《工艺矿物学》考试重点

《《工艺矿物学》考试重点》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。

1、《工艺矿物学》考试重点（待修改）一、名词解释1.工艺矿物学：是以工业固体原料及其加工产物的矿物学特征和加工时组成矿物的性状为研究目标的边缘性科学。2.自然光：在垂直光波传播方向的平面内作任意方向的振动，各个振动方向的振幅相等。3.偏光：只在垂直光传播方向的某一固定方向上振动的光波，称平面偏振光，简称偏振光或偏光。4.偏光化作用：使自然光转变为偏光的作用称为偏光化作用5.均质体： 等轴晶系矿物和非晶质物质在各方向的光学性质相同，称为光性均质体，简称均质体。6.非均质体： 中级晶族和低级晶族的矿物其光学性质随方向而发生变化，称为光性非均质体，简称非均质体，绝大多数矿物属于非均质体。7.

2、光率体：光波在晶体中传播时，折射率值随光波振动方向变化的一种立体几何图形。8.双折射：光波射入非均质体，除特殊方向外，都要发生双折射，分解形成振动方向不同、传播速度不同、折射率值不等的2个偏光9.光轴：光波沿非均质体的特殊方向入射时(如沿中级晶族晶体的Z轴方向)，不发生双折射，不改变入射光波的振动特点和振动方向，这个特殊方向称为光轴。10.矿物的颜色： 矿物的颜色是由光波透过矿片时经矿物的选择性吸收后产生的11.多色性 ：矿物的颜色随光波振动方向的不同而发生改变的现象。12.  吸收性： 矿物的颜色深浅发生变化的现象 13.矿物的边缘： 在薄片中2种折射率不同的物质接触处，光线透过

3、时可看到比较黑暗的边缘，称为矿物的边缘14. 贝克线：在矿物的边缘附近可看到一条比较明亮的细线，升降镜筒时亮线移动，该亮线称为贝克线或光带。 15.糙面： 在单偏光镜下观察矿物的表面时，某些矿物表面比较光滑，某些矿物表面较为粗糙，呈现麻点状，好像粗糙皮革，这种现象称为糙面。16.突起： 在薄片中，不同矿物表面好像高低不同，某些矿物表面显得高一些，某些矿物则显得低平一些，这种现象称为突起17.消光现象： 矿片在正交偏光镜间变黑暗的现象，称为消光现象18. 消光位： 非均质体在正交偏光镜间处于消光时的位置称为消光位 19.干涉色谱表：根据光程差公式R=d(Ng-Np)，把公式中光程差与

4、切片厚度、双折射率三者之间的关系，用图表方式表示出来，这种图表称为色谱表20. 补色法则(消色法则)： 在正交偏光镜间放置2个非均质体任意方向的切片，在45度位置时，光通过两切片后总的光程差的增减法则，称为补色法则，又称消色法则。 21.补色器：又称试板或消色器。常用的类型有石膏试板、云母试板、石英楔3种。22.反射器:反射器是垂直照明器中重要的部件，其作用为将来自进光管的水平入射光垂直向下反射，透过物镜达到光片表面。常用的反射器有玻片式和棱镜式两种。23. 反射率:反射率是表示矿物磨光面反光能力的参数，用符号R表示. 指反光显微镜下,垂直入射光经矿物光面反射后的反射光强度(Ir)

5、与原入射光强度(Ii)的比率，用百分数表示，即：R=Ir/Ii*100% 24.双反射:矿物反射率随晶体方向而变化，当旋转物台时，矿物亮度发生改变，反射率随方向而变化的现象称为矿物的双反射。25.反射色：矿物光片在单偏光镜下呈现的颜色称为矿物的反射色。26.反射多色性：矿物反射色随光性方位而变化的现象称为反射多色性27.内反射: 当光线照射到具有一定透明度的矿物光片表面时，有一部分光线折射透入矿物内部，遇到矿物内部的某些界面(如解理、裂隙、空洞、晶粒、包裹体等)，光线被反射出来或散射开，该现象称为矿物的内反射。28.晶形:  晶体的天然几何多面体外形称为晶形。 29.解理：矿物在外

6、力作用下沿晶格中一定方向发生破裂的固有性质称为解理，沿解理裂开的平面叫解理面。30. 双晶: 2个或多个同种晶体按一定的对称规律形成的规则连生体，称为双晶。 31. 环带: 有些矿物的晶粒内部，沿晶面方向有一系列环状的纹线和条带 32.分离矿物定量法： 利用待测矿物与原料中其他矿物性质的差异，将待测矿物从原料中分离出来而进行定量的一种方法33.显微镜下矿物定量：是从待测矿物原料中选取少量有代表性的样品，加工制备成光片或薄片，在显微镜下通过测定不同矿物在光片或薄片上所占的比例，达到矿物定量的目的。34. 二次电子：在单电子激发过程中,被入射电子轰击出来的核外电子，称为二次电子。 35

7、.俄歇电子：从距样品表面小于1nm深度范围内发射的并具有特征能量的二次电子。36.背散射电子：电子射入试样后，受到原子的弹性和非弹性散射，有一部分电子的总散射角大于90度，会新从试样表面逸出，这种电子为背散射电子，这个过程称为背散射。37. 电子探针微区分析（EPMA或EPA）：是一种微区化学成分分析仪器。它将电子光学技术和X射线光谱技术有机结合起来，使矿物中元素的定性和定量分析的空间分辨率达到微米级水平。 38.x射线衍射物相分析：将待测的单相或多相物质进行x射线衍