采用agilent 1200系列液相色谱系统进行药物杂质分析

《采用agilent 1200系列液相色谱系统进行药物杂质分析》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。

1、采用Agilent1200系列液相色谱系统进行药物杂质分析概述引言在日常质量控制和质量保证工作中，药物中的杂质分析从初步筛选开始，以使用认证方法结束。在药物价值传递链上，药物杂质分析日益成为了一项具有挑战性的任务。本汇编就高分离度快速液相色谱(RRLC)与质谱联用如何用于药物中杂质分析和定性提供一个指南，以提高您的工作效率。综述了安捷伦最近的一些有关药物中杂质分析的应用文摘。这些文摘以详细摘要的形式介绍，若需深入阅读全文，您可以从下面的网站下载：www.agilent.com/chem/library。药物中的杂质通常，从两个方面关注药物中的杂

2、质：•化学方面包括对杂质的种类和鉴定，涉及到如何生成报告、如何设定适当的指标，以及描述分析步骤。•更重要的是病人的安全方面，当新药上市时，这些病人将要使用最终产品。在这方面，比较研究和基因毒性测试变得越来越重要。从法规机构如美国食品和药品管理局(FDA)和EMEA等的观点看，药物中的杂质分成以下几类：•有机杂质（与工艺和药物相关）•无机杂质•残留溶剂本汇编提供的应用文摘系列“使用Agilent1200系列液相色谱系统分析杂质”主要讨论有机杂质：•第一部分：采用LC/MS鉴定杂质的结构(5989-5617EN)•第二部分：采用制备HPLC分离杂质

3、(5989-5618EN)•第三部分：为方法开发快速确定分析条件(5989-5619EN)•第四部分：超快速方法的方法认证(5989-5620EN)•第五部分：附有完整步骤的QA/QC应用举例(5989-5621EN)在第15页的附录中有详细的无机杂质和残留溶剂文献.示例研究本汇编中有5个应用文摘说明了在药物开发和商品化过程中典型分析方法开发和QA/QC实验室的分析流程，即，在药物活性成分中分析测定与生产有关的杂质。在研究的初期，采用高分离度快速液相色谱，通过加快分析速度，并与飞行时间质谱联用，提供准确的质量信息，这就大大改进了分析过程。有机杂

4、质来源有多种、浓度各不相同，它们最可能来源于药物活性物质的合成和储存过程，也可能来自最终药物产品的制造工艺和/或储存过程，可能来自于：•起始原材料•副产物•中间体•降解产物•试剂和配体，也有来自包装材料的。第12页共12页根据FDA的指南“药物中的杂质”，含量低于0.1%的杂质一般不必进行鉴定。然而，对于那些可能有异常作用、0.1%以下浓度也可产生毒性或药理作用的潜在杂质就应当进行鉴定。在所有情况下，杂质都应该定性。虽然现实中一般把0.05%到0.09%的分析结果取近似值（即0.1%），但本指南的目的，在确定是否对杂质进行鉴定时，这样的值不应当

5、近似为0.1%。总之：为了减少潜在的副作用，需要对杂质进行灵敏的测定，而飞行时间(TOF)质谱能够提供高灵敏度测定和准确质量鉴定，是鉴定痕量杂质的首选方法。副产物分析本出版物介绍的分析步骤主要涉及原料、副产物和中间体的分析，以及如何在鉴定过程中及早有效地检测它们。关于包装材料和有机挥发性杂质(OVI)分析的详细说明可参看附录。杂质分析遵循典型的方法开发流程，方法优化／转移以及最后在GMP条件（图1）下常规使用。安捷伦科技长期以来致力于为制药行业的分析化学家提供合适的仪器，以持续提高分析速度，并实现更高灵敏度的药物分析。我们希望这个汇编是有用的，

6、能够提供保证病人安全的方法。1.采用LC/MS鉴定杂质的结构引言在现代制药业、药物开发和制造中，准确地鉴定微量杂质和副产物是极端重要的，因为杂质和副产物可能对人体有潜在的毒性。在药物研发的各个阶段分析杂质是非常重要的，而且是整个工艺的瓶颈。例如，本应用文摘讨论了用高分离度快速液相色谱离子阱和电喷雾oaTOF质谱鉴定药物合成过程中的副产物。实验仪器Agilent1200系列高分离度快速液相系统(RRLC)，Agilent6210飞行时间质谱Agilent6330离子阱质谱第12页共12页方法结果与讨论合成的主要产物是药物和其非对映异构体，微量杂质

7、A（图1）。其它的可能杂质是降解产品（杂质B,第12页共12页C和D）以及合成的离析物（杂质E和F）。要在一个药物化合物中发现所有可能的杂质，很重要的一点是使用几种正交的分离技术，比如液相色谱、气相色谱或薄层色谱。仅用LC/UV分析，合成中使用的离析物与它们的保留时间对比证明杂质F是3-bromanisole（图1）。离析物杂质E用UV和ESI-MS都没有检测到。所以，又用GC-FLD分析了样品，可以检测到该化合物，并通过保留时间比较得到了证实（数据略）。为证实所有杂质的分子结构，进行了LC/MS-TOF分析，以测定准确的分子量并计算经验分子式

8、。该实验可在低ppm下，以足够准确的质量确证所有建议的分子式。要获得有关杂质更详细的结构信息，就要进行离子阱质谱分析（图2）。非对映异构体杂质(A)在