数字电子技术实验讲义

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1、目录实验一TTL各种门电路功能测试2*实验二组合逻辑电路分析6实验三3/8译码器10实验四四位二进制全加器14实验五数据选择器实验16*实验六触发器实验19*实验七计数器实验22*实验八D/A转换实验28*实验九A/D转换实验31设计性实验34实验一节日彩灯（设计性实验）34实验二六人智力抢答（设计性实验）35附录芯片管脚及功能介绍36第41页共41页实验一TTL各种门电路功能测试一、实验目的：1、熟悉TTL各种门电路的逻辑功能及测试方法。2、熟悉万用表的使用方法。二、实验设备及器件1.SAC-DS4数字逻辑实验箱1个2.数字万用表1块3.74LS20双四输入与非门1片4.74LS

2、02四二输入或非门1片5.74LS51双2-3输入与或非门1片6.74LS86四二输入异或门1片7.74LS00四二输入与非门2片三、实验内容与步骤1、与非门逻辑功能测试用74LS20双四输入与非门进行实验，其引脚图见附录。(1)按图1-1接线。图1－1(2)按表1-1要求用开关改变输入端A、B、C、D的状态，借助指示灯和万用表，把测试结果填入表1-1中。第41页共41页表1-1输入输出FABCD电压（V）逻辑状态000000010011011111112、或非门逻辑功能测试用74LS02二输入四或非门进行实验，其引脚图见附录。(1)按图1-2接线。图1-2(1)按表1-2的要求用

3、开关改变输入量A、B的状态，借助指示灯和万用表观测各相应输出端F的状态，并将测试结果填入表1-2中。表1-2输入输出FAB电压(V)逻辑状态000110113、与或非门逻辑功能测试用74LS51双23输入与或非门进行实验，其引脚图见附录。(1)按图1-3接线。第41页共41页图1-3(1)按表1-3要求用开关改变输入量A、B、C、D的状态，借助指示灯和万用表观测各对应输出端F的状态，并把测试结果记入表1-3中。表1-3输入输出FABCD电压(V)逻辑状态000000010011011111114、异或门逻辑功能测试用74LS86二输入四异或门进行实验，其引脚图见附录。(1)按图1-

4、4接线。图1-4第41页共41页按表1-4要求用开关改变输入量A、B的状态，借助指示灯和万用表观测各对应输出端F的状态，并把测试结果填入表1-4中。表1-4输入输出FAB电压(V)逻辑状态000110115、利用74LS00与非门实现“与电路”、“或电路”、“或非电路”、“异或电路”要写出各种电路的逻辑表达式和真值表，画出逻辑图并在实验仪上加以验证。四、实验要求1、将实验结果填入各相应表中。2、分析各门电路的逻辑功能。3、回答下面问题(1)与非门一个输入端接连续脉冲，其余端是何状态时允许脉冲通过，是何状态时禁止脉冲通过？(2)为什么异或门又称可控反相门？4、独立完成实验，交出完整的

5、报告。第41页共41页*实验二组合逻辑电路分析一．实验目的1.掌握组合逻辑电路的分析方法2.验证半加器、全加器、半减器、全减器、奇偶校验器、原码/反码转换器逻辑功能。二、实验设备及器件1.SAC-DS4数字逻辑实验箱1个2.万用表1块3.74LS00四二输入与非门3片4.74LS86四二输入异或门1片三、实验内容与步骤1、分析半加器的逻辑功能（1）用两片74LS00（引脚见附录）按图4－1接线。74LS00芯片14脚接+5V,7脚接地。图4－1（2）写出该电路的逻辑表达式，列真值表（1）按表4-1的要求改变A、B输入，观测相应的S、C值并填入表4-1中。（2）比较表4-1与理论分析

6、列出的真值表，验证半加器的逻辑功能。表4-1输入输出ABSC000110112、分析全加器的逻辑功能1）用三片74LS00按图4-2接好线。74LS00芯片14脚接+5v,7脚接地.第41页共41页图4-22）析该线路，写出Sn、Cn的逻辑表达式，列出其真值表。3）表4-2利用开关改变An、Bn、Cn-1的输入状态，借助指示灯或万用表观测Sn、Cn的值填入表4-2中。4）表4-2的值与理论分析列出的真值表加以比较，验证全加器的逻辑功能。表4-2输入输出AnBnCn-1SnCn0000010100111001011101113、分析半减器的逻辑功能（1）用两片74LS00按图4-3接

7、好线。74LS00芯片14脚接+5v,7脚接地.图4-3（2）分析该线路，写出D、C的逻辑表达式，列出真值表。（3）按表4-3改变开关A、B状态，观测D、C的值并填入表4-3中。（4）将表4-3与理论分析列出的真值表进行比较，验证半减器的逻辑功能。表4-3输入输出ABDC000110114、分析全减器的逻辑功能（1）用一片74LS86和两片74LS00按图4-4接线。各片的14脚接+5V,7脚接地。第41页共41页图4-4（2）分析该线路，写出Dn、Cn的逻辑表达式，