czt纳米薄膜的结构与表面形貌(定稿)-2

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时间:2018-05-17

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1、真空蒸发沉积CdZnTe纳米薄膜的结构与形貌*基金来源:国家自然基金50772091,第一批中国博士后科学基金特别资助基金,凝固技术国家重点实验室自助研究基金通讯作者:介万奇作者简介:周昊(1986-),男,江苏盐城人,在读硕士,师承介万奇教授从事光电信息功能材料研究。周昊,介万奇,查钢强,高俊宁(西北工业大学凝固技术国家重点实验室,陕西西安710072)摘要:本文采用真空蒸发沉积技术在ITO玻璃上制备得到CdZnTe纳米晶薄膜,并利用台阶仪、X射线能谱仪(EDS)、X射线衍射仪(XRD)和原子

2、力显微镜(AFM)研究了CdZnTe薄膜厚度、成分、结构和形貌特征。实验结果表明:薄膜在(111)面表现出明显的择优生长特性。在薄膜生长初期,纳米薄膜中存在一定程度的非晶态富集Te,但随着沉积时间延长,薄膜成分向化学计量比逼近,结构也向闪锌矿CdZnTe转变。薄膜表面形貌平整,粗糙度Ra约为2-5nm。随着沉积时间的延长,薄膜形貌由晶粒堆砌状向多晶层片连接状转变。在沉积时间分别15min、30min和45min时,薄膜的厚度依次分别约为100nm、300nm和500nm而薄膜的晶粒平均尺寸依次分

3、别为43.15nm、30.81nm和71.94nm。关键词:CdZnTe薄膜;纳米;结构;形貌中图分类号:TN304.2文献标识码:A1.引言CdZnTe是一种光电性能优异的II-VI族化合物半导体,具有吸收系数高,禁带宽度与太阳光谱相匹配等优点。因此,CdZnTe多晶薄膜被用来制备CdS-CdZnTe太阳能顶电池[1]。此外由于载流子在CdZnTe薄膜内的漂移距离短,可以有效地提高收集效率,因此CdZnTe薄膜可用于制备高性能低成本室温X射线探测器及γ射线探测器[2]。CdZnTe薄膜既可由化

4、学方法制备,也可通过物理气相沉积得到。化学法主要有非水溶剂中的电化学沉积[3];物理气相沉积中使用最多的是热蒸发法[4],此外还有近空间升华法[5]等。这些方法常被用来制备CdZnTe薄膜探测器,薄膜厚度一般为几百微米。薄膜的厚度对其结构和性能有着重要的影响,厚度增加将导致薄膜内的晶格畸变增大,从而影响薄膜的形核与长大。Greenberg[6]研究了不同化合物配比的CdZnTe合金的升华热力学性质。在标准大气压下,1123K时CdZnTe发生升华,随着温度的升高,由于CdTe的优先升华大量缺失,

5、CdZnTe合金会向ZnTe变化。因此,需要选择合适的温度和蒸气压,确保制备得到的薄膜中不含CdTe和ZnTe。本文利用真空蒸发法,研究在薄膜沉积初期,即膜厚500nm以下时的结构与形貌变化。并采用Zn含量较高的CdZnTe多晶粉料做蒸发源,以便更好地控制各组分的分压[7]。2.实验实验采用本实验室合成的高纯CdZnTe多晶粉料为蒸发源[8],以ITO玻璃为衬底。衬底采用0.1%(m/m)的NaOH溶液进行超声清洗,以去除无机杂质。然后进一步采用丙酮和去离子水分别超声清洗,以去除有机杂质,最后用

6、N2吹干后放入真空腔室。采用AMBIOS2XP2型台阶仪对制备的CdZnTe薄膜厚度进行了测试。采用OXFORDISISX射线能谱仪测试了薄膜中的各组分含量。采用PANalytiecalX’pertPRO型X射线衍射仪对CdZnTe薄膜的晶体结构进行了分析,射线入射方式为掠射,入射角为1°。采用SeikoSPI3800-SPA-400原子力显微镜观察了薄膜的表面形貌。3.结果与讨论3.1薄膜厚度与成分薄膜的厚度与成分随沉积时间的变化如表1所示。表中同时给出了CdZnTe多晶粉末(蒸发源)的成分。

7、表1CZT多晶薄膜与原料中各元素含量及膜厚随沉积时间变化实测结果Table1Thethicknessandcompositionofthefilmsandthecompositionofsource沉积膜时间厚(min)(nm)Cd(at.%)成分Zn(at.%)Te(at.%)(Cd+Zn)/Te原料//41.79(±0.99)8.47(±1.27)49.74(±1.83)1.0CZT-11510018.50(±3.18)10.69(±2.30)70.69(±1.71)0.4CZT-23030

8、027.48(±2.36)11.39(±1.75)61.13(±3.32)0.8CZT-34550036.47(±1.95)9.81(±1.51)53.72(±2.81)0.9结果表明,当沉积时间分别为15min,30min和45min时,薄膜厚度依次分别约为100nm、300nm和500nm。薄膜中的成分配比偏离原料中的配比,呈现不同程度的富Te倾向。随着沉积时间的延长,薄膜中的成分向原料化学配比逼近。CZT-1、CZT-2薄膜中的Te含量超出CdZnTe的固溶范围,不满足化学键的平衡原则。在

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