集成电路测试仪相关资料

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1、集成电路测试仪一、概述：集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备，集成电路的分类很多，主要大的分类有数字集成电路和模拟集成电路等，按集成电路的分类，集成电路测试仪也可以分为：数字集成电路测试仪和模拟集成电路测试仪。按功能分类：可以分为集成电路功能测试仪和集成电路参数测试仪；按形式分：便携式集成电路测试仪和台式集成电路测试仪。功能测试：是对集成电路的功能进行判定，看是否功能失效。参数测试：是对集成电路的各项参数进行测试，看测试读取的参数是否符合ic的设计要求。市场上常见的便宜的集成电路测试仪大多是功

2、能测试，由于参数测试仪的生产成本较高，一般参数测试仪的价为都在几万，价位的高低一般取决于参数测试的精度。二、型号举例：1、ICT-33C数字IC测试仪参考价格：4776元ICT-33C+数字IC测试仪参考价格：5220元主要功能器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。内部RAM数据修改：I

3、CT?/FONT>33C可从键盘对自己内部RAM中的数据进行随机修改。EPROM、EEPROM器件读入：ICT?/FONT>33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入并保存。EPROM、EEPROM器件写入：ICT?/FONT>33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM器件中，并自动校验。可测器件（1300多种）CMOS40系列：103种。CMOSMC140系列：103种。CMOS45系列：60种。CMOSMC145系列：60种。光耦合器系列：133种。

4、TTL74/54系列：714种。TTL75/55系列：82种。数码管系列：0.5吋共阳[001]；共阴[002]；0.3吋共阳[003]；共阴[004]；0.7吋共阳[005]；共阴[006]。常用RAM系列：211221142016611662646225660256628128EEPROM系列：281628172864282562804029101EPROM系列：271627322764271282725627512微机外围电路系列：8155815682558253825982128282828382

5、16881682438226820582868287682068216880688868876889681065208254825182798708684087188728Z8OCTC(8O2)常用单片机系列：8031803280518052804880398035804987518752其他系列：200220032004348634873459263126322633183119083391922933935555563242210028022803280496379638783178328831883

6、23446MC1413(2003)MC1416(2004)MC14160(40160)DG201MC14161(40161)MC14162(40162)MC14163(40163)TIL308MC14189(75189)2902(324)8T26(826)AD75062、SIMI-100IC测试仪参考价格：12160元测试范围及测试品种：28Pin　54系列；74系列；　4500系列；4000系列；　RAM256KBIT　EPROM64KBIT　C00系列；产品主要性能：　在功能测试的基础上测试器件的输入

7、端注入电流。　测试器件的功耗电流。　测试器件的输入端交叉漏电流。　查找未知芯片型号。　测试器件的输出端：三态“及”OC“门。可以单次测试，也可以循环测试。　测试器件的输出负载电流。　可自动识别74系列中的CMOS（如：74C，74HC，74HCT等）。测试模式：　模式O：全组合参数测试。　模式1-C：操作与模式O相同，但各有其不同的测试参数数值。　模式D：任选输入负载电流及测试电源和输入电流测试。　模式E：自检。内容包括计算机部分，显示，键盘及测试管脚电路。　模式F：自编程测试.Simi-100数字集成电

8、路多值逻辑测试仪　测试电源拉偏状态下，输出电平加载测试。　对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时，完成真值表功能测试。　真值表功能测试的同时，完成“三态”（高阻状态）漏电流测试。　对IC输入电流、功耗电流测试。　输入漏电流及交叉漏电流测试。　测试过程无须人工干预。　用户可以自选测试模式，使用方便、操作简洁。　可自动识别74系列中的CMOS器件。　可以查找未知IC的型号。3、英国AT-256全品种集成电路测试仪此款测试仪除具