超细银粉的国内标准04

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1、超细银粉的国内标准前言本标准代替GB/T1774-1995《超细银粉》。本标准与GB/T1774-1995相比，主要有如下变化：——将原国家标准表1、表2中超细银粉的产品牌号删除，即把产品牌号FAgH-1、FAgH-2、FAgH-3、FAgH-4改为编号1、2、3。——增加了粒径特征参数D10、D50、D90，微粒尺寸分布中D90表示90%的微粒，D50表示50%的微粒，D10表示10%的微粒。——删除了原国家标准表2中的平均粒径尺寸。——对超细银粉的松装密度和振实密度进行了合理调整，见本标准表2。——采用国家标准GB/T10977.1

2、-2003《粒度分析激光衍射法》对超细银粉的粒度进行测量，并标明粒径特征参数。——另外根据电子产品无铅、无镉化的国际趋势，增加有害杂质元素Cd的最高允许量为0.001%。——本标准中增加了烧损率、比表面积、微粒尺寸分布等要求。本标准的附录A为规范性附录。本标准由中国有色金属工业协会提出。本标准由全国有色金属标准化技术委员会归口。本标准有贵研铂业股份有限公司负责起草。本标准起草人：赵玲、刘继松、黄富春、陈伏生、马晓峰。本标准由全国有色金属标准化技术委员会负责解释。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：——GB/T1774-1988、GB/

3、T1774-1995。超细银粉1　范围本标准规定了超细银粉的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存和合同或订货单。本标准适用于电子工业用超细银粉。2　规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T1773片状银粉GB/T5060金属粉末松装密度的测定第二部分斯柯特容量计法GB/T5162

4、金属粉末—振实密度的测定GB/T19077.1粒度分析激光衍射法GB/T15555.2固体废物铜、锌、铅、镉的测定3　产品分类根据超细银粉粒径（D10、D50、D90）尺寸不同及比表面积不同，产品分成三类，其编号分别表示为：1、2、3。4　要求4.1　超细银粉的化学成分应符合表1的规定。表1　超细银粉的化学成分单位为质量百分比编号Ag含量不小于杂质含量，不大于PtPdAuRhIrCuNiFePbAlSbBiCd杂质总量1299.950.0020.0020.0020.0010.0010.010.0050.010.0010.0050.001

5、0.0020.0010.053注：银含量为百分之百减去表1中杂质实测量总量的余量。4.2　超细银粉的比表面积、粒径、松装密度、振实密度表2的规定。需方若对超细银粉有特殊要求时，供需双方可另行商定。表2　比表面积、粒径、松装密度、振实密度编号比表面积m2/g粒径(D10)μm粒径(D50)μm粒径(D90)μm松装密度g/cm3振实密度g/cm31>2.5<0.08<0.2<0.80.7～2.51.3～4.521.2～2.5<0.20.2～2.0<120.6～1.91.2～3.03<1.2<1.02～7<160.9～2.21.5～3.54

6、.3　外观超细银粉为球形或近似球形的金属粉末，色泽应均匀，无肉眼可见夹杂物。5　试验方法5.1　超细银粉化学成分分析方法按GB/T1773附录A及GB/T15555.2的规定进行。5.2　超细银粉比表面积的测定，按附录A的规定进行。5.3　超细银粉粒径（D10、D50、D90）的测定按GB/T19077.1的规定进行。5.4　超细银粉松装密度的测定，按GB/T5060的规定进行。5.5　超细银粉振实密度的测定，按GB/T5162的规定进行。5.6　超细银粉形态用扫描电镜进行观察。5.7　外观采用目视进行检查。6　检测规则6.1.1　产品

7、应由供方检验部门进行检验，保证产品质量符合本标准（或订货合同）的规定，并填写质量证明书。6.1.2　需方应对收到的产品按本标准的规定进行复验。复验结果与本标准（或订货合同）的规定不符时，应在收到产品之日起三个月内向供方提出，由供需双方协商解决。如需仲裁，可委托双方认可的单位进行检验，仲裁取样应由供需双方在需方共同进行。产品应没有启封。每批产品应由供方质检部门进行检验，保证产品质量符合本标准的规定，并填写产品质量证明书。6.1.3　仲裁取样按下述规定进行：在清洁条件下，每批产品在大致均匀的三个点上抽取份样，经合并混均匀后，分成三个平行试样

8、。将其中一个平行试样用四分法缩分至试样所需量，分别进行检验。6.1.4　三个试样的分析检验结果中，即使有一个试样的结果不合格，也应从该批产品中取双倍试样对该不合格项目进行复验，若该项结果仍不合格，则该批产品