Binder),感光剂是一种光活性(Photoactivity)极强的化合物,它在光刻胶内的含量和树脂相当,两者同

2、时溶解在溶剂中,以液态形式保存。除了以上三种主要成分以外,光刻胶还包含一些其它的添加剂(如稳定剂,染色剂,表面活性剂)。光刻胶分为正胶和负胶。负胶在曝光后会产生交联(CrossLinking)反应,使其结构加强而不溶解于显影液。正胶曝光后会产生分解反应,被分解的分子在显影液中很容易被溶解,从而与未曝光部分形成很强的反差。因负胶经曝光后,显影液会浸入已交联的负性光刻胶分子内,使胶体积增加,导致显影后光刻胶图形和掩膜版上图形误差增加,故负胶一般不用于特征尺寸小于0.3um的制造。典型的正胶材料是邻位醌叠氮基化合物,常用的负胶材料是聚乙稀醇肉桂酸酯。CSMC-HJ

3、用的是正性光刻胶。在相同的光刻胶膜厚和曝光能量相同时,不同光刻胶的感光效果不同。在一定的曝光波长范围内,能量低而感光好的胶称为灵敏度,反之则认为不灵敏。我们希望在能满足光刻工艺要求的情况下,灵敏度越大越好,这样可减少曝光时间,从而提高产量。2涂胶涂胶是在结净干燥的圆片表面均匀的涂一层光刻胶。常用的方法是把胶滴在圆片上,然后使圆片高速旋转,液态胶在旋转中因离心力的作用由轴心沿径向飞溅出去,受附着力的作用,一部分光刻胶会留在圆片表面。在旋转过程中胶中所含溶剂不断挥发,故可得到一层分布均匀的胶膜。涂胶过程有以下几个步骤:1.1涂胶前处理(Priming):要使光刻

4、胶精确地转移淹膜版上的图形,光刻胶与圆片之间必须要有良好的粘附。在涂胶之前,常采用烘烤并用HMDS(六甲基二硅胺)处理的方法来提高附着能力。因圆片表面通常含有来自空气中的水分子,在涂胶之前,通常将圆片进行去水烘烤以蒸除水分子。我们一般采用100℃/5s.经过烘烤的片子,涂一层增粘剂HMDS。涂HMDS的方法通常有两种,一种是旋转涂布法,这种方法的原理同光刻胶的涂布方法。另一种是汽相涂底法(VaporPriming),是将气态的HMDS在圆片表面形成一层薄膜。汽相涂底法效率高,受颗粒影响小,目前生产中大多采用此法,并与去水烘烤在同一容器中完成。CSMC-HJ的

5、HMDS处理工艺为100℃/55s。确认HMDS的效果用接触角计测量,一般要求大于65度.前处理须注意来片衬底必须是干净和干燥的,HMDS处理后应及时涂胶,HMDS处理不能过度,安全使用HMDS1.1涂胶(COATING):涂胶主要控制胶厚及胶厚的均匀性。胶厚主要与光刻胶的粘度和涂胶时的转速有关。一般较薄的胶(1.0um左右厚度/4000转速)其粘度在24CP左右,而较厚的胶(2.0um左右厚度/4000转速)其粘度在48CP左右。对于同一种光刻胶,其膜厚主要受涂胶时的转速影响,转速越大,胶厚越薄,一般工艺上常用MOTOR转速在3000到5500之间,这时膜

6、厚的稳定性较好。影响膜厚均匀性的因素主要有:环境温度、环境湿度、排风净压力、光刻胶温度、旋转马达的精度和重复性、预旋转速度、预旋转时间、最终旋转速度、最终旋转时间和最终旋转加速度、喷胶状况和回吸量等因素。环境温度的变化大大影响了圆片表面的涂胶均匀性,如图(一)所示。将环境温度设定于摄氏23度,当环境温度变化而其它条件基本不变时,溶剂的挥发随温度的升高而加快。环境温度一旦超过23度就会引起圆片边缘的膜厚的增长,从而影响圆片表面涂胶的均匀性,另外,当环境温度低于23度时,由于溶剂的挥发相对比较慢,胶的流动性稍好。因此膜厚在圆片半径中间减少,在旋转的过程中,溶剂也

7、在不停地挥发,造成中间比边缘的粘性要小,因此,无论在何种温度下,边缘的胶厚都会有所增长。环境湿度的变化也影响了圆片表面的涂覆均匀性,如图(二)所示。在其它条件基本恒定的情况下,溶剂的挥发随着环境湿度的降低而加快,平均膜厚对湿度的变化是:每1%的湿度降低会引起9%的膜厚增长;旋转腔周围空气的干燥引起圆片边缘的溶剂挥发加快,从而影响了圆片表面的膜厚均匀性。另一方面当环境湿度小于40%时,溶剂的挥发被抑制,会出现圆片中心比边缘厚的不均匀现象。一般情况下,环境湿度对圆片表面涂胶均匀性影响远不如环境温度那么强烈。排风静压力的变化大大影响了圆片表面的涂胶均匀性,如图(三

8、)所示。随着排风风速(静压力)的增长,腔内不均匀的蒸

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