数字电子技术实验讲义

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1、目录实验一TTL各种门电路功能测试.......................................................2*实验二组合逻辑电路分析................................................................6实验三3/8译码器................................................................................10实验四四位二进制全加器...............................

2、...................................14实验五数据选择器实验......................................................................16*实验六触发器实验..........................................................................19*实验七计数器实验......................................................................

3、22*实验八D/A转换实验....................................................................28*实验九A/D转换实验.....................................................................31设计性实验..............................................................................................34实验一节日彩灯（设计性实验）...

4、...................................................34实验二六人智力抢答（设计性实验）..............................................35附录芯片管脚及功能介绍..............................................................36第1页共41页实验一TTL各种门电路功能测试一、实验目的：1、熟悉TTL各种门电路的逻辑功能及测试方法。2、熟悉万用表的使用方法。二、实验设备及器件1.SAC-DS4数字逻辑实验箱1

5、个2.数字万用表1块3.74LS20双四输入与非门1片4.74LS02四二输入或非门1片5.74LS51双2-3输入与或非门1片6.74LS86四二输入异或门1片7.74LS00四二输入与非门2片三、实验内容与步骤1、与非门逻辑功能测试用74LS20双四输入与非门进行实验，其引脚图见附录。(1)按图1-1接线。图1－1(2)按表1-1要求用开关改变输入端A、B、C、D的状态，借助指示灯和万用表，把测试结果填入表1-1中。第2页共41页表1-1输入输出FABCD电压（V）逻辑状态000000010011011111112、或非门逻辑功能测试用74LS02二输入四

6、或非门进行实验，其引脚图见附录。(1)按图1-2接线。图1-2(2)按表1-2的要求用开关改变输入量A、B的状态，借助指示灯和万用表观测各相应输出端F的状态，并将测试结果填入表1-2中。表1-2输入输出FAB电压(V)逻辑状态000110113、与或非门逻辑功能测试用74LS51双23输入与或非门进行实验，其引脚图见附录。(1)按图1-3接线。第3页共41页图1-3(2)按表1-3要求用开关改变输入量A、B、C、D的状态，借助指示灯和万用表观测各对应输出端F的状态，并把测试结果记入表1-3中。表1-3输入输出FABCD电压(V)逻辑状态000000010011

7、011111114、异或门逻辑功能测试用74LS86二输入四异或门进行实验，其引脚图见附录。(1)按图1-4接线。图1-4第4页共41页(2)按表1-4要求用开关改变输入量A、B的状态，借助指示灯和万用表观测各对应输出端F的状态，并把测试结果填入表1-4中。表1-4输入输出FAB电压(V)逻辑状态000110115、利用74LS00与非门实现“与电路”、“或电路”、“或非电路”、“异或电路”要写出各种电路的逻辑表达式和真值表，画出逻辑图并在实验仪上加以验证。四、实验要求1、将实验结果填入各相应表中。2、分析各门电路的逻辑功能。3、回答下面问题(1)与非门一个输

8、入端接连续脉冲，其余端是何状态时允许脉