大学计算机基础作业-论文排版

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1、目录摘要11实验32结果与讨论2.1薄膜的结构与形貌32.2薄膜的电学和光学特性53结论8退火对ZnO/Cu/ZnO透明导电薄膜性能的影响EffectsofAnnealingonPropertiesofZnO/Cu/ZnOTransparentConductiveFilm李文英,钟建,张柯,汪元元,尹桂林,何丹农。LiWen—ying1,ZHONGJian2,ZHANGKe2WANGYuan—yuan2,YINGui一1in2.HEDan—nong1’2(1上海交通大学材料科学与工程学院,上海200240;2纳米技术及应用国家工程研究中心,上海

2、200241)(1SchoolofMaterialsScienceandEngineering.ShanghaiJiaoTongUniversity,Shanghai200240,China;2NationalEngineeringResearchCenterforNanotechnology,Shanghai200241,China)摘要:室温下利用磁控溅射制备了ZnO/Cu/ZnO透明导电薄膜,采用X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)、扫描电子显微镜(SEM)、霍尔效应测量仪和紫外一可见分光光度计研究了薄膜的结构、形貌、电学及光学等

3、性能与退火温度之间的关系。结果表明:退火前后薄膜均具有ZnO(002)择优取向,随着退火温度的升高,薄膜的晶化程度、晶粒粒径及粗糙度增加,薄膜电阻率先降低后升高,光学透过率和禁带宽度先升高后降低。150。C下真空退火的ZnO/Cu/ZnO薄膜的性能最佳,最高可见光透光率为90.5%,电阻率为1.28×10-4Q·cIn,载流子浓度为4.10×1021cm。关键词:退火;ZnO;Cu;透明导电薄膜9中图分类号:TN304;0484文献标识码:A文章编号:1001—4381(2015)01—0044—05Abstract:ZnO/Cu/ZnOtra

4、nsparentconductivethinfilmwaspreparedbymagneticsputteringdeposi—tionatroomtemperature.Therelationshipsbetweenpost—annealingandthestructure,morphology,electricalandopticalpropertiesofthemultilayerfilmwereinvestigatedbyX—raydiffraction(XRD),canningelectronmicroscope(SEM)。Halle

5、ffectmeasurementsys—temandUV—Visspectrophotometer.TheresultsindicatethatZnOfilmshave(002)preferentialori—entationbeforeandafterannealing.Withtheincreaseofannealingtemperature,thecrystallization,grainsizeandsurfaceroughnessincrease.Theresistivitydecreasesatfirstandthenincreas

6、es,whiletheopticaltransmittanceandbandgapenergyincreaseatfirstandthendecrease.ZnO/Cu/ZnOfilmannealedat150℃hasthebestperformancewiththehighesttransmittanceof90.5%inthevisiblerange,aresistivityof1.28×10—4n·cmandacarrierconcentrationof4.10×1021cm一3.Keywords:annealing;ZnO;Cu;tra

7、nsparentconductivefilmZn0是一种Ⅱ一Ⅵ族宽禁带半导体,在可见光范围内具有高的透过率。作为一种透明导电氧化,ZnO在平板显示器、太阳能电池、有机发光二极管、液晶显示器等领域有着广泛的应用前景。透明导电薄膜要求在可见光范围内具有高透过率和低电阻率,然而,纯Zn0具有高的电阻率,因此,有必要引入一种方法来降低其电阻率。半导体一金属一半导体(D-M—D)结构将金属与半导体相结合,中间层的金属可以提供导电电子,提高薄膜的导电性,同时,上下两层的半导体,又可以抵消中间层对光的散射作用,从而保证其透光性。常用的金属有Au,Ag和Cu,

8、因为它们具有高的导电性,但是,Au和Ag的价格比较昂贵,不利于大规模使用,而Cu与Ag相比具有相当的电导率(≈1.7×10“Q·cm);另一方面,Cu

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