aec_q101中文标准规范

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1、AEC-Q101-Rev–D1September6,2013汽車電子委員會組件技術委員會基于离散半导体元件应力测试认证的失效机理内容列表Page21of21AEC-Q101-Rev–D1September6,2013汽車電子委員會組件技術委員會AEC-Q101基于离散半导体元件应力测试认证的失效机理附录1:认证家族的定义附录2:Q101设计、构架及认证的证明附录3:认证计划附录4:数据表示格式附录5:最小参数测试要求附录6:邦线测试的塑封开启附录7:AEC-Q101与健壮性验证关系指南附件AEC-Q101-001:人体模式静电放电测试AEC-Q101-002:人体模式静电放电测试(废止)

2、AEC-Q101-003:邦线切应力测试AEC-Q101-004:同步性测试方法AEC-Q101-005:静电放电试验–带电器件模型AEC-Q101-006:12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述感谢Page21of21AEC-Q101-Rev–D1September6,2013汽車電子委員會組件技術委員會任何涉及到复杂的技术文件都来自于各个方面的经验和技能。为此汽车电子委员会由衷承认并感谢以下对该版文件有重大贡献的人：固定会员:RickForsterContinentalCorporationMarkA.KellyDelphiCorporationDrewHoffmanGentexCo

3、rporationSteveSibrelHarmanGaryFisherJohnsonControlsEricHonosowetzLearCorporation技术成员:JamesMolyneauxAnalogDevicesJoeFazioFairchildSemiconductorNickLycoudesFreescaleWernerKanertInfineonScottDanielsInternationalRectifierMikeBuzinskiMicrochipBobKnoellNXPSemiconductorsZhongningLiangNXPSemiconductorsMa

4、rkGabrielleONSemiconductorTomSiegelRenesasTechnologyTonyWalshRenesasTechnologyBasselAtallahSTMicroelectronicsArthurChiangVishayTedKrueger[Q101TeamLeader]Vishay其他支持者:JohnSchlaisContinentalCorporationJohnTimmsContinentalCorporationDennisL.CerneyInternationalRectifierReneRongenNXPSemiconductorsThoma

5、sHoughRenesasTechnologyThomasStichRenesasTechnology本文件是专门的纪念：TedKrueger(1955-2013)MarkGabrielle(1957-2013)注意事项AEC文件中的材料都是经过AEC技术委员会准备、评估和批准的。Page21of21AEC-Q101-Rev–D1September6,2013汽車電子委員會組件技術委員會AEC文件是为了服务于汽车电子工业，无论其标准是用在国内还是国际上，都可排除器件制造商和采购商之间方面的不一致性，推动产品的提高和可交换性，还能帮助采购商在最小的时间耽搁内选择和获得那些非AEC成员的合适

6、的产品。AEC文件并不关注其采纳的内容是否涉及到专利、文章、材料或工艺。AEC没有认为对专利拥有者承担责任，也没有认为要对任何采用AEC文件者承担义务。汽车电子系统制造商的观点主要是AEC文件里的信息能为产品的说明和应用提供一种很完美的方法。如果所陈述的要求在本文件中不存在，就不能声称与本文件具有一致性。与AEC相关文件的疑问、评论和建议请登录链接AEC技术委员会网站http://www.aecouncil.com。本文件由汽车电子委员会出版。此文件可以免费下载，但是AEC拥有版权。由于该下载方式，个人需同意不会对该文件索价或转售。在美国印制所有權限保留版权©2013属于汽车电子协会。本

7、文件可自由转载,但未经AEC技术委员许可，本文件禁止任何修改。基于离散半导体元件应力测试认证的失效机理Page21of21AEC-Q101-Rev–D1September6,2013汽車電子委員會組件技術委員會下列划线部分标示了与上版文件的增加内容和区别，几个图表也作了相应的修正，但是这几处的更改并没有加下划线强调。除非这里另有说明，无论新认证或重认证，此标准的生效日期同上面的发布日期。1.范围本文件包含了离散半导体元件（如晶体管，